6J型干涉显微镜干涉条纹的寻找及对比度的调整

调修6J型干涉显微镜,其干涉条纹的寻找和对比度的调整是件很麻烦的工作。本文介绍的方法,经实践证明,过程简便而且能获得对比度令人满意的结果。一、仪器光路和元件相对位置仪器光路如图1。光由白炽灯,经聚光镜2和滤色片3会聚于孔径光栏4上,照亮视场光栏5,孔径光栏位于物镜6和测量物镜9(或参考物镜10)的组合前焦点上,视场光栏位于物镜6的前焦面上,光束经分光板7分为测量光束和参考光束,分别通过物镜9和10到达被测件11和参考镜12,然后返回在分光板上相遇。被测件和参考镜应分别置于物镜9和10的焦面     

金相分析二级人员取证复习参考题(之三)解答

一 填充题解 1 暗场光栏、环形聚光镜和暗场聚光镜 2 提高显微镜的实际分辨率、改善图象的衬度、鉴别非金属夹杂物 3 透明度、固有色彩 4 晶粒,非金属夹杂物     

低真空电子束焊接机的真空系统

本文描述了一台HDZ-6 A型中压低真空电子束焊接机的真空系统,给出了枪室和焊接室之间压差的近似计算方法。计算和试验表明,枪室和焊接室之间设置一个带有φ3毫米光栏的气阻管,可保证枪室和焊接室之间压差达两个数量级以上。本焊机能在8×10~(-2)托到1×10~(-2)托压强范围内稳定工作。     

圆钢直径在线测量仪及其误差分析

１测量原理热轧圆钢直径在线测量仪采用光学非接触法在线测量轧制产品水平方向和垂直方向的直径几何尺寸，以供轧机的随时调整。图１为仪器的工作原理图。光源１经聚光镜２、光栏３、透镜４形成平行光束，由半透半反镜５分成反射光路和透射光路。反射光路经分光镜１６和反射镜２１形成两束平行光照射到被测工件的上下边缘，通过物镜１８和２３成像在ＣＣＤ器件２０和２５上，由影像在ＣＣＤ上所覆盖的像素数加两平行光间距Ｄ０即为工件垂直方向直径大小。同理，透射光路亦可测得工件水平方向的直径大小。由图１可知，被测工件的直径Ｄ为：Ｄ…     

光阑孔径在显微摄影中的作用

光学显微摄影中,影响清晰度的因素很多,如:调焦的准确性、视力屈光度的校正、标本的质量、光线的强弱、物镜的质量和感光片的解像率等.但是,还有一个影响清晰度的重要因素--聚光镜光阑的孔径大小调节却往往被人们忽视了,使拍出的显微照片时而清晰,时而模糊,而不知道原因在哪里.其实造成这种情况的原因是没有真正理解聚光镜孔径光阑在显微摄影中的全部功能.因为人们往往把影响光学显微摄影清晰度的因素只归结为调焦、屈光度、标本质量、感光片分辨率和光线强弱等基本操作环节,而没有重视甚至根本没有考虑到聚光镜孔径光阑大小对拍摄清晰度的影响.实际上聚光镜孔径光阑的作用不只是控制显微摄影光源的亮度,同时还具有控制所摄标本"景深"范围的功能.而正是因为人们忽视了这一点,当我们从高倍镜转向低倍镜拍摄时,常常没有按要求及时缩小聚光镜的光阑孔径至低倍镜所需孔径参数,至使低倍视野的景深不够,从而造成低倍物镜所摄照片清晰度较低的现象.     

电子束和接触式曝光机的匹配和混合曝光

Ｉ－线光致抗蚀剂可以同时被电子束和光学曝光系统曝光,在５０ＫＶ加速电压下,其曝光剂量为５０－１００μＣ／ｃｍ＾２,曝光后在０．７％ＮａＯＨ溶液内显影１ｍｉｎ。其灵敏度比ＰＭＭＡ快５倍,分辨率为０．５μｍ。采用两种方法制备了ＧａＡｓＰＨＥＭＴ,首先,用Ｉ线光致抗蚀剂,源、漏及栅的全部都采用电子束曝光,制备了０．５μｍ栅长的ＧａＡｓＰＨＥＭＴ。将源、漏及栅分割成两部分,其中的精细部分由电子束曝光,其余     

威达2倍微距增距镜使用体会

威达２倍微距增距镜使用体会韦树祥这款２倍微距增距镜是威达公司近年来推出的颇为流行的业余型号。全身亚黑色，镜筒前端标有白色的“２×ＭＡＣＲＯＦＯＣＵＳＩＮＧＴＥＬＥＣＯＮＶＥＲＴＥＲ（简称２倍微距增距镜）ＭＣ（多层镀膜）Ｍ／ＭＤ（卡口形式）”等字样。镜...     

电子束照射下钼纳米微粒的形成

使用高分辨透射电子显微镜在室温台上通过电子束照射ＭｏＯ３，制备钼及钼的亚氧化物钠米微粒，实验发现微米级ＭｏＯ３颗粒强度为１０＾２１ｅ／ｃｍ＾２．ｓ的电子束照射下转变为纳米级亚氧化钼，经过电子束的进一步照射后，亚氧化钼转变为钼。这种现象可能是由于电子束的激发作用和通过撞击效应而使原子发生错排引起氧原子分离造成的。     

2.5～10Gb/sHEMTIC全耗尽型光驱动电路中器件性能的研究

主要坑速光纤通信系统中调制器驱动电路ＨＥＭＴ ＩＣ设计开展研究。着重讨论了ＰＨＥＭＴ器件阈值电压、特征频率对外调制驱动电路特性的影响,给出了满足电路性能要求的器件参数范围;对２．５￣１０Ｇｂ／ｓ ＰＨＥＭＴ ＩＣ光驱动电路进行了计算机仿真,眼图模拟结果表明满足２．５￣１０Ｇｂ／ｓ高速光纤通信系统需要。     

液相反应制备纳米锐钛矿相二氧化钛

采用醇盐的乙醇溶液,在７０℃下水解与结晶分步进行,制备了纳米锐钛矿相二氧化钛胶体及粉体．以ＸＲＤ、ＢＥＴ、ＴＥＭ、ＨＲＥＭ、ＴＧ－ＤＴＡ等方法对胶体及粉体进行了表征．高分辨透射电子显微镜分析表明,所得胶体中二氧化钛晶形发育完整,２２０℃处理后粒子平均粒径为９ｎｍ,比表面积 １７１ｍ^２／ｇ．     

NiMn2O4纳米粉体的制备

用溶胶－凝胶法（ｓｏｌ－ｇｅｌ）合成ＮｉＭｎ２Ｏ４纳米级粉体，利用差热分析（ＤＴＡ），热失重（ＴＧ），Ｘ射线衍射（ＸＲＤ），透射电子显微镜（ＴＥＭ）等广阔博征合成过程及纳米粉体的结构，研究结果表明，ＮｉＭｎ２Ｏ４纳米粉体相合成温度比传统固相反应方法合成温度低大约３００℃，粉体的形状呈多面体形。     

微波等离子体化学气相沉积装置的工作原理

微波等离子体化学气相沉积（ＭＰＣＶＤ）是制备金刚石膜的一种重要方法。用简单实验方法给出了ＭＰＣＶＤ装置中微波模式转换、微波与等离子体耦合等工作原理。矩形波导中的ＴＥ１０模式经微波模式转换器转变为同轴线中的ＴＥＭ模式，再由ＴＥＭ模式转变为圆波导的ＴＭ０１模式。ＴＭ０１模式激发低压气体形成等离子体，等离子体严重影响微波模式分布。在国内首次成功运行了５ｋＷ天线耦合石英窗式ＭＰＣＶＤ装置。     

不同工质对吸收式变热器热力性能的影响

吸收式变热器是一种有广阔应用前景的余热回收利用装置,可以有效回收５０％左右的低品位余热,但还需要进一步分析可用左质对和它们相关的性能参数。本以Ｈ２Ｏ／ＬｉＢｒ、ＴＦＥ／ＮＭＰ、ＴＦＥ／Ｅ１８１和ＴＦＥ／ＰＹＲ为工质对,对单级吸收式变热器进行了热力学分析。结果表明Ｈ２Ｏ／ＬｉＢｒ适用于低温热回收,ＴＦＥ／ＮＭＰ、ＴＦＥ／Ｅ１８１和ＴＦＥ／ＰＹＲ适用于高温热回收。     

热场发射扫描电镜中的复合物镜和镜筒内探测系统

为了解释镜筒内探测器对信号发射角衬度反映的依赖,借助光镜像差类比方法解释物镜和探测系统协调工作以探测信号的原理,最后分析了两种当前使用复合物镜的探测系统。以上研究表明,在当代热场发射扫描电镜中,借助物镜的磁场和电场,物镜和探测系统协同能够实现筛分和过滤信号的目的,使用光镜类比可以成功地理解各种镜筒内探测器对信号的接收情况。     

PPO/SEBS-g-MAH共混体系的冲击断面和微观形变过程

用扫描电子显微镜（ＳＥＭ）观察了ＰＰＯ／ＳＥＢＳ和ＰＰＯ／ＳＥＢＳ－ｇ－ＭＡＨ共混物的常温缺口冲击断面,发现ＰＰＯ／ＳＥＢＳ共混体系的冲击断布有大量韧窝;ＰＰＯ／ＳＥＢＳ－ｇ－ＭＡＨ共混体系由呈现中心为棒,四周为环的冲击断面形貌,对ＰＰＯ／ＳＥＢＳ－ｇ－ＭＡＨ冲击断的应力发白区的ＳＥＭ观察结果表明在冲击断面下方,合金发生大的取向;ＴＥＭ的观察结果显示在应力发白区内,弹性体周围存在大量的微穴,未发现     

强流轴向电子枪的设计与计算

一、导言 随着真空技术和电子技术的飞速发展,近年来电子束热源已被广泛地运用到真空应用设备的各个方面。如对稀有、难熔、高纯金属的加工和熔炼等。电子枪的结构型式可以分为:近距环枪(近环),远距环枪,横向枪(复式横向和单式横向),轴向枪 (Pierce gun)。但在大功率枪中主要有两种类型:环形枪和轴向枪。前者产生环形电子束;后者产生的电子束呈柱形或锥形,由于其有着一系列优点,使枪的寿命大大延长,故被国内外广为采用。 目前,有关强流轴向电子枪的计算方法,选用公式还没有总结出一套完整的统一的设计计算程序。理论计算是近似的,“类比”…     

PC/PET/PE-g-MAH三元共混物的研究

用ＤＳＣ、ＰＬＭ和ＳＥＭ研究了ＰＥｇＭＡＨ对ＰＣ／ＰＥＴ共混体系的相容性、结晶性、结晶形态及相形态的影响。结果表明,ＰＥｇＭＡＨ可以改善体系的相容性,提高ＰＥＴ的结晶能力和速率,改善ＰＣ、ＰＥＴ间的相互分布,且随含量的增加而程度加深。     

深亚微米栅HFET器件工艺研究

通过电子束和接触式曝光相结合的混合曝光方法,并利用复合胶结构,一次电子束曝光制作出具有Ｔ型栅的ＨＦＥＴ（Ｈｅｔｅｒｏｊｕｎｃｔｉｏｎ Ｆｉｅｌｄ－Ｅｆｆｅｃｔ Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）器件,并对０．１μｍ栅长ＨＦＥＴ器件的整套工艺及器件性能进行了研究。形成了一整套具有新特点的ＨＦＥＴ器件制作工艺,获得了良好的器件性能（ｆｔ＝７８ＧＨｚ;ｇｍ＝４４０ｍｓ／ｍｍ）。     

GdSe涂层(CdSe/Ni)的烧结工艺对半导体隔膜电极(SnO_2·P/CdSe/Ni)性能的影响

通过Ｘ射线衍射（ＸＲＤ）、扫描电子显微镜（ＳＥＭ）、透射电子显微镜（ＴＥＭ）和高能电子衍射（ＲＨＥＥＤ）等技术，研究了由蒸发冷凝法制备的ｎ型半导体材料ＧｄＳｅ超细微粒涂层（ＣｄＳｅ／Ｎｉ）的烧结工艺。实验指出，烧结后的ＧｄＳｅ粉体涂层的结晶形态、膜层的致密均匀性以及结晶粒度的尺寸等均与烧结的工艺条件密切相关。将涂在Ｎｉ箔上的ＧｄＳｅ粉体膜层置于氩气氛中，在缓慢升降温的条件下，于４５０～５００℃温度下恒温２ｈ的多次重复烧结，可以获得表面平整致密、在衬底Ｎｉ箔上附着力强的ＧｄＳｅ多晶膜层，以下称ＣｄＳｅ／Ｎｉ为烧结体。将烧结体应用于半导体隔膜电极（（ＳｎＯ２·Ｐ／ＣｄＳｅ／Ｎｉ）中，可有效地改善半导体隔膜电化学伏打电池（ＳＣ－ＳＥＰ电池）的光电化学特性。     

传统光学平直度检查仪的改进

传统光学平直度检查仪/准直仪（如哈量1401型上机HYQ型,分度值为0.005mm/m）是角度/平直度计量领域中应用广泛的一种精密光学仪器。它是利用光学自准直原理进行微小角度测量的光学仪器,具体原理为：光线通过位于仪器物镜焦平面的分划板后,经物镜形成平行光,平行光被垂直于光轴的反射镜反射回来,再通过物镜,在焦平面上形成分划板像,与测量标线重合在同一测量面上,当反射镜倾斜一个微小角度α时,反射回来的光束就倾斜2α,形成光学放大角度作用。