AGILENT的混合信号测试解决方案

1 前言 具有混合信号功能的芯片正越来越多地出现在人们的生活中.通讯领域的MODEM、CODEC和飞速发展的手机芯片,视频处理器领域的MPEG、DVD芯片,带有内嵌的ADC或DAC的微控制器芯片,以及各种DSP、图象处理器、网络转换器和磁盘驱动器芯片,都属于这一类.     

Agilent混合信号测试解决方案-ADC的测试

1前言 模拟/数字信号转换器(ADC)和数字/模拟转换器(DAC)是两种基本的电子应用模块,用于实现模拟和数字信号之间的转换.作为独立器件或者集成到各种混合信号芯片中,广泛的应用于各种电子产品.因此,在对这些混合信号芯片进行测试的时候就要对其中集成的ADC/DAC的性能设计相应的测试方案.     

高速串行工ADC08038及其在微型测试装置中的应用

ＡＤＣ０８０３８Ｊ ８位农次逼近式Ａ／Ｄ转换器,具有串行Ｉ／Ｄ和可配置的高达８个通道的输入多路转换器。本文介绍了它在转换速率,功耗、电源方面的性能特点,给出了功能说明,最后介绍了它在微型测试装置中的应用。     

联华电子选择Agilent 93000 SOC系列测试仪——全球领先的半导体专工厂采用93000进行高速数字信号和混合信号测试

北京，2005年12月8日，安捷伦科技日前宣布，全球领先的半导体专工厂——联华电子（NYSE：UMC，TSE：2303）已经购买一部Agilent 93000 SOC系列测试仪，进行基于结构的高速数字信号和混合信号测试。联华电子将使用93000测试计算设备、PC和游戏控制台使用的大容量复杂SOC。93000系列能够扩容及测试广泛的一系列应用，帮助联华电子降低测试成本，加快其客户的产品开发周期。     

一种实现数模混合电路中ADC测试的BIST结构

针对模／数转换器(ADC)数模混合电路的测试问题，提出了一种内建自测试(BIST)的测试结构，分析并给出了如何利用该结构计算ADC的静态参数和信噪比参数。利用该方法，既可以利用柱状图快速测试ADC的静态参数，又可利用FFT技术实现对ADC频域参数的分析，使得测试电路简单、紧凑和有效。     

用于测试混合信号测试的任意波形发生器

AWG5000系列任意波形发生器基于与AWG7000系列相同的平台。客户可以使用一台AWG5000，生成高分辨率信号，在测试混合信号设备中模拟电路和数字基带电路和中间频率（IF）电路，提高测试效率，降低测试成本。     

惠瑞捷推出消费类电子产品混合信号测试解决方案

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司的V93000测试系统推出消费类电子产品的混合信号测试解决方案，可针对各种高集成度的消费性电子产品组件，进行晶圆测试（Wafer Sort）及终程测试（Final Test）。[第一段]     

SoC测试的发展趋势及挑战--安捷伦科技93000 SoC测试系统的解决方案

1前言随着半导体科技的进步,我们已经可以把越来越多的电路设计在同一个芯片中,这里面可能包含有中央处理器(CPU)、嵌入式内存(Embeddedmemory)、数字信号处理器(DSP)、数字功能模块(Digitalfunction)、模拟功能模块(Analogfunction)、模拟数字转换器(ADC,DAC)以及各种外围配置(USB,MPEG,…)等等,这就是我们所说的SoC(系统单芯片)技术。目前,很多具有中央处理器功能的消费性电子产品,如视频转换器(Set-topbox)、移动电话(mobilephones)和个人数字助理(PDA)等等,都可称之为SoC芯片。这类产品不仅在市场上占有重要地位,且其销售量…     

消费类电子芯片的混合信号测试解决方案

随着经济社会的发展,人们对消费类电子的多媒体功能要求越来越高,具有混合信号功能的芯片正越来越多地出现在人们的生活中。通讯领域中的MODEM、CODEC和飞速发展的手机基带芯片、视频处理器领域的MPEG、DVD芯片,以及各种图象处理器、网络转换器和磁盘驱动器芯片,都属于这一类。针对这一类芯片的测试,我们称之为混合信号测试。本文主要讨论这类芯片的测试特点,及针对这些测试特点Advantest的新一代测试平台T2000 LSMF解决方案。     

混合信号测试解决方案

简介 当前电子产品的复杂性正随着数字电路和串行总线越来越多而提高,确定最优测试设备的边界正变得模糊.工程师正在处理"混合信号"设计,其中包含模拟技术和数字技术的重要组合.     

混合信号测试的新挑战和HP54645D混合信号示波器

智能化技术的飞速发展使得产品设计师由通用的4bit微控制器转向功能更为强大的8bit微控制器。8bit器件在相同时钟速度下能传送两倍于4bit器件的数据,而其价格也已急速下降,在性能和经济角度都实际可行。然而,它也带来了紧迫的测试问题。     

混合信号总线测试实验

使用本院CAT研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试。通过对测试结果的分析表明，IEEE1149.4测试总线在这些测试中是非常成功的，同时指出其局限性。     

信号处理机的高速ADC模块动态性能在线测试

本文介绍了一种基于DSP技术在线测试信号处理机的高速ADC转换电路动态性能参数的方法。实现了电路板的ADC器件及周边电路性能的在线评估，对工程实践有一定的指导作用。     

模拟／混合信号

Linear14位SAR ADC；Maxim无电感型、G类扬声器放大器；     

混合信号仿真技术

随着集成电路加工工艺技术的继续发展,在单个芯片上实现整个复杂电子系统已成为可能.这样的系统通常包括数字信号和模拟信号处理.在设计早期仿真这样的IC设计来发现错误已显得非常必要.本文将回顾仿真混合信号集成电路所用的技术和方法,比较它们的优缺点,指出它们的适用范围,最后展望混合信号仿真技术的发展方向.     

具有ADC和DAC转换功能的信号调理器

一、概述 在单片机组成的测量系统和数字仪表中的输入通道里,在设计电路时往在要涉及到信号的转换放大、校准和补偿等环节。这些环节若能在一块芯片里实现,则将大大优化输入通道的设计,改善系统的性能,从而为系统设计提高性价比提供可能性。     

非正弦波信号峰值测试在模拟测试机上的实现

本文介绍了一种在通用比测试机上实现峰值测试的方法。