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《电声技术》2003,(9):75-75
1TH2818XA型自动变压器测试系统TH2818XA为同惠电子有限公司新推出的变压器自动测试参数系统,具有变压器扫描测试和精密LCR数字电桥(TH2818)功能(见图1)。该仪器将强大功能和友好操作界面融为一体,能很好地适应生产现场的快速检验需要以及实验室高精度(测量精度达0.05%)高稳定度的测量要求。同时仪器提供的USB(选件)、HANDLER(选件)接口、IEEE488(选件)接口及RS232C接口为仪器用于自动分选系统和计算机远程操作提供了条件。TH2818XA的技术特性如下:变压器扫描测试和精密LCR数字电桥320×240点阵大型LCD显示测试频率:20Hz～… 相似文献
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《电子工业专用设备》2005,34(9):66-72
2005FSI亚洲知识服务系列研讨会；QuickLogic与互联系统公司携手推出HiLo插槽方案；科利登的QBIX选件为Sapphire测试平台提供先进的模拟测试能力；科聚亚公司为电气电子行业定制阻燃剂解决方案；环球仪器展示Lightning^TM——平台式灵活装配的关键技术；美国环球仪器推出线性电动机驱动的AdVantis XS…… 相似文献
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RessellSchlager 《半导体技术》2003,28(6):38-40,52
得益于芯片设计方法的不断提高，以及高密度工艺技术，如今生产的数字、模拟模块集成到一块芯片中的系统芯片，其尺寸小巧，功能强大。随之也引发了一个前所未有的挑战——生产商该如何测试这些芯片，且使测试过程高效廉价。正因为将多种功能模块集成到了一块芯片当中，使得传统的测试方法无法应用到系统芯片中去。为了解决系统芯片测试问题，一个更为全面、综合的测试方法产生了，这种方法更好地帮助实现从设计到测试的过渡，加快样片的质量验证，并能提高大批量产品测试的性价比。这种方法的核心是高效的测试开发能力，可以满足复杂测试的产量要求。此测试平台具有能适应复杂的模拟、数字测试性能的仪器。尽管系统芯片日趋复杂，这种方法通过有效地平衡设计与测试资源，向用户提供了更为有效的测试方案，缩短了测试时间。 相似文献
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本文主要介绍分时模式(Split Timing Mode，STM)，一种双时钟的ATE架构。运用该机制可使某些测试通道运行在和其他通道不同的工作频率上，极大方便测试工程师测试和分析此类芯片器件。本文详细描述了STM的实现方法，并提供了一个应用实例说明以上观点。 相似文献
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李金铁 《电子工业专用设备》2005,34(4):29-31
近年来,伴随着一系列的高速数据传输标准在实际产品中的应用,对于这类芯片的评价测试难度也变得越来越大。爱德万测试根据这类要求,开发了5Gbps信号的高速测试选件。 相似文献
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１引言VM７００视频测试仪是目前较为先进的视频测量仪器,在中国大部分地市级以上的电视台得到了应用。它采用数字测量分析技术,可以在不中断正常播出的情况下,利用电视信号场消隐期间的插测行准确、迅速地进行视频指标的测试。其屏幕选单式的显示及多媒体触摸屏技术的应用既方便了用户的使用,也大大简化了仪器的面板结构。VM７００测试功能强大,除了视频测试功能之外,还有多种测试选件可供用户根据实际情况选用,实现音频、分量、图文电视、数字电视、摄像机性能及遥控测量等一系列功能。下面,主要介绍VM７００在视频通道测试中… 相似文献
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1前言 模拟/数字信号转换器(ADC)和数字/模拟转换器(DAC)是两种基本的电子应用模块,用于实现模拟和数字信号之间的转换.作为独立器件或者集成到各种混合信号芯片中,广泛的应用于各种电子产品.因此,在对这些混合信号芯片进行测试的时候就要对其中集成的ADC/DAC的性能设计相应的测试方案. 相似文献
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《电子设计技术》2006,13(3):132-132
罗德与施瓦茨公司为其蓝牙测试仪CBT和CBT32提供一个选件，用于支持的最新蓝牙标准Bluetooth V2．0＋ EDR（蓝牙V2．0＋增强型数据速率）。配置这个选件后，CBT系列能够支持蓝牙2．0标准，执行蓝牙发射机和接收机测试，而不需要其它附加设备。EDR测试规范增加了4个新的发射机测试和4个新的接收机测试项目。配备EDR选件后，R＆S的CBT和CBT32不需要任何附加设备就能够完成除EDR载干比性能测试外的所有测试项目。对于EDR接收机测试，该选件支持测试规范规定的环回测试模式。和基本款一样，具有EDR选件的R＆SCBT和CBT32有很快的测试速度。研发任务能够更快地完成，测试时间的减少大大降低了生产测试成本。比如，使用R＆S CBT在3个射频通道中测试4个2-DH5和4个3-DH5数据包只需要5秒。 相似文献
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边界扫描测试技术的原理及其应用 总被引：3，自引：1，他引：2
边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法，他提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案，极大地方便了系统电路的测试。自从1990年2月JTAG与TEEE标准化委员会合作提出了“标准测试访问通道与边界扫描结构”的IEEE1149．1—1990标准以后，边界扫描技术得到了迅速发展和应用。利用这种技术，不仅能测试集成电路芯片输入／输出管脚的状态，而且能够测试芯片内部工作情况以及直至引线级的断路和短路故障。对芯片管脚的测试可以提供100％的故障覆盖率，且能实现高精度的故障定位。同时，大大减少了产品的测试时间，缩短了产品的设计和开发周期。边界扫描技术克服了传统针床测试技术的缺点，而且测试费用也相对较低。这在可靠性要求高、排除故障要求时间短的场合非常适用。特别是在武器装备的系统内置测试和维护测试中具有很好的应用前景。本文介绍了边界扫描技术的含义、原理、结构，讨论了边界扫描技术的具体应用。 相似文献
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《电子工业专用设备》2006,35(5):22-22
日前来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息，为世界半导体工业提供从设计到生产测试解决方案的领先供应商一科利登系统有限公司宣布：欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH，购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音／视频数字和混合信号芯片，以及一些工业上应用的高电压芯片。 相似文献
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