超细钨粉的粒度表征

为了对供给态和研磨态超细钨粉的颗粒粒度进行表征,将供给态粉和研磨态粉由激光衍射法、FSSS法和BET法测量出颗粒粒度。实验结果表明:利用激光衍射法和FSSS法所测量出来的供给态粉和研磨态粉的粒度结果是错误的,这是因为测量系统存在缺陷和测量原理不合适所致。可以使用吸附等温线来获得表面粗糙度的分数维维数D和微孔的表面积S_t,且用D和S_t来修正d_(BET)的计算公式。在本实验中,使用修正公式得到的4种粉末的平均粒度值与扫描电镜的观测值相一致。     

亚微米氧化铈颗粒的粒度分布测量研究

采用新的动态光散射及激光衍射等技术对较高浓度悬浮液中亚微米氧化铈颗粒的粒度分布进行了测量,分析了分散前处理对动态光散射测量结果的影响,计算了动态光散射测量时不同分布基础的粒度分布结果,并以透射电镜观测结果进行了验证。结果表明,激光衍射测得的粒度分布结果数值较大,其基于体积分布的粒度中位值约为2μm;动态光散射测量的粒度分布数值较小,基于体积、数量分布的粒度中位值分别为257.0 nm和157.1nm,分散前处理对粒度测量结果有一定的影响;动态光散射测量的基于数量分布的氧化铈颗粒的粒度分布结果与透射电镜观测所得的数值能够较好地吻合。新的动态光散射技术可准确地测量经过充分分散的较高浓度悬浮液中亚微米氧化铈颗粒的粒度分布。     

激光法测定稀土粉体粒度的影响因素研究

采用激光粒度分析仪对多种稀土粉体粒度测量中分散剂、分散时间、样品种类、样品浓度、折射率及测定误差等影响因素进行研究,分析在测量过程中影响稀土粉体粒度的因素,确定了激光法测定稀土粉体粒度的测量条件。并可由测定结果来推断粉体的球形状况。     

X射线小角散射法测量纳米粉末的粒度分布

在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量了ZnO、ZrO2、Fe和Al2O3纳米粉末的粒度分布。测量结果与专用X射线小角散射仪器的测量结果一致，并经TEM分析验证。证明在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量纳米粉末的粒度是可行的。与采用四狭缝系统或Kratky狭缝系统的专用小角散射仪相比，该方法的特点是操作简单，成本较低，易于推广。目前此法可测量1～300nm范围的粉末粒度。     

激光散射法测量粒度及其分布

一、前言在常用测量粒度方法中,X 射线法、电子显微镜法所测之数据精度较高,但制样及操作困难,速度慢且设备复杂,只适于研究工作应用。比表面法、空气透过法等虽操作较方便,但测量精度低,只能测粉末的平均粒度。沉降法等虽能测粒度分布,但速度较慢。上述各种方法的共同缺点是不能或不适于联机使用,因而使用范围有局限性,不便于在工业上进行高精度的快速检测。激光散射法(简称散射法)既可测单个粒子,也可测粒子群,可测项目包括:粒度及其分布、颗粒形状、面平均直径、体平均直径、面直径标准偏离、粉粒的质量分布,等等。本方法既适用于研究工作,也     

钢中稳定氧化物夹杂激光粒度分析方法

介绍了采用英国马尔文仪器有限公司生产的MASTERSIZER2000型的激光粒度分析仪，应用激光衍射法（LALLS，又称小角激光光散射法）的原理。测定经电解提取出的稳定氧化物夹杂粒度大小，其测量的粒径范围：0．02—2000微米。通过测定可以得到不同大小粒度的体积百分数、数量百分数和比表面积百分数。     

利用粒度重组方法克服X射线荧光光谱粉末压片法的基体效应

采用X射线荧光光谱粉末压片法测定铝铁中铝时,由于粒度效应的影响,铝测量结果的准确度降低。通常,采用单一控制样品粒度小于0.075 0 mm的制样方法来克服粒度效应时,铝的X射线荧光强度的相对标准偏差(RSD,n=10)达到4.3%。在大量试验的基础上,提出了一项粒度重组技术,即通过调整样品中的0.250～0.125 mm、0.125～0.075 0 mm、0.075 0～0.045 0 mm、＜0.045 0 mm 4个粒度等级的质量占比为2∶2∶1∶5后,铝的X射线荧光强度的RSD(n=10)降为1.2%,有效降低了粒度效应的影响。从粒度调整对测定结果的影响、两种制样方法对测量强度的影响、不同制样方法样片表面差异、不同分析方法准确度的显著性差异4个方面进行讨论,证明粒度重组方法能有效地消除粒度效应对粉末压片法结果的影响,铝铁中铝的测定结果与EDTA滴定法的结果准确度无显著性差异。     

利用粒度重组方法克服X射线荧光光谱粉末压片法的基体效应

采用X射线荧光光谱粉末压片法测定铝铁中铝时,由于粒度效应的影响,铝测量结果的准确度降低。通常,采用单一控制样品粒度小于0.075 0 mm的制样方法来克服粒度效应时,铝的X射线荧光强度的相对标准偏差(RSD,n=10)达到4.3%。在大量试验的基础上,提出了一项粒度重组技术,即通过调整样品中的0.250～0.125 mm、0.125～0.075 0 mm、0.075 0～0.045 0 mm、＜0.045 0 mm 4个粒度等级的质量占比为2∶2∶1∶5后,铝的X射线荧光强度的RSD(n=10)降为1.2%,有效降低了粒度效应的影响。从粒度调整对测定结果的影响、两种制样方法对测量强度的影响、不同制样方法样片表面差异、不同分析方法准确度的显著性差异4个方面进行讨论,证明粒度重组方法能有效地消除粒度效应对粉末压片法结果的影响,铝铁中铝的测定结果与EDTA滴定法的结果准确度无显著性差异。     

超细钨粉的制取及其氧化钨原料和钨粉的粒度测量

选取相成分单一的氢钨青铜(H_(0.33)WO_3)、铵钨青铜((NH_4)_(0.5)WO_3)和紫钨(WO_(2.72))作为原料,研究钨原料对制取超细钨粉的影响;对氧化钨原料和超细钨粉的粒度测量方法作了比较,研究结果表明:紫钨由于有着特殊的结构,其制得的钨粉细而均匀,分散性好,是适合于做微晶硬质合金的原料;对于氧化钨原料的粒度(伪同晶颗粒尺寸,即二次颗粒)测量,推荐使用激光衍射法;对于超细钨粉粒度(一次颗粒)的炉前测量,BET法测球形相当径相当理想。     

一种制备钛合金的方法及其微观测量

采用快速凝固/机械球磨法制备钛合金粉末;并采用扫描电子显微镜、X射线衍射仪和激光粒度分析仪对其进行微观测量.     

基于正交试验和神经网络的超细石英粉体制备

简要分析了高能球磨法制备超细石英粉体的基本原理;以正交试验设计技术为基础,研究了球磨法制备超细石英粉体的试验方法;应用人工神经网络技术,建立了基于BP网络的石英粉体粒径预测模型.试验结果表明:该模型具有较高的精度,较好地实现了球磨法制备石英粉体的粒径预测.该项技术为进一步研究工业化制备超细石英粉体工艺及其参数选择提供了理论指导.     

电弧等离子射流蒸发反应法制备碳化硅基超微粉

分析了SiC+C、SiC+Si等超微颗粒的形貌、粒度大小及分布和晶体结构。讨论了等离子弧电流I_T和I_J对超微粉粒度的影响。     

粒度测试现状

本文评述了各种颗粒尺寸测量方法的发展现状。所介绍方法中,有些方法从原理上讲是新的,如液相色谱法、微波测量法、光导纤维探测法、扩散仪、电迁移率测量等;有些虽是老方法,但采用了新技术和新的操作方法,有了新的发展,如引入激光技术之后,激光衍射仪、全息照相、多普勒速仪、光遮法和相关法等相继出现。本文以较大篇幅介绍了这方面的内容。此外,本文也扼要地评述了颗粒形状和在线分析的研究工作现状。     

超细第二相粒子强化钢铁材料的研究进展

 综述了钢中有关第二相粒子的研究进展情况,分析了第二相粒子对钢强韧性能的影响及第二相粒子细化钢晶粒的基本理论,概括了获得超细第二相粒子的基本方法,指出了存在的问题并提出了获得超细第二相粒子的新思路。     

X射线荧光光谱在标准物质和标准方法研究中的应用评介

标准物质研制需要多种高精密度、高准确度方法的综合运用,特别是样品粉碎加工后的均匀性和稳定性检验,更特别强调检测方法的高精密度测量。X射线荧光光谱(XRF)技术是当今地质材料主、次量组分精密度最高、最经济快速、无污染的多元素分析技术,因此在地质标准物质研制中应用广泛并发挥了重要作用。文章从样品均匀性、稳定性、多元素定值分析和标准分析方法制定方面评介了XRF在地质标准物质研制中的应用,也介绍了XRF在国家和行业标准分析方法制定中的应用。特别介绍了XRF在进行均匀性检验实践中的重要发现:样品不均匀误差已成为现代地质分析误差的重要来源,并从地质分析样品粒度随分析技术进步而不断减小的历史演变提出了应进一步降低分析样品(包括标准物质)粒度的建议,使其与XRF、电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)和电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)这些当今最重要的现代分析技术相适应。此外,还评介了超细标准物质研制与超细样品分析方面的研究工作,简述了该项研究的意义和可能对整个地质分析发展带来的影响。美国国家标准与技术研究院(NIST)在这方面的研究工作标志着超细标准物质研制和超细样品分析将是地质分析发展的一个重要方向。全篇引文125篇。     

X射线荧光光谱在标准物质和标准方法研究中的应用评介

标准物质研制需要多种高精密度、高准确度方法的综合运用,特别是样品粉碎加工后的均匀性和稳定性检验,更特别强调检测方法的高精密度测量。X射线荧光光谱(XRF)技术是当今地质材料主、次量组分精密度最高、最经济快速、无污染的多元素分析技术,因此在地质标准物质研制中应用广泛并发挥了重要作用。文章从样品均匀性、稳定性、多元素定值分析和标准分析方法制定方面评介了XRF在地质标准物质研制中的应用,也介绍了XRF在国家和行业标准分析方法制定中的应用。特别介绍了XRF在进行均匀性检验实践中的重要发现:样品不均匀误差已成为现代地质分析误差的重要来源,并从地质分析样品粒度随分析技术进步而不断减小的历史演变提出了应进一步降低分析样品(包括标准物质)粒度的建议,使其与XRF、电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)和电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)这些当今最重要的现代分析技术相适应。此外,还评介了超细标准物质研制与超细样品分析方面的研究工作,简述了该项研究的意义和可能对整个地质分析发展带来的影响。美国国家标准与技术研究院(NIST)在这方面的研究工作标志着超细标准物质研制和超细样品分析将是地质分析发展的一个重要方向。全篇引文125篇。     

红柱石粒度对干熄焦用耐材制品使用性能的影响

为了满足干熄焦装置用耐火材料高强度与高热震稳定性的要求,以合成莫来石、红柱石等为主要原料,辅以白刚玉、苏州黏土、Al2O3微粉,探讨了不同的烧成工艺及红柱石微粉粒度对制品性能的影响。结果表明,超细粉对产品的紧密堆积有影响,加入量以≯10%为宜;适当地引入红柱石超细粉,可以降低烧成温度,并满足产品的高强度与高热震稳定性要求。试验证明在引入红柱石超细粉的情况下,烧成工艺以a℃×8 h为宜。     

沉淀转化法制备超细银粉试验研究

以Ag2O为前驱体,葡萄糖为还原剂,聚乙烯吡咯烷酮(PVP)等为分散剂,对沉淀转化法制备超细银粉进行了研究.试验考察了反应体系pH值、分散剂、葡萄糖浓度及反应温度对银粉形貌与粒度的影响.结果表明,随着pH值的增加,银粉粒径呈先减小后增大的趋势,偏酸性体系中银粉粒径分布较宽,而偏碱性体系中颗粒团聚明显且其粒径分布宽;以P...     

高能球磨法制备超细Al2O3粉末

采用高能球磨法制备超细Al2O3粉末,研究了球磨时间、球磨转速及工艺控制剂等工艺参数对Al2O3粉末粒度和形貌的影响。结果表明:在一定范围内,延长球磨时间,提高球磨转速均能有效地减小颗粒尺寸;在球磨过程中加入工艺控制剂,能有效地防止粉末粘附在磨球和磨罐上,并改善粉末颗粒的均匀性。在本文试验条件下,加入工艺控制剂乙醇,球磨转速为400r/min,球磨时间为30h等条件下,获得Al2O3粉末的D50为0.82μm,Al2O3粉末粒径分布在0.12～6.37μm范围内。     

激光粒度分布仪检测细碳化钨粉方法

随着微细、超细甚至纳米级钨粉、碳化钨粉的生产,粉末粒度分布的检测方法也随之发生重大变革,从传统的沉降法、显微镜法等逐步演化成了现代的激光粒度分布仪检测方法,然而现在的激光粒度分布仪检测方法仍然存在一些问题,尤其是检测不稳定,检测出较多的粗大颗粒或团聚问题。笔者对激光粒度分布仪的检测方法进行了摸索,找到其检测不稳定的原因,并提出了检测稳定的方法。