基于改进高斯权重的多相流动成像算法

电容阵列仪在水平井多相流中的测井数据成像可以直观地反映井筒内油气水的相态分布。针对基于固定节点的高斯权重成像算法的不足,提出了考虑仪器旋转的动态剖分方法;引入校正系数的改进高斯权重成像算法,并用最优化算法确定校正系数,以提高成像算法的适应性。实验数据处理结果表明,该算法的成像效果与相应照片吻合较好。     

关于电容阵列仪应用的问题及两点注记

针对电容阵列仪(capacitance array tool,简称CAT)在水平井多相流监测中暴露的不足,即CATView软件成像失真和油水两相流时有时漏失油相信号,首先分析了产生不足的原因,一是已有的成像算法没有充分考虑流型的特点,二是测量方式没有考虑仪器的结构特点;然后指出了流动成像算法的改进思路,提出在实际使用CAT时应添加扶正器。     

改进的基于距离因子的多相流动成像算法

利用电容阵列仪测井数据形成的图像,可以直观地反映水平井井筒内油气水多相流的相态分布。针对已有算法的不足,提出了考虑仪器旋转的动态剖分方法,并提出了一种新的基于距离因子的权重函数,给出了引入校正系数的改进网格成像算法。试验数据的处理结果表明,该算法的成像效果与相应照片符合较好。     

基于CAT的水平管油水两相流动成像算法改进

针对电容阵列测井仪(CAT)水平井油水两相流测井资料,已有的基于高斯权重的改进多相流动成像算法的成像效果严重依赖于数据的来源,对来自某仪器的数据展示出了好的效果,而另外某仪器的数据成像效果很差。分析了已有算法的不足,指出设计成像算法时需要考虑12个探头的响应不一致性,充分考虑流型的特点。给出了水平管及近水平管油水两相流动试验的结论:当总流量不大于300m3/d时,流型是相间界面光滑层流和界面波动层流。对水平井油水两相流动,提出了仅对界面附近区域进行局部插值的成像算法。实测数据的处理结果表明了该算法的有效性、稳定性。     

多相流动电磁波成像测井基础研究

研究多相流动电磁波成像测井要涉及到两个物理基础问题 :一是油井中电磁波的传播特性 ,二是油井中流体介质的电磁性质。首先 ,采用场分析的方法 ,分析井内套管和流体介质对电磁波传播的影响。油井内的套管是钢铁质圆管 ,对电磁波的传播将产生限制和引导作用 ;油井内流体介质的电性质将决定导波的传播常数 ,影响电磁场在井的轴向上和横向上的分布状态和波的传播特性。通过研究提出了由于井内流体为有耗媒质 ,油井构成的导波系统不同于一般的圆波导 ,可以传播高频或低频电磁波的新观点。其次 ,从物理机理出发 ,对油、气与水的介电特性和导电特性差异进行分析 ,指出油井内混合流体的电性质不仅与各相流体的电性参数有关 ,而且与流体的流动速度、各相含量、分布状态以及测量电磁场有关。研究结果不仅论证了电磁波成像测井具有坚实的物理基础 ,而且明确了正确测量和显示井内流体流动截面必须合理选择电磁波的工作模式和频率。     

集流式流量含水率组合测井仪生产测井资料解释方法研究

介绍了集流式流量含水率组合测井仪测井工作原理及其特点，根据实验室不同条件下的试验数据，研制了解释图版，提出了相应的生产测井资料解释方法。实例表明，使用该测井仪对低产液高含水井进行生产测井，可以录取到更加真实的井下动态资料，提高资料解释精度。     

水平管油水两相流持率仪响应特征试验研究

准确获取井筒中各相持率是生产测井产出剖面精确解释的关键步骤之一,水平管中因普遍存在层流导致常规居中测量的持率仪器响应产生纵向片面性。电容阵列仪是一种采用多探头覆盖全井眼信息采集的新型流体识别技术,研究基于电容阵列仪、放射性流体密度计和电容持水率计的室内模拟试验,分析了水平管油水两相流动型态和电容阵列仪的持率确定方法,详细研究了3种不同持率测量仪器随流体流动型态变化的响应规律,提出了水平管油水两相流持率参数优化选取的方案。     

水平井油水两相流电容阵列持率仪算法研究

水平井和大斜度井的平均持水率参数测量是多相流产出剖面解释中一个非常重要的参数。由于水平井中随着流量、含水率和井斜的复杂组合变化,井筒中油水两相流的流型复杂多变,目前采用的测量方式是多探头环形分布测量。为了准确获取平均持水率参数,在多相流实验平台中,采用控制变量的方式进行不同流量和含水率的物理模拟实验,然后利用阵列持率仪进行数据采集和预处理。提出自然间断点法,对油水两相进行划分和计算平均持水率,并采用Java进行算法的具体实现。通过对比分析自然间断点法所算持水率与关井持水率的一致性,认为自然间断点法可以有效地进行油水两相边界的划分以及平均持水率参数的计算。     

阵列感应成像测井仪

阵列感应成像测井仪是一种阵列化、数字化的新一代成像测井仪器。该仪器采用软件聚焦生成不同径向探测深度且纵向分辨率可变的多条电阻率曲线的测井方法,提供了更多的地质信息,具有纵向分辨率高、分辨率统一、径向探测深度大、详细划分侵入剖面、准确确定地层真电阻率等优点,是发现识别油气层的锐利武器。     

新型40臂井径仪测井资料处理方法研究

井径测井主要用于确定套管内径变化、射孔孔深及接箍深度等。新型的多臂井径仪除记录最小、最大井径外，还记录了多个方位方向上的套管内径值，因而可以更准确地获得套管形变、剩余壁厚、弯曲、断裂、腐蚀等信息。以新型40臂井径仪为例，提出了多臂井径测井资料的定性分析与直观图形处理方法。与常规的井径仪相比，新型的多臂井径仪测量得到的信息更全面，资料的成像处理效果更直观。     

电容阵列仪在大斜度井中的实验研究

大斜度井中多相流持率计算一直是困绕人们的技术难题,流态及流型判定是影响持率计算的主控因素.常规测井仪器大多为居中测量.很难准确地测量评价整个井筒流动情况.综合分析不同流量及测量方式对持率的影响,结合测量特点,选用电容阵列多相持率测井仪CAT(Capacitance Array Tool),建立适用的解释模型,从不同流量、角度进行实验研究,确定大斜度井中多相流持率计算方法.根据实验测井资料分析解释,建立了适用于大斜度井中持率计算方法,提高了持率计算的准确度.     

阵列感应测井仪刻度研究

根据阵列感应测井仪刻度原理,导出阵列感应测井仪电导率与刻度环串接电阻阻抗之间的关系,采用复系数电压信号刻度法,选用3种直径的刻度环在各子阵列相应的刻度点能对各子阵列进行刻度得到刻度增益值.给出了在半空间测量阵列感应测井仪线圈系误差的校正图版,介绍了仪器的刻度方法.     

MPAL多极子阵列声波测井仪

MPAL多极子阵列声波测井实现了在软硬2种地层中直接提取纵波、横波和斯通利波的测量结果.对MPAL多极子阵列声波测井的测量原理、仪器构成、特点、技术指标、应用情况等方面进行了阐述,根据其测井资料可提取准确的纵波、横波、斯通利波信息;利用波形、斯通利波变密度图、斯通利波幅度衰减判断裂缝发育段,可以得到地层的快慢横波,用来判断地层的各向异性,从而判断最大水平主应力方位、裂缝发育程度及裂缝延伸方向等.     

多极子阵列声波测井仪多通道采集系统

设计一种用于多级子阵列声波测井仪的高精度多通道同步数据采集系统,可工作于井下高温环境.介绍该系统的电路结构和软件设计思路.该多通道采集系统使用数字信号处理器和复杂可编程逻辑器件控制单片多通道模数转换芯片,有效减小了电路板体积和功耗.由于采集参数可控,该系统有较好的通用性,它完成16通道的采集任务只需要2片220 mm× 48 mm的电路板.测试结果表明,该多通道同步数据采集系统性能稳定,可满足仪器设计要求.     

MAX274在多频阵列感应成像测井仪中的应用

以芯片MAX274为基础,设计出适合多频阵列感应的八通道带通滤波器,该滤波器不仅具有调试简单,维护方便,而且耐高温、噪声低、方便控制各道增益等优点。简要描述了设计要求、器件选择以及设计原理,重点阐述了带通滤波12/15通道的设计过程。通过多次室内高温试验以及现场测井试验表明,该带通滤波效果好,有较高的实用价值。     

微电阻率扫描成像测井仪

20世纪90年代,斯仑贝谢、贝克阿特拉斯、哈里伯顿等国外三大公司分别推出了以微电阻率扫描成像测井仪为代表的成像测井系统。微电阻率扫描成像测井仪能够提供井眼地层高分辨率、大动态范围微电阻率成像,应用在裂缝识别及评价、薄层评价、岩性划分、沉积相分析、构造分析和地层各向异性评价中,在重点探区及复杂地层的勘探开发中发挥了重要作用,作业工作量也不断增加,市场需求迫切。     

阵列中子孔隙度测井仪研究

采用可控脉冲中子源(脉冲中子发生器)代替传统化学源,实现了测井过程零放射性污染;采用多组超热中子及热中子探测器。结合岩性校正、仪器与井壁间隙校正、套后井套管水泥环校正以及放射源强度校正等孔隙度校正算法,实现套前、套后模式高精度测井。从阵列中子孔隙度测井仪现场试验井中选取了1口有代表性的测井资料,通过分析重复性、一致性和纵向分辨率证实阵列中子孔隙度测井曲线能准确地反映地层孔隙度。     

环空三相流测井

张淑英．环空三相流测井．测并技术，１９９４，１８（２）：１３３～１３８环空三相流测井需测量多个参数，过环空测量采用集流点测的方式，所测的结果可以定量解释出抽油机井正常生产条件下油、气、水三相产出剖面，为油井改造特别是严重脱气的抽油机井改造提供依据。文中阐述了环空三相流测井的测量原理，提出了三相流条件下体积流量的测量方法，并对三相流产出剖面的获取进行了论述。     

阵列感应测井仪刻度系数特性研究

刻度系数是阵列感应测井仪器的关键参数.在阵列感应测井刻度理论基础上,导出刻度系数计算公式,计算分析了短、中和长3个子阵列的刻度系数随刻度环半径及其在仪器轴向上所处位置的变化特性.结果表明,不同子阵列的特性差异较大,尤其是长子阵列,并用各子阵列的二维几何因子解释了其产生的原因.讨论了刻度环大小选择、最佳刻度点和刻度电阻确定问题.这些研究结果可用于阵列感应测井仪器刻度中.