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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
无铅焊接的板级可靠性   总被引:2,自引:0,他引:2  
无铅化运动已经占据全球电子封装及电子装联的中心舞台。铅对人体健康有害的观点已经被广泛地报道,这也成为日本、美国、欧洲在电子产品中禁止使用铅焊料的理由之一,三个主导正在进行在电子装联中禁止使用含铅焊料的工作。日本政府已经通过禁止使用铅的法律,日本几个主要电子制造商已经建立这方面的路标规范并已经宣布到2003年底时不再使用含铅焊料。欧盟第6次会议已经通过决议草案,要求WEEE2006年1月1日后禁止使用含铅电子产品。在北美,IPC正在收集所有候选的无铅焊料并准备选出一种能够成功应用的焊料合金。IPCJ-STD-006测试方法将被用来检测焊料中铅含量的等级(自章1),建议无铅焊料中的铅含量重量比小于0.1%。无铅焊料的选择基于欧洲理想(Ideal)项目(章2)的研究结果和使无铅焊料能够得以成功应用的进一步要求(无铅、低熔点、在预定工作温度下长期运行具有高的抗疲劳特性)。测试了SnAgCu焊料(焊膏)的润湿性、延展性、溶解性、回流焊曲线的优化、与传统锡铅焊膏相比较外观及内部缺陷、比较器件和PCB表面应用传统镀层与无铅镀层的影响、IMc的形成和已经影响到了全世界的供应商和制造商,他们必须找到相应的解决方法。在本中,将讨论良好的环境下焊料与元件不同焊端镀层及PCB表面镀层之间的影响,研究与现有工艺参数的相容性,并与传统焊料比较板级可疲劳特性。绿色装配的挑战之一就是选择和分析新焊料的可制造性(包括焊料和焊膏)、成本、可得到性、同传统焊料合金比较可靠性。  相似文献   

2.
针对低Ag无铅焊膏的市场需求,研制开发了一种新型低Ag无铅焊膏(WTO-LF3000 SAC0307)。研究了这种低Ag无铅焊膏的印刷性和回流焊工艺适应性。采用3D显微检查法对印刷焊点质量进行了检测,用X-RAY对焊点焊后气孔进行检测和评定,用板级跌落试验和震动试验考核了焊后试板的电气可靠性。试验表明:所开发的新型低Ag无铅焊膏其熔点和润湿性要求符合产品要求;配制的焊膏印刷质量良好,没有塌陷、桥连和拉尖现象;切片观察其空隙率满足IPC-A-610D〈25%之要求;跌落试验和震动试验测试后,测试板功能正常,无焊点脱落等异常现象。改产品可应用于高端电子产品的封装。  相似文献   

3.
针对低Ag无铅焊膏的市场需求,研究开发了一种适用于99.0Sn0.3Ag0.7Cu低Ag无铅焊膏用松香型无卤素助焊剂(WTO—LF3000),配制了相应的无铅焊膏(WTO—LF3000—SAC0307),并对其板级封装工艺适应性及焊点可靠性进行了考察,用测试后样品的电气可靠性作为接头可靠性评价条件。结果表明:所开发的低Ag无铅焊膏熔点和润湿性符合产品实际要求。配制的焊膏印刷质量良好,焊点切片观察其孔隙率<25%,满足行业标准IPC—A—610D之要求。样品分别经跌落、震动和温度循环试验后,无焊点脱落等现象,电气功能正常。  相似文献   

4.
新开发了G-SAC105和G-SAC0307两种低银无铅焊膏,对其进行了板级封装的工艺适应性研究。结果表明,在(25±5)℃和120℃环境下,两种焊膏塌落度均为0.15 mm,在150℃环境下放置时,塌落度均为0.20 mm,都具有较好的抗热塌陷性,银含量的降低并不会影响焊膏的塌落度;焊膏印刷质量良好,焊后焊点光亮、饱满,未出现气孔或飞溅现象;焊态下G-SAC105和G-SAC0307金属间化合物厚度比较接近,均小于SAC305。  相似文献   

5.
本主要针对无铅焊料的选择,无铅焊料的工艺性的评估,与封装和PCB耐焊接热量比较,再流焊的优点,界面,润湿,溶解,金属间化合物的特性,描述了所用焊料的物理特性,互连质量取决于再流焊条件,破坏性评估实例,综述了测试件,测试方法,数据读出,标准,中断及中断的位置,用于可靠性研究的测试件,描述开发与可靠性相关的无铅焊点特性的方法;界面(第一和第二级)的显微切片,描述中断和/或非连接特性的典型例子,为描述板级功能稳定性的极限性,实施非破坏性和破坏性测量,开发与电子测试步骤相关的检测缺陷测量方法。  相似文献   

6.
概述了低熔点和高熔点型无铅焊膏的开发动向。  相似文献   

7.
无铅焊接的可靠性分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
目前,电子制造业正处于从有铅向无铅焊接过渡的特殊阶段,无铅材料、印制板、元器件、检测、可靠性等方面都没有标准,由于有铅和无铅混用时,特别是当无铅焊端的元器件采用有铅焊料和有铅工艺时会发生严重的可靠性问题。这些问题不仅是当前过渡阶段无铅焊接要注意,而且对于过渡阶段的有铅焊接也是要特别注意的问题。  相似文献   

8.
在对无铅回流焊炉技术进行了充分研究的基础上,认识到市场对无铅焊膏技术的迫切需求,本文针对这种技术要求,对目前国内外无铅焊膏技术作了一些了解和分析。为国内焊膏生产厂家及使用厂家提供一些参考和指导。  相似文献   

9.
向无铅焊接的过渡,势必引起工艺各个方面的改变,包括PCB、元器件和焊膏等,供应商需要对这些挑战做出响应。在无铅组装的执行中虽然需要做出许多的决定,本文将主要讨论回流焊设备方面的一些因素,供读者参考。  相似文献   

10.
主要通过温度变化实验来测试和研究无铅焊接的印制插件板(电路板)的长期可靠性。  相似文献   

11.
无铅回流焊接的实施   总被引:4,自引:4,他引:0  
唐畅  阮建云 《电子工艺技术》2006,27(5):269-271,276
电子产品无铅化,这是人类保护环境的举措,在实施过程中会遇到很多问题,如材料、工艺、检查等,作为我们电子行业无铅工艺的推进者,是要从实际中总结经验教训,把不知的通过试验变成知道的,把不成熟的过程工艺试验变为成熟工艺,把生产过程中出现的不良现象逐渐减少,优化工艺过程,把无铅工艺成熟化.在这里通过无铅生产实施过程中总结出来的一些看法,特别是无铅回流焊接实施,谈谈考虑的因素,作为无铅回流焊接实施者的参考.  相似文献   

12.
电子封装与组装是电子产业的重要支柱之一,而今绿色制造己成为普世的价值和标准。在绿色电子封装与组装产业中,无铅焊与其相关可靠性占有着最关键的地位。对于无铅焊接的实行,材料选择主要是含有Sn的焊料。当前,Sn-Ag-Cu(SAC)合金被认为是无铅标准合金中最多使用的系列之一。然而,各地区之间对无铅焊料的选择仍存在诸多分歧,不同公司会选择不同配比的SAC焊料系列。  相似文献   

13.
概述了高性能无铅焊膏和焊剂的技术开发,适用于便携电话等便携电子设备的高密度安装。  相似文献   

14.
无铅焊及焊接点的可靠性试验   总被引:1,自引:0,他引:1  
随着电子装置的小型化的发展,欧盟(EU.)的WEEE和RoHS提出禁止使用Sn-Pb焊 锡。这将导致一系列的工业革新,如部件体积和重量的减少,各种各样无铅产品的出现,改变现有 的焊接生产线等。参照国际标准(IEC,ISO)和日本国家标准(JIS),并根据这些标准做了一系列的试 验,通过试验对无铅焊润湿性、强度、耐久性等可靠性的评价方法进行说明。  相似文献   

15.
目前正处于从有铅产品向无铅产品过渡的特殊阶段。由于对无铅焊点的长期可靠性等方面问题的研究还处在初期研究阶段,有铅和无铅混用时,可能会发生材料之间、工艺之间、设计之间不相容等问题而影响电子产品的可靠性.本文主要讨论过渡阶段有铅、无铅混用对可靠性的影响,以及通过对有铅、无铅混用制程分析,介绍不同工艺(再流焊与波峰焊)、不同的元件(无引线或有引脚元件与BGA、CSP等球栅阵列元件)、不同混用情况对焊点可靠性的影响及过渡阶段有铅和无铅混用的应对措施与应注意的问题。文章中的观点供参考并与同行共同讨论。  相似文献   

16.
全球市场先进焊接与铜焊供应商日本斯倍利亚股份有限公司推出NS—F850无铅波峰焊接松香助焊剂。NS—F850可确保为所有PCB与元件基底提供卓越润湿效果,从而最大程度填充通孔。它还便于焊料排出,从而最大程度减少锡桥及锡尖。NS—F850是用于无铅波峰焊接的理想助焊剂。此外,松香助焊剂可确保完全实现SN100C无铅焊膏的潜在可靠性。  相似文献   

17.
SMT无铅焊接缺陷及工艺分析   总被引:2,自引:0,他引:2  
本文详细介绍SMT无铅焊接钎料及其工艺特点,对无铅再流焊的相关典型缺陷进行了分析,并提出了有效的预防措施以及进行无铅焊接返工的几个关键问题。  相似文献   

18.
目前正处于从有铅产品向无铅产品过渡的特殊阶段。由于对无铅焊点的长期可靠性等方面问题的研究还处在初期研究阶段,有铅和无铅混用时,可能会发生材料之间、工艺之间、设计之间不相容等问题而影响电子产品的可靠性。本文主要讨论过渡阶段有铅、无铅混用对可靠性的影响,以及通过对有铅誊无铅混用制程分析,介绍不同工艺(再流焊与波峰焊)、不同的元件(无引线或有引脚元件与BGA、CSP等球栅阵列元件)、不同混用情况对焊点可靠性的影响及过渡阶段有铅和无铅混用的应对措施与应注意的问题。文章中的观点供参考并与同行共同讨论。  相似文献   

19.
为进一步扩展全球公认的低银波峰焊接合金ALPHA SACX 0307的能力,确信电子宣布在全球推出新产品一ALPHA SACX 0807。该产品能于要求极好润湿能力的复杂双面焊接组件上达致与SAC305般的性能,即使是高压热循环,它仍具有良好的机械可靠性。  相似文献   

20.
小型化和无铅互联的板级电路设计   总被引:1,自引:1,他引:0  
电子元器件的微小型化以及电气互联的无铅化要求,给面向PCA制程的设计带来一系列新挑战.首先对电子元器件小型化和PCB组装无铅化发展的技术趋势进行了分析,从系统设计、元器件选择、PCB设计等角度对板级电路可制造性进行了归纳与总结,最后针对如何正确处理有铅与无铅的兼容性问题提出建议.这些经验与建议可以应用于板级电路的工程设计过程中.  相似文献   

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