MEGACHIPS采用SpringSoftCERTITUDE系统执行LSI验证

专业IC设计软件全球供货商SpringSoft宣布。日商MegaChips采用Certitude功能验证品管系统作为其功能验证方法之一环。MegaChips为游戏机、数字相机．视昕设备与数字广播电视系统等各式各样的数字应用开发LSI产品的系统芯片设计公司。Certitude软件让MegaChips设计团队能够完善自己的LSI验证环境。实现绝佳的设计质量。     

基于SystemC的系统级芯片设计方法研究

在分析当前系统级芯片设计方法的基础上，提出了目前新型系统级IC设计语言SystemC及其平台的设计思想及设计流程，并以具体项目RS编码器来实现和验证。实验结果表明，SystemC是一种很好的软硬件联合设计语言，它不仅可以帮助设计人员完成一个复杂的系统设计，还可以避免传统设计中的各种弊端，并提高设计效率。当然，如何更好地利用SystemC设计也将是EDA领域当前探索的一个重要方向。     

C^＊SOC——自动化的SoC仿真验证平台

SoC(片上系统)是IC设计的发展趋势，仿真与验证是芯片设计中最复杂、最耗时的环节之一，实现仿真与验证自动化是芯片设计研究的重要方向。本文首先分析了在SoC设计中存在的一些困难，提出芯片设计需要SoC设计平台的支持，在分析目前设计平台的基础上，推出一个功能强大、自动化程度高的仿真验证平台——C*SOC。最后总结全文并展望SoC设计验证平台的发展方向。     

片上系统技术要求知识更新

不久以前,一个工程师只能用手来设计集成电路。现在,这里只有极少的领域还对单独的天才留有余地。甚至在我们专业性的先进功率IC设计和协作中,都基本上只有简单化的电路。 在这个变化后面是集成电路技术的开发,允许我们在一个芯片上集成一个系统的越来越大的一部分。先进的平版印刷使它能集成更复杂的功能——并在同样的芯片上集成几个复杂的功能,现已有几个公司有0.35μ     

Veloce平台在大规模SOC仿真验证中的应用

随着现代集成电路技术的发展,尤其是IP的大量使用,芯片的规模越来越大,系统功能越来越复杂,普通的EDA和FPGA仿真在速度和性能上已经无法胜任芯片仿真验证的要求,功能验证已经成为大规模芯片设计的一个瓶颈;同时复杂的SOC系统需要相应的软件,由于芯片研发的周期越来越长,传统的软硬件顺序开发的方式受到了市场压力的巨大挑战,软硬件并行开发成为将来大规模Ic系统设计的一大趋势。本文主要介绍Mentor Graphics公司Veloce验证平台在超大规模IC系统中仿真验证的应用。借助Veloce的高速和大容量的特性,极大的提高功能验证的效率,解决由于芯片规模大FPGA无法验证的问题,保证芯片的按时投片。同时通过和Jtag的联合使用,成功解决软硬件的联合仿真和并行开发。     

片上系统验证研究

在数字IC设计中，通常情况下，一般功能芯片验证只涉及到单方面的验证，比如功能仿真、静态时序分析(STA)等。片上系统(SOC)的验证，则是结合了各种验证，而且需要不同于一般功能芯片验证的验证方法，比如软硬件协同验证、FPGA验证、基于IP的验证，等等。文章对这三种验证方法进行了详细的论述。     

IC设计师培养迫在眉睫

不久前，中星微电子副总裁张辉博士去了趟台湾省，希望在哪里能招到100位IC设计人才，这一举动引起了IC设计业的关注。对此，张辉认为，2000年到2004年，中国的集成电路产量和销售收入的年均增长速度超过30％，是同期全球最高的，尤其是2004年中国IC产业的增长速度更是达到55．2％。但其中国内自主设计的芯片却只占到10％，因此IC设计行业是充满机遇的。他同时也指出，目前我国大陆从业的集成电路设计人才数量不足1．5万人，这与我国IC市场呈现持续快速增长是极不相称的，我国IC领域专业人才短缺的矛盾十分突出，这无疑将会严重影响IC行业和市场的健康可持续发展。     

新思科技设计系统、验证平台双线出击

近日，新思科技针对IC设计及验证两个领域相继推出两款完整的解决方案，分别为高度自动化的设计环境Lynx设计系统及面向模拟／混合信号和数字设计的Discovery2009验证平台。     

瑞昱成功开发超宽囊CHOSRFIC收发器

瑞昱半导体成功开发出超宽频CMOS射频收发器芯片。其技术突破与特色包括：极精易的模块设计：全CMOS的射频芯片设计，已包含所有射频IC功能，只需要加上天线及少数几个外部组件(如石英晶体振荡器)就可以完成整个模块设计；超精巧的芯片面积：与最先进的WLAN射频IC相比，瑞昱UWB射频IC芯片面积仅为其五分之一到二十分之一；     

Mentor Graphics推出半导体封装热特性分析及设计的专家系统FloTHERM IC

Mentor Graphics宣布FloTHERM IC上市,这是一套定位于半导体产业产品之热特性定义与设计而生的研发利器。针对现今芯片设计日趋复杂,芯片密度更高与高效能的需求,FloTHERM IC透过一个独特的网络平台,提供高层次的自动化设计任务与全方位热特性定义和验证。     

基于SV语言的DBA芯片的验证

随着芯片规模和设计复杂度的增加,传统的模拟验证方法学已经成为整个验证的瓶颈。为了解决这一瓶颈问题,验证方法学从模拟验证逐步演变成形式验证,先后经过了模拟晶体管模型仿真、门级仿真以及采用点线功能模型（BFM）的事务级仿真三个阶段。SV验证方法学是在模拟验证的基础上增加了形式验证的方法;它采用以覆盖率为导向的技术、受约束的随机技术和基于断言的技术来构建全面的验证环境。以覆盖率为导向可使验证迅速达到验证的出口条件,采用随机测试用例为主代替传统的直接测试为主可使验证迅速收敛,而通过在设计中插入断言可精确验证设计的内部时序问题。实践结果表明,采用这种验证方法极大的提高了验证的效率,缩短了验证周期。     

验证重用中的监视器设计

现代集成电路设计面临着一个困境，一方面是电路设计规模和复杂度的日益增加，另一方面则又面临着来自面市时间的巨大压力。在中等或大规模设计中验证工作往往占总开发工作量的70％以上，缩短验证时间可以有效提高设计的效率。采用基于事务的监视器搭建模块化验证平台，是实现缩短验证时间的有效手段。文中讨论了基于事务的监视器的基本工作原理和设计方法，并介绍了一个具体实例——总线监视器的设计。     

一种数模混合SoC的系统级后仿真验证平台

针对传统大规模数模混合SoC后仿真验证过慢的问题,提出了一种数模混合SoC系统级后仿真验证平台。该平台充分利用主流EDA工具,在传统Verilog-cdl后仿真验证平台的基础上,将原本网表中耗时长的模块用Verilog模型替换,使用Verilog-cdl-Verilog仿真方法,明显加快了仿真速度。从验证环境搭建、系统脚本设计、仿真接口设计三个方面详述了仿真平台的设计流程,并通过指令集功能的仿真实现,证明了平台的可行性和可靠性。该验证平台有助于缩短大规模数模混合SoC的开发周期。     

对SoC芯片全面验证的仿真结构的研究

研究构成仿真环境的策略及软硬件协同验证环境的接口实现,介绍了用于功能和性能验证的软件伪随机测试生成方法.该方法对SoC和复杂的板机系统进行可测性设计的优化验证,大大降低测试成本,缩短了系统开发周期.     

Contributions to the evaluation of ensembles of combinational logic gates

This work presents an effective way for evaluating and validating ensembles of combinational CMOS gates and logic cell libraries. The major contributions include an innovative design methodology for such a kind of test vehicle, as well as a simple and flexible multi-operating mode circuit architecture. The resulting circuit is quite useful for cell library verification at different levels: in the EDA environment and on silicon prototyping. The proposed methodology can be applied for analysis taking into account the logic gate functionality, timing performance, power consumption and circuit operating impact of nanometer aging effects. Simulation results demonstrate the circuit operation, features and facilities described herein.     

Formal verification of component-based designs

Embedded systems are becoming increasingly common in our everyday lives. As technology progresses, these systems become more and more complex, and designers handle this increasing complexity by reusing existing components (Intellectual Property blocks). At the same time, the systems must fulfill strict requirements on reliability and correctness. This paper proposes a formal verification methodology which smoothly integrates with component-based system-level design using a divide and conquer approach. The methodology assumes that the system consists of several reusable components, each of them already formally verified by their designers. The components are considered correct given that the environment satisfies certain properties imposed by the component. The methodology verifies the correctness of the glue logic inserted between the components and the interaction of the components through the glue logic. Each such glue logic is verified one at a time using model checking techniques. Experimental results have shown the efficiency of the proposed methodology and demonstrated that it is feasible to apply such a verification methodology on real-life examples.     

SoC验证环境搭建方法的研究

本文从SoC(SystemonaChip)验证环境外在的框架结构、内在的验证数据的组织与管理和体现其工作原理的系统脚本的设计思想三方面出发,讨论SoC验证环境的搭建方法,并使搭建的验证环境具有灵活、可重用、可配置性的特点。最后利用BourneShell脚本给出了一个具体实现。目前该验证系统已应用于工程实践和教学研究中。     

基于EraSoC的模块级验证平台的设计

随着SoC规模的日益扩大,功能验证也日趋复杂,在模块级验证中尽早地找出设计中的逻辑错误,能大大节省时间和人力的开销。针对EraSoC芯片,搭建了一个模块级功能验证平台,采用事务级的验证策略,并综合运用了约束随机,断言和覆盖率驱动等多种验证方法。以CAN控制器的验证为例介绍了该平台的具体设计和使用。该验证平台极大地提高了验证效率和重用性,在EraSoC的验证中发挥了重要作用。平台的结构和方法具有通用性,可以为其他类似系统的验证提供借鉴。     

基于VMM验证方法学的MCU验证环境

随着SystemVerilog成为IEEE的P1800规范,越来越多的项目开始采用基于SystemVerilog的验证方法学来获得更多的重用扩展性、更全面的功能覆盖率,以及更合理的层次化验证结构。本文主要提出了一种基于SystemVerilog的VMM验证方法学的验证环境。在这个验证环境中,验证了一个8位的MCU,这个MCU主要应用在数据卡项目中,主要特点是时钟周期与指令周期相等,并且相对于标准MUC指令需要时钟周期较少。通常验证MCU都会应用以前的16进制代码读入ROM中,通过仿真观察波形以及输出来确认功能正确,每次只能根据实际应用程序测试对应的一部分MCU功能,缺少一个量化的指标,而且每次改动MCU,需要重新检查结果,效率比较低,而且验证质量无法保证。这里实现了用SystemVerilog来搭建一个基于VMM验证方法学的可移植、重用、扩展、完全自动检查、具有层次化结构的MCU验证平台。这里运用了VMM方法学,设计了一个层次化的验证结构,可以较简单地移植并验证其他类型的MCU,抽象了MCU指令,并且通过约束产生随机指令激励,可以实现遍历所有指令以及地址,另外功能覆盖率模型帮助能够收集并监测覆盖率。     

基于E语言的外部存储器接口的功能验证

在SoC设计中,传统功能验证方法已显示出其缺点,主要问题有：复杂验证场景难以构建;边缘情况难以覆盖。针对这些问题,业界提出了一种新的功能验证方法学——受限随机矢量生成的功能验证,该方法在满足约束条件的前提下,随机产生验证矢量。本文研究了受限随机矢量生成的功能验证在SoC设计中的应用,并以基于E语言和Specman验证平台验证了SoC芯片中的外部存储器接口,给出了具体的验证环境和验证步骤。验证结果表明,复杂验证场景和边缘情况的覆盖率均达到了100％。极大地提高了验证的效率和质量。