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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
建立了计算有机发光二极管(OLED)体电势的理论模型,把在光照下所产生电流与暗电流相等时所加的电压称为补偿电压,得出了补偿电压与体电势函数关系式,该函数只与材料参数及温度有关,在温度较低时,补偿电压即为体电势,在室温情况下,因受扩散运动影响,体电势低于补偿电压,该理论模型计算得出结果与实验结果符合得很好。  相似文献   

2.
针对内建自测试移相器,提出了一种基于逻辑仿真移相器设计和改进的快速算法。只需对几阶LFSR(Linear Feedback Shift Register)进行2^n-1个周期仿真即可得到合适的移相选择矢量,由这些选择矢量构成值胞。该方法得到的移相器选择矢量清晰地反映了值胞的组成和分布情况,从而避免了对偶LFSR的多次前向、后向仿真,降低了移相器的设计时间。对比实验表明,该方法是有效的,并且其硬件电路实现具有更小的硬件开销。  相似文献   

3.
针对Virtex-4型FPGA中可编程逻辑块故障检测的需求,提出了一种基于JTAG的内建自测试方法,并基于DEV++平台自行开发了基于并口的专用边界扫描测试软件.该方法可以比较可靠的检测FPGA中存在故障的可编程逻辑块,并能比较高的分辨率实现故障的定位.与传统的单故障检测方法相比,提出的改进型测试方法可以检测和定位多个故障CLB,并可以对故障类型进行诊断.实验结果表明:提出的测试方法可以精确的检测和定位存在故障的多个CLB,对具有类似结构的SRAM型FPGA具有普遍适用性.  相似文献   

4.
在飞速发展的信息社会中,数据的使用量逐渐增多,在大量的数据中存在很多稀疏数据。现介绍一个高度运行雏层次聚集立方体(DHAC,dimension hierarchy aggregate cube)和对应的增量更新算法,使用该算法进行稀疏数据立方体的计算。  相似文献   

5.
6.
随着IC技术的发展,高集成度和高复杂度的器件不断出现,其相应的测试技术也成为了一个重要的研究方向。对资源丰富的FPGA芯片来说,编写合适的内建测试向量显得尤为重要。介绍了用perl语言编写基于XDL语言测试向量的方法。在对FPGA芯片进行测试设计时,由于软件本身的编辑和约束功能有局限性,其设计效率和便利性不足,并且在某些情况下不能达到设计者对芯片内部资源使用和连线通路的特殊设计要求,因此可使用该研究的XDL编辑方法对设计文件进行高效、高自由度的约束和编辑,从而达到较高的测试覆盖率和较好的测试效率。  相似文献   

7.
提出了一种新颖的数模转换器(DAC)静态参数内建自测试(BIST)方法。该方法采用斜坡信号发生器和两个参考电压作为标准信号源和误差极限电压,测试DAC的四个主要的静态参数:失调误差(offset),增益误差(gain error),积分非线性误差(INL )和微分非线性误差(DNL ),有效地节省了参考源的数目。静态参数计算的优化以及测试器件的共享使得BIST电路所占芯片面积大大减小。仿真结果表明该方法是一种简单的测试DAC静态误差的内建自测试结构。  相似文献   

8.
《电子与封装》2017,(10):9-12
提出了一种针对Xilinx Virtex-4/5系列FPGA芯片中嵌入式数字信号处理器(DSP)的内置自检测试(BIST)和故障诊断方法。该方法可以对DSP电路中乘法器和加法器进行有效的测试,缩短测试时间,减少工作量。同时通过更改DSP的配置信息来实现全芯片DSP的功能测试,提高了DSP模块的测试故障覆盖率。  相似文献   

9.
随着深亚微米技术不断的发展,在SoC设计中存储器需求越来越大,芯片的量产需要有效率而又具有相对的低成本的测试方法.可编程存储器内建自测试方法基于客制化的控制器,提供了一定程度可靠的弹性以及所需合理的硬件成本.我们在本文提出了一个P-MBIST设计的硬件分享架构,经由分享共用的地址产生器与控制器,P-MBIST电路的面积开销能够大幅减小,利用加入的两级流水线能够达到更高的测试速度.最后,所提出的P-MBIST电路能够由使用者自定义的配置文档而自动生成.  相似文献   

10.
一种DC-DC芯片内建可测性设计   总被引:2,自引:0,他引:2  
DC-DC芯片设计中有许多内部参数需要检测和控制,有限的引脚数目使得直接测试内部参数比较困难. 文中提出一种通用性很强的内建可测性设计方法,在芯片内部设计时只需要增加规模较小的测试电路,就可以在芯片外引脚上测量芯片内部众多的参数.  相似文献   

11.
DC-DC芯片设计中有许多内部参数需要检测和控制,有限的引脚数目使得直接测试内部参数比较困难.文中提出一种通用性很强的内建可测性设计方法,在芯片内部设计时只需要增加规模较小的测试电路,就可以在芯片外引脚上测量芯片内部众多的参数.  相似文献   

12.
一种有效的ADC内建自测试方案   总被引:5,自引:0,他引:5       下载免费PDF全文
吴光林  胡晨  李锐 《电子器件》2003,26(2):190-193
内建自测试是降低ADC电路测试成本的有效方法。通过最小二乘法和斜坡柱状图。我们得出了测试ADC电路的增益误差、失调误差、微分非线性和积分非线性的算法。根据这些测试算法。介绍了一种易于片上集成的内建自测试结构。实验结果表明,该内建自测试方案具有较高的测试精度。  相似文献   

13.
一种激光位置准确提取方法   总被引:4,自引:1,他引:3  
用主动视觉方法获取物体表面的空间和彩色信息需要充分利用照射在物体表面上的激光线所包含的信息,因此,准确地将激光线在图像中的位置提取出来就成为主动视觉方法中的一个关键问题。但是,由于遮挡、物体表面反射特性等的影响,所摄图像不能反映出激光线的准确和寒带的信息,从而给激光线位置的准确提取带来困难。文中分析了激光带状线的提取方法和将其单像素细化的方法,并且采用三次样条函数插值方法进行补断。实验结果说明该方  相似文献   

14.
一种快速准确的人眼定位方法   总被引:3,自引:1,他引:2  
提出一种利用快速辐射对称变换标准地定位双眼瞳孔的新方法。首先估计眉毛的大体位置,根据眉毛定位的结果,在可能存在双眼的一定区域,利用快速辐射对称变换找到黑色的特征点,用眼珠模板对检测到的特征点进行纠偏后,根据几何特征确定双眼的候选对,再次利用眼珠模板精确定位瞳孔的位置。对ORL和SJTU-IPPR数据库的实验表明,该算法可以实时的定位双眼,准确率达到90%以上。  相似文献   

15.
智能手机已经在人们生活中得到广泛的应用,很多应用程序可以在手机上进行安装运行。应用之一就是人们获得外界温度,目前多数方式是通过应用程序,直接或者间接地通过国家气象局获得外界温度。但是由于数据更新较慢并且温度是一个较大地域范围内的温度,不能实时反应使用者周围温度,还需要数据网络畅通。本文介绍一种通过手机上的温度传感器对使用者周围环境温度实时准确测量方法。本文网络版地址:http://www.eepw.com.cn/article/273262.htm  相似文献   

16.
随着开源大数据技术的快速发展,许多新的大数据技术的得到商用,大数据计算模型更是发展迅速。传统认为,大数据具有3V特性,即Volume(海量)、Velocity(高速)和Variety(多样),同时大数据还面临Value(价值)和Veracity(精确)的挑战。如何客观地比较不同数据计算模型效率,即大数据测试基准的选择,成为一个重要的研究课题。事务性能管理委员会(TPC)是目前最知名的数据管理系统评测基准标准化组织他们发布的多款基准测试案例,在业内具有很高的认可度。Apache开源社区针对大数据架构也发布了多款性能测试用例,如Test DFSIO、Tera Sort。为了提出一种准确验证大数据计算模型效率的方法,本文将在分析总结现有成果的基础上,进一步对比现有的大数据测试基准,然后重点讨论TPC-DS测试基准和Big Bench测试。本文提出的方法,能够准确的验证大数据计算模型效率。  相似文献   

17.
张卫新  侯朝焕 《微电子学》2003,33(3):243-246
对单端口SRAM常用的13N测试算法进行修改和扩展,提出了一种适用于双端口SRAM的测试算法。该测试算法的复杂度为O(n),具有很好的实用性。作为一个实际应用,通过将该算法和13N测试算法实现于测试算法控制单元,完成了对片内多块单端口SRAM和双端口SRAM的自测试设计。  相似文献   

18.
基于航空发动机涡轮叶片表面温度准确测量的需求,本文提出了一种涡轮叶片表面温度测量方法。该方法以中子辐照SiC为测温晶体,利用温度对中子辐照SiC晶体结构的修复作用,测试经高温热处理后的SiC晶体的晶格参数值,研究发现SiC晶体的晶格参数(衍射角2θ)与退火温度之间存在一定的变化规律,因此,根据退火后晶体的晶格参数值即可以反演出其经历的最高温度。基于晶格参数值、退火温度和退火时间的数据集,采用Matlab软件拟合数据并获得了温度判读算法公式,得到的温度判读误差小于7.790%。  相似文献   

19.
马毅  王莹 《电信技术》1995,(8):22-23
准确查找过忙用户的一种方法青岛市邮电局马毅,王莹为了提高长途来话接通率,电信部门要组织疏忙工作。而疏忙的关键在于找到真正的过忙用户。以往的做法是根据用户的计次情况,或者是根据每线的话务量,当计次或话务量超过某一数值时即认为是过忙用户。这样找到的仅仅是...  相似文献   

20.
一、引言在设计微带器件时,经常遇到计算某些微带线的特性阻抗的问题。当微带线的结构很简单时,如图1所示,有表可查;当微带线的结构稍复杂一点时,问题就开始复杂化,有时只能通过实测或估算来确定特性阻抗的范围了。本文通过一个应用于FET放大器中的微带线的实例,如图2,试图介绍一种较精确计算特性阻抗Z_0的方法,该法借助于保角变换和椭圆函数等数学工具。  相似文献   

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