血压计改制方法一则

血压计的改制主要是将原来老标尺和玻璃管换掉,装上改制过的双标尺和新刻度玻璃管,用相应的标准器检定合格以后即可使用。我们在改制中把老式血压计标尺两边原计量单位用胶布贴上,按新标尺的要求量好画出新标尺两边零点到测量上限的刻线。在标尺右边胶布上均匀地画出零点至40kPa单位的80道刻线,每道刻线的分度值为0.5kPa单位,每2kPa单位,标一长线并有计量数字,线条宽度应符合规程要求,不大于0.6mm。在标尺左边胶布上均匀地画出零点至300mmHg单位的60道刻线,每道刻线的分度值为5mmHg单位,每15mmHg单位标一长线并有计量数字,线     

将1微米投影光学计改为0.2微米的读数

现在我厂用作精密测量的0.2微米投影光学计是由东德蔡司厂1微米投影光学计改装而成的,经北京市计量处鉴定认为符合要求。这项改革的工作量不大,做法简单易行。经多年使用证明改装后精度高,示值稳定,性能良好。一、仪器的结构刻度值为0.2微米和1微米的投影光学计的光路如图1a所示。光源1通过聚光镜2和棱镜3,将位于物镜6焦平面上的刻线标尺 4照亮(刻线标尺的结构及尺寸见图1b)。根据几何光学的成燉原理(图1d)可知,当刻线标尺上的光线经物镜6射向反射镜组7和8,并由摆动反射镜8将入射光原路反回后,标尺的刻线必定在与其同一焦平面的指标线位置上成像(图1c)。此时,标尺的刻线像便和指标线重合,并由投影目镜12放大,经过倒向反射镜13、14和15,将标尺刻线和指     

投影立式光学计常见故障及其修理

1微米标尺在视场中斜向运动的两种情况 (1)测轴上下滑动时标尺斜向运动. 产生原因:主反射镜摆动时的转轴与分划板刻线面不垂直所造成的. 修理方法:拧下格值圈,旋松测轴组与镜管固紧用压圈,旋转轴套,使整个测轴组绕光组旋转一个角度,然后移动测轴观察视场,直到标尺像刻线端与指标线某一虚刻线始终对在一个位置上即可,误差不超过1/10短刻线,调好后再紧固分划板组与滑板组的紧固螺钉,然后装上隔热玻璃组和标牌.     

用于二维线纹测量的二维动态光电显微镜

对二维线纹标准样板进行溯源测量时,需要对十字刻线进行高分辨力瞄准。利用二维动态光电显微镜,将二维样板十字刻线分别成像在相互垂直的两组狭缝上,狭缝宽度与刻线像的宽度基本一致,方向与刻线像平行,且在像空间上沿宽度方向错开约一个狭缝宽度的距离。当二维线纹样板沿某一方向运动时,对应方向被测刻线的像先后呈现在一组狭缝中,导致通过该组狭缝的光通量依次发生变化,对应的两个光电接收器的电信号存在相位差;信号处理系统根据两路电信号的相位关系,在信号交叉位置发出瞄准脉冲,锁定坐标测量系统,即得到该方向被测刻线的位置;分别对十字交叉刻线的两条刻线进行瞄准,即可得到对应交叉点的坐标。     

分度值和分辨力的区别

现在,有些检定规程把分辨力和分度值划了等号,认为模拟式测量设备有分度值而没有分辨力,数字式测量设备有分辨力而没有分度值,这种认识给计量界造成了混乱. 分度值:对应两相邻标尺标记的两个值之差.其别称就是标尺间隔. 分辨力:显示装置能有效辨别的最小示值差. 分度值和分辨力不是同一类术语.分度值就是测量仪器所能测量的最小值.对于指针仪表是指两个相邻的刻线之间所代表的量值之差.对于数字式仪表来说,也就是指变化一个单位的值.     

OPTON“万工显”纵向标尺放大倍数与微米分划尺方位的调整

在分划板镜筒上装一个辅助夹具(如图l所示),就可以将滑板装在上面,一面观察,一面调整。具体做法如图2所示。将辅助夹具6装在微米分划板镜筒4的外露部分,用螺丝5锁紧。略微松开顶丝2,装上纵向托板,用拨杆8的锥度端插入夹具6的调整孔7内,从目镜中观察,用手拨转夹具(即转动分划板4)。当标尺的某一条刻线分别对准两相邻0.1毫米双线的0微米和10微米两位置且偏差小于0.5     

基于AFM的刻线边缘粗糙度幅值与空间频率的表征方法

针对使用原子力显微镜测量纳米尺度半导体刻线边缘粗糙度的参数表征问题进行了研究．在对线边缘粗糙度的定义与现有测量方法进行分析的基础上,采用图像处理技术分析硅刻线的原子力显微镜测量图像的线边缘粗糙度特征,提出了线边缘粗糙度的幅值与空间频率的表征方法．其中幅值参数能够在一定意义上反映刻线边缘形貌的均匀性,而采用小波多分辨分析与功率谱密度函数（PSD）频谱分析相结合的空间频率表征方法,则有效地分析了侧墙轮廓边缘复杂的空间信息．实际测量结果表明,样本线边缘粗糙度的主要能量集中在低频区域,其主导空间频率为～0．04nm^-1,在低频部分约500nm特征波长上有最大的线边缘粗糙度分布．     

DZH型地中衡示值误差的调整

将大小游铊置于计量杠杆主尺和副尺的零刻线位置,调整末端的平衡螺丝,使空秤平衡。然后在承重台面上放置等于计量杠杆主尺最大刻度值的砝码 W,并将游铊由“0”位置移至刻线末端位置,此时计量杠杆若平衡(或在允差内),说明游铊重量及传力比均符合要求(零刻线与最大刻线位置平衡则其它各分度值也平衡),若主尺最大刻度值不准确即存在     

测长机光学系统常见故障及解决

分米双刻线像与0.1mm刻线像相对位置移动．分米双刻线像偏高或偏低。(1)如所有分米双刻线像都偏高或偏低，则是由测量头座中平行光管的直角棱镜位置与尾座中平行光管的直角棱镜位置已绕光轴移动造成。此时如分米双刻线像偏离不大．应打开尾座平行光管外罩．松开锁紧螺钉，微调直角棱镜光轴．反复调整，使0.1mm刻线像居于分米双刻线像正确位置再锁紧螺钉。有时还需要调整头座，调整方法与尾座相同。     

一种鲁棒的线纹尺图像刻线提取算法研究

为解决光照不均匀、锈斑、污损等因素造成的钢卷尺图像检测识别不准确问题,提出了一种基于Cabor变换的钢刻线提取方法。通过Cabor变换,使特征方向与特定频率的线条结构被过滤呈现出来,基于这些线条结构计算图像中的线纹尺待检刻线位置,之后通过RANSAC算法拟合刻线的双边缘,从而准确获得刻线中心位置。经实验证明,该算法可以在刻线质量较差的情况下,鲁棒地识别破损和有锈斑的刻线,有效地提高检测准确度和整个测量系统的鲁棒性,具有技术参考价值。     

光电比色计检修体会二则

一、581-G型光电比色计光标零位倾斜的调整 581-G型光电比色计的检流计在更换动圈或动镜后,有时会出现光点指示线与标尺零位线(左端透射比零位与右边吸光度零位)倾斜的情况:左端向左倾而右端向右倾,或左端向右倾而右端向左倾。笔者将前者称为“∨型零位倾斜”,后者称为“∧型零位倾斜”。出现这种现象的原因是由于动镜与吊丝不平行。倾斜较多时(如超过透射比标尺的一个分度),     

光切显微镜示值误差检定方法及误差分析

JJG76—80光切显微镜检定规程指出:用单刻线样板检定光切显微镜示值误差时,先将该样板置于被检仪器工作台上,并调整仪器使样板在视场出现清晰的像,借助仪器手轮移动该样板,使其应用段连同两个记号一起呈现在狭缝清晰像一边,且其刻线方向与狭缝像的长边垂直,转动测微目镜的十字线,使其水平线平行狭缝像的边缘后,与样板刻线表面像重合,并得到第一次读数a1,然后转动测微目镜之水平线与样板刻线底部的像重合,得到第二次读数a_2,所测得深度应为:     

用多齿分度台检测小度盘的刻线位置误差

本文介绍了用多齿分度台检测小度盘的刻线位置误差及其数据处理方法。对检测结果的可靠性进行了分析与估算。     

静态光电显微镜瞄准电路

本文介绍的静态光电显微镜瞄准电路是微机化光栅数显象点仪的一部份,其作用是在精密静态测长中,实时显示工件刻线象(测尺时)或边缘反射象(测端度或测孔时)与光电显微镜的振动狭缝振动轴线的相对位置,以提示操作者移动工作台,使工件刻线象或边缘反射象与狭缝振动轴线完全对中,从而避免了目测对线所产生的误差,使瞄准精度大为提高。     

对老式杠杆表的改进

在检修杠杆百分表过程中 ,有一批带有换向器的老式杠杆百分表 ,因其表体面窄长 ,测量内孔、深槽方便 ,使用范围广 ,深受使用者欢迎。执行新规程JJG35 - 92《杠杆百分表检定规程》后 ,旧规程与新规程对杠杆百分表指针与表盘的相互位置要求有所不同。旧规程要求 :指针安装后的起始位置和回转后的极限位置 ,应分别在表盘对称轴线两侧不少于 5～ 2 0分度。新规程对具有换向器的杠杆百分表要求为 :换向前后 ,指针应分别在零刻线的左、右上方 10～ 2 0分度内 ,总行程应超过量程0 1mm。老式杠杆百分表没有满足新规程要求。如只通过调整指针的位…     

测量圆周分度零件的一种误差分离原理

圆周齿轮、机械分度板以及刻线分度盘等圆周分度零件(或元件)的分度精度指标是周书累积误差(或最大刻线间距误差)。测量时,常用的方法是绝对量法和相对量法(或常角法)。要进行上述测量,被测件常常要作回转运动(以齿轮中心为中心测量齿轮),由于回转轴系有误差(如在加工机床上测大齿轮,即为机床工作台回转轴系的误差),以及作为绝对测量基准的基准件有误差,从而使得测量结果中包含了附加的误差。本文介绍一种简单的     

利用定心双刻线圆标找准被测件圆心

本刊七七年第一期《在“万工显”附件分度台上找准被测件圆心的快速方法》一文介绍了快速使被测件中心与分度台回转中心同心的方法。我们认为,如果分度台带有“定心双刻线圆标”,那么,这个工作还可以进一步简化。首先,我们将“定心双刻线圆标”插入分度台上的小孔,通过调焦和移动纵、横向导轨,使其双刻线和目     

HBRV-187.5布洛维硬度计故障分析与调修

HBRV-187.5布洛维硬度计是有多种负荷、压头和不同计量装置的多用硬度计,主要用于洛氏硬度试验,也可以进行布氏、维氏硬度试验.在使用一段时间以后,有以下故障出现:无光源指示;标度尺刻线在投影屏上成像不清晰;刻线不在投影屏中间;刻线与投影屏标线不平行;开始加主负荷时有震动;示值超差或不稳定.     

一种基于图像处理的半导体刻线边缘粗糙度的确定方法

随着半导体技术的不断发展 ,半导体刻线临界尺寸不断降低 ,线边缘粗糙度对元件性能的影响越来越大。本文综合运用图像处理中的直方图图像描述、阈值化描述以及Sobel算子提取半导体刻线的边缘 ,并根据边缘计算了粗糙度。最后给出了一个样本的实际测量结果并加以分析 ,结果表明这一方法可以用来测量和分析临界尺寸刻线边缘粗糙度     

一种显微图像测量系统的标定方法

提出了一种显微图像测量系统的标定方法。该方法通过同一对平行边缘在垂直和水平方向的两幅图像,计算水平比例因子;利用标定物直线边缘的图像,并运用优化的方法来计算成像系统的畸变系数和主点位置。在上述计算的基础上,利用量块来标定系统的放大倍数。标定过程所需的标定物为量规和带有平行刻线光学器件,如分辨率板等,因此方便实用。试验结果表明,该方法标定精度较高,标定后的实验装置的极限误差3σ为2.26μm。