电镀Zn—Co合金钝化膜的X光电子能谱分析

Ｘ光电子能谱（ＸＰＳ）分析表明，电镀Ｚｎ－Ｃｏ合金钝化膜与电镀锌钝化膜一样，均由ＣｒＯ３，Ｃｒ２Ｏ３，Ｚｎ（ＯＨ）２，ＺｎＯ２及Ｈ２Ｏ等组成，但Ｚｎ－Ｃｏ合金钝化膜中高价铬含量较镐，且在钝化膜的较深怪处有原子态钴存在，这是该合金钝化膜具有高耐蚀性的主要原因。     

Co-Cr合金膜的X射线线形分析

利用近似函数法对Co－Cr合金薄膜的衍射线线形进行分析，并提出用“三线法”确定衍射线的函数类型及其积分宽度，由此可计算薄膜的晶粒尺寸和微观应变。理论计算和实验表明，“三线法”结合近似函数法在线形分析方面是简便、可靠的。通过分析Co－Cr膜在不同工艺条件下（膜厚、Ar工作气体压强和负偏压）的衍射线线形，发现衍射线的物理展宽（即有效晶粒尺寸的减小）与晶粒取向度的下降是相对应的。晶粒取向度的下降与结构缺陷密度的增大有关。负偏压溅射时由于Ar原子残留在膜内引起晶格膨胀，从而使微观应变有较大增加。     

电镀Pd－As合金

概述钯－砷（Ｎ－Ａｓ）合金电镀工艺。Ｐｄ－Ａｓ合金镀层适用于制造装饰工艺品，电接触部件和非直立物品（波纹管）等     

NaCl溶液中Zn－Al－Cd合金的接触腐蚀研究

研究了作为牺牲阳极材料的Ｚｎ－Ａｌ－Ｃｄ合金在ＮａＣｌ溶液中与Ａ３钢、３０２不锈钢和纯铜偶接时的接触腐蚀行为，探讨了溶液中Ｃｌ－浓度变化，以及电偶对中阴极金属材料和阴阳极面积比Ａｃ／Ａａ不同时对电偶电流密度ｊＺｎｇ和电偶电势Ｅｇ的影响。结果表明，电偶对中阴极金属材料不同，ｊＺｎｇ随Ｃｌ－浓度增大有不同的变化趋势；ｊＺｎｇ与Ａｃ／Ａａ成正比关系；Ｃｌ－浓度变化对Ｅｇ的影响较大，而大多数浓度下阴极金属材料和阴阳极面积比不同对Ｅｇ的影响较小     

非晶态Ni－W合金电镀及其耐蚀性研究

本文研究了Ｎｉ－Ｗ非晶态合金电镀共沉积的规律及其耐蚀性。结果表明，镀膜中钨含量达到４３．３ｗｔ％以上时，形成非晶态结构，且该镀膜可在较宽的电势范围内形成钝化膜，具有较强的耐蚀性     

镍－铁－磷非晶态合金电镀新工艺

报道了一种Ｎｉ－Ｆｅ－Ｐ非晶态合金电镀新工艺，讨论了镀层成分与工艺参数间的关系，解决了镀液因Ｆｅ３＋存在及ｐＨ值不稳定产生的问题。通过Ｘ射线衍和电子显微镜扫描检测，结果表明在Ｈ２ＰＯ３体系中得到了含量在．２０％～６０％，含磷量在８％～１６％的Ｎｉ－Ｆｅ－Ｐ非晶态合金镀层。     

锌铁合金镀层铬酸盐黑色钝化膜的光电子能谱研究

用Ｘ光电子能谱（ＸＰＳ）结合Ａｒ＾＋刻蚀技术研究了Ｚｎ－Ｆｅ合金镀层（Ｆｅ〈１ｗｔ％）铬酸盐黑色钝化膜的组成随深度的变化。结果表明：钝化膜层和过渡层厚度分别为１６０ｎｍ和２４０ｎｍ;钝化层的组成基本上是均匀的,含有Ｃｒ,Ｏ,Ｚｎ,Ａｇ,Ｃｕ,Ｆｅ,Ｓ等元素;从Ａｒ＾＋刻蚀曲线的组成恒定区求得膜层主要元素相对浓度约为３２．２４ａｔ％ Ｃｒ,６３．２６ａｔ％ Ｏ,４．５０ａｔ％ Ｚｎ。     

Zn－Co合金镀层耐蚀性研究

通过ＮＳＳ试验、ＳＯ_２气体腐蚀试验以及－ｔ、Ｒｐ－ｔ曲线及循环伏安曲线的测定，对Ｚｎ－Ｃｏ合金镀层耐蚀性进行了研究，并解释了该镀层的耐蚀原因。     

氯化物电沉积Zn－Fe合金工艺

在氯化钉镀锌的基础上，通过添加铁盐，可得到Ｚｎ一Ｆｅ合金镀层。研究了镀液组成及工艺条件对镀层含铁量的影响，控制它们在最佳值，可得到合铁量为０．４％～０．７％的Ｚｎ－Ｆｅ合金镀层。确定了Ｚｎ－Ｆｅ合金镀层的黑色钝化处理ｘ艺，并对镀液、镀层性能进行了测试。     

电沉积Ni-W合金镀层的X射线光电子能谱分析

采用X射线光电子能谱（XPS）对电沉积Ni-W合金镀层表面膜进行了分析。研究结果表明，Ni-W合金镀层表面存在一层薄的氧化膜，而钨的氧化作用远大于镍，Ni-W合金镀层中W含量的提高对耐蚀性起决定作用。     

ZrO2薄膜的XPS分析

用射频溅射制备了氧化锆薄膜，用Ｘ光电子能谱技术分析了ＹＳＺ膜的结构，发现低能轰击会引起膜中钇的反优再溅射，造成钇的分布不均匀导致单斜相的出现。     

被氧气毒化后LaNi4.7Al0.3的XPS分析*

通过XPS研究了被氧气毒化后LaNi4.7Al0.3合金的La、Ni、Al元素价态的变化,采用氩离子枪溅射刻蚀,获得了元素价态随深度的变化信息,结果表明,在表层生成物为La(OH)3、LaH2、Ni、NiO、Ni2O3、Al2O3。当溅射到0．4min时,O的谱峰发生了较为明显的变化,γ相的Al2O3增多,α相的Al2O3减少。当溅射到2．0min时,合金的内表层Ni2O3减少,NiO增多,合金的氧化程度减轻。当溅射到10min时,出现了金属La。可见,表层氧化较充分,随着深度的增加,氧化程度减轻。     

镀锡板钝化膜影响涂漆附着力的XPS分析

镀锡板钝化膜的组织结构影响后续涂漆的附着力.利用光电子能谱(XPS)分析了镀锡板钝化膜表层和内部的组织结构,从而分析其对镀锡板涂漆附着力的影响.结果表明:阴极钝化过程中钝化液夹杂杂质离子造成镀锡板钝化膜含Cl元素,Cl含量较高时涂漆附着力差;钝化膜中Cr(OH)<,3>对涂漆附着力影响较大,其含量越高,涂漆附着力越差;...     

镁合金表面钝化膜微观组织分析及可镀性研究

采用氢氟酸对AZ61镁合金进行钝化处理，对钝化处理得到的转化膜的物相、厚度、耐蚀性进行测定，着重对微观组织及可镀性进行了分析。结果表明，氢氟酸处理得到的氟化镁转化膜对镁合金基体有较好的保护作用，在氟化镁钝化膜上电镀铝是可行的。     

气相和溶液多硫化物钝化InP表面的XPS和AFM研究

利用X射线光电子谱和原子力显微镜研究经气相和溶液钝化的InP表面的化学健合、表面残余氧含量、表面刻蚀效应和粗糙度。结果表明 ,采用气相多硫化物钝化可以获得均匀、光滑和可重复的表面质量 ,但其热稳定性不如溶液多硫化物钝化的InP表面好     

Ce_(68)Al_(10)Cu_(20)Nb_2大块非晶表面钝化膜的研究

采用铜模冷铸法制备了Ce_(68)Al_(10)Cu_(20)Nb_2大块非晶合金,利用动电位极化曲线和电化学阻抗谱技术(EIS)研究了合金在1mol/L NaOH溶液中的腐蚀行为,并用扫描电子显微镜(SEM)对电化学钝化前后试样的表面形貌进行了表征,最后利用X射线光电子能谱(XPS)分析了电化学钝化处理获得的钝化膜的成分。结果表明:Ce_(68)Al_(10)Cu_(20)Nb_2大块非晶合金在1mol/L NaOH溶液中具有明显的自钝化现象,钝化区为-0.25~0.50V,维钝电流密度为10-5~10-6 A/cm~2;通过电化学钝化后获得的钝化膜可分为外部疏松层和内部致密层;外层主要是Ce的氧化物/氢氧化物和Nb的氧化物,内层则由Ce,Cu和Al的氧化物/氢氧化物和Nb的氧化物构成,钝化膜从外到内,随深度增加,氢氧化物含量逐渐减少,氧化物含量逐渐增加。     

DAST晶体XPS数据分析基准的讨论

为了方便地表征4-(4-二甲基氨基苯乙烯基)甲基吡啶对甲基苯磺酸盐(DAST)的性质,采用X射线光电子能谱仪(XPS)分别对两种原粉的DAST晶体、吸附有一定量水的DAST籽晶和新制备的DAST籽晶进行了表面元素分析。通过分析数据,并选取其中合适峰位的元素作为数据分析时的基准。结果表明,DAST晶体中的C、N、O元素均不适合作为XPS数据分析的基准元素,可能来源于表面沾污的Si元素也不能作为数据分析的基准,而将晶体中硫元素(167.50 eV)作为基准,校准数据后分析C、N元素,其结果是合理的。     

铝合金表面硅烷化膜层的表征及电化学分析

为了充分地了解双-[3-(三乙氧基)硅丙基]硫化物(BTESPT)水溶胶和膜层的形成过程及结构变化,采用傅立叶反射吸收红外光谱(FTIR-RA)和电化学阻抗谱(EIS)分析以及扫描电子显微镜(SEM)观察分析,对沉积在YL12铝合金表面的BTESPT水溶胶膜层进行了表征.结果表明,水解时间和固化工艺对膜层的组分和结构有显著影响,高温固化形成膜层的电化学阻抗比室温陈化形成膜层的阻抗更高,并且室温预陈化后的膜层在非腐蚀性水溶液中需进一步陈化才能提高膜层的致密性和均匀性.     

纺织纤维表面的X光电子能谱研究袁骏

由于纤维聚集体不同于紧密结构材料，在用XPS测定分析纤维表面结构时，电子被电离射出的量要小得多，测定的灵敏度较低。通常纤维的聚集结构越紧密，对测定分析结果越有利，机织物是较好的测试材料形式。在对纤维表面元素含量测定时，低含量成分有变小的趋势，而高含量成分有变大的趋势。在测定分析纤维表面元素含量时，这种影响趋势对测定低含量成分可能会有较大的影响。，During the determining and analyzing the surface structure of the fiber by XPS, it is much different compared with the compact materials. For the less ionized electron emitted, the determining sensitivity is relatively lower. In general, the compact gathering way of fiber will do advantage of the determination, i.e. the woven fabric is the better sample way. The result analysis shows that the small amount element will be determined lower than its real amount, while the majority element will be determined much higher. This trend ought to be taken into account when analyzing the small amount element.