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本文介绍了国产160kN、210kN、300kN三种直流盘形悬式绝缘子的性能参数和试验研究情况。重点介绍了直流绝缘子的伞形研究、瓷质抗老化研究和钢脚抗腐蚀研究,并列举了160kN级的人工污秽、离子迂移和钢脚加速腐蚀等试验结果。 相似文献
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直流输电具有比交流输电稳定、线损小、线路投资少、输送距离长、功率大等优点。但直流输电对绝缘子的防污秽性能要求高,对其金属附件(铁帽和钢脚) 腐蚀厉害。采用大盘径和高、矮伞棱交错结构,以提高防污秽性能;铁帽口采用锌环和钢脚采用锌套,以提高抗腐蚀性能;在玻璃配方中适当增加稀有元素Li2O 的含量,用K2O 取代少量Na2O ,以提高产品的体电阻,避免热击穿现象的发生。采用上述措施生产的3 种直流玻璃绝缘子,顺利地通过了型式、陡波冲击耐受电压、直流人工污秽耐受电压、直流干耐受电压、SF6 气体直流耐受电压、热电破坏和离子迁移老化等试验,它的挂网试运行零值自破率逐年减少,其中,LXZY- 210 绝缘子第3 年的自破率为0 %。 相似文献
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合成绝缘子的离子迁移试验研究(Ⅰ) 总被引:1,自引:0,他引:1
离子迁移是直流电场下的传统的瓷和玻璃绝缘子出现高故障率的主要原因之一。通过对几个具有性的厂家生产的合成绝缘子进行的长期离子迁移老化试验,结果表明:离子迁移对直流合成绝缘子的安全运行不构成威胁。 相似文献
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文章对架空送电线路悬式瓷绝缘子的故障机理进行了分析,尤其对近年来我国由绝缘子污闪所造成的大面积停电事故及所采取的措施作了讨论,并针对这些故障机理,提出了一些改进现有悬式瓷绝缘子结构提高污闪电压的措施。 相似文献
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瓷质悬式绝缘子的检测 总被引:2,自引:0,他引:2
对运行中的瓷质悬式绝缘子的检测一般都采用测量电压分布的方法 ,其试验设备为 :电压分布测量仪 ;火花间隙检测装置。由于绝缘子串中每片绝缘子承受的电压不一且相差较大 ,检测很不方便 ,而且可能漏判 ;为了正确、方便地判断瓷质悬式绝缘子 ,本文对所研制、开发的“劣化绝缘子判定仪”作一简单介绍 相似文献
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污秽绝缘子闪络机理研究综述 总被引:10,自引:1,他引:9
文章综述了几十年来国内外对污秽绝缘子闪络机理的研究状况,包括电路模型、能量模型、动态模型、交流电弧重燃条件、电场模型以及低气压下的电弧特性等,并根据真型绝缘子串污闪放电过程的拍摄结果,提出了由剩余污层电阻、沿面电弧和空气间隙电弧串联组成的低气压下绝缘子长串直流放电数学模型,同时对未来绝缘子污秽闪络机理的研究方向进行了展望,指出真型绝缘子长串放电过程、绝缘子剩余污层电阻、低气压下局部电弧特性的测量等是今后研究的重点。 相似文献
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特高压等级线路中为满足机械特性的需要而应用到多串并联形式的绝缘子串。为此,分别在交流和直流电压下通过人工污秽试验研究了多串并联绝缘子的污闪特性,试验中分别采用了2联、3联、4联以及6联的结构。试验结果表明,多串并联绝缘子的污闪电压比单串低,其原因除了绝缘子并联串数的增加导致其污闪概率的升高外,还受到并联串间放电产生的电离空气的影响。并联数4时,多串并联绝缘子的污闪电压比单串降低约4%;并联数≥4时,污闪电压降低超过10%。建议在实际工程中使用多串并联的形式时,将瓷绝缘子的片数在原基础上增加8%,复合绝缘子的串长增加5%。研究结论可为特高压输电线路外绝缘的设计与建设提供参考。 相似文献
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布置方式对直流绝缘子串人工污秽闪络特性的影响 总被引:6,自引:4,他引:6
直流绝缘子串布置方式对污闪电压有影响,以2种典型直流瓷绝缘子(XZP-210和XZP-300)为试品,在人工雾室中通过试验研究了悬垂单串布置(I型)、悬垂双串布置(II型)和V型布置绝缘子串的直流负极性污闪特性,分析了布置方式对负极性污闪电压的影响。结果表明:直流绝缘子串布置方式对污闪电压有影响;在不同污秽程度下,V型布置时直流污闪电压比I型布置时高14.5%~25.9%,II型布置则比I型布置低4.2%~9.0%;且随着污秽程度的增加,V型布置相对于I型布置的污闪电压提高的百分数和II型布置相对于I型布置降低的百分数均增大。 相似文献
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随着直流输电工程在西部地区不断开工建设,高海拔地区的直流输电线路的外绝缘特性成为亟待解决的问题,而如何对直流长串绝缘子污闪电压进行海拔修正仍没有形成统一的认识.为此,开展了不同海拔高度下直流长串绝缘子污闪耐压试验并建立了直流长串绝缘子污闪模型.模型计算了绝缘子在不同海拔高度和不同污秽度下的污闪电压,并与试验结果进行了对比分析,试验结果验证了模型的适用性.由试验结果得出了污闪电压与气压可用线性关系表示,推荐了在附盐密度(salt deposit density,SDD)为0.05,0.1 mg/cm2两种典型污秽度时绝缘子的气压特征指数(n). 相似文献
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低气压下染污绝缘子的直流放电特性研究 总被引:2,自引:0,他引:2
根据在人工气侯室内对悬式绝缘子XP—7,XWP2—7,DC—Ⅱ—16和支柱绝缘子ZS1—35—400,ZWS1—35—400的直流污闪试验结果,得到了直流闪络电压与气压和盐密的关系,并对不同结构绝缘子的污闪特性进行了分析,提出了表征直流污闪电压随气压降低而下降的特性指数n值的选取原则,并与交流下的结果进行了比较和分析。 相似文献