吸水性对介电常数和介质损耗角影响因素研究

因为电子产品容易吸收水分,所以电子行业对介电常数、介质损耗角的关注程度一直居高不下。文章概述了在覆铜板行业中测试介电常数、介质损耗角的影响因素。     

低介电常数和低介质损耗覆铜板材料的介绍

随着先进通讯设备和技术的发展,广泛应用于通讯领域的各种高频电子设备的需求也在飞速增长.为满足高频信号的传输,高传输速度和高频低损耗的需求,各种低介电常数(Dk)和低介质损耗(Df)的覆铜板基材也在不断的发展中.目前低介电常数和低介质损耗的板材通常使用氰酸脂、苯乙烯马来酸酐、PP0/APPE、PTFE、PI或他们的混合物来制造,还可以结合使用低介电常数、低介质损耗的玻璃纤维布来生产.文章主要针对高频电路的特点、板材实现低Dk/Df的方法及相应的一些表征方式与计算方法做了一些介绍.     

微扰用介质薄片介电常数的精确测量

本文介绍作为平面结构慢波系统耦合阻抗测量用的介质薄片(云母片,陶瓷片等)介电常数ε_r的测量方法——谐振微扰法;并考虑到测试腔耦合元件电纳对测量结果的影响,提出了修正公式。在三厘米波段,对几种介质薄片进行了实际测量,并与传输线驻波比法进行了比较。这种测量方法还适用于各种半导体材料薄膜介电特性的测量。     

共面式波导的介质损耗和导体损耗

本文对共面式波导的导体损耗和介质损耗进行了分析,用实验验证了分析的结果。由于波导是由两种导体组成的,假设传播横向电磁波,解关于波导横截面电位分布的拉普拉斯方程。根据横截面的电位分布,求出了导体表面的电流分布和导体损耗。并且求出了表示介质衬底对波导的电性能影响的参数,即等效相对电容率,由此求出了介质损耗。为了解拉普拉斯方程,这里采用了逐次加速近似法,用电子计算机进行了处理。为了缩短电子计算机的处理时间以及减少存储器的使用量,考虑到波导横截面的对称性,只对1/4区域进行了分析。通过对由共面式波导构成的谐振器的品质因素的测量,对这些分析结果进行了实验验证。结果,对于导体损耗,两者误差则小于25％;对于介质损耗,则小于6％。     

用多模分析方法测试介质谐振器复介电常数的频率特性

本文提出了测试微波介质谐振器复介电常数的多模分析方法。ＴＥ０ｍｍ高次模的谐一文提出了工得到，利用高次模谐振频率计算可工作模式从杂模中分辩出来测试，以考察复介电常数的频率特性。     

谐振腔中测量大介电常数、大损耗介质材料的小试样方法

作者和提出的方案,只适用于小介电常数、低损耗材料的测试。本文采用小试样方法,推导了一套小试样公式,以同一套测试设备、解决了大介电常数、大损耗材料的测试。     

用谐振腔-截止波导技术测量介质谐振器的复介电常数

在TE01n模谐振腔的一个端面中央,开一圆孔,连接一根等直径、适当长度的截止波导,当截止波导中置入介质谐振器时,使含介质段对TE01模呈传输态。介质谐振器的前向波导段用于调节耦合强弱,足够长度的背向波导段则形成匹配电抗终端或置入金属场构成短路终端。这两种安排都能使置入介质谐振器前后的谐振腔产生相当大的谐振长度和Q因子的变化,从而能获得准确的介质谐振器无载Q因子和介电常数。在X频段对陶瓷谐振器进行测量,获得满意的结果。     

介质复数介电常数的微波测量

本文推广了Roberts-Hippel公式,对介质中相位常数编制的计算程序使我们能很快地得到它的多值解。该方法不需要特殊设备,但能满足一般介质材料的测量精度要求。     

用谐振腔—截止波导技术测量介质谐振器的复介电常数

在TE01n模谐振腔的一个端面中央,开一圆孔,连接一根等直径、适当长度的截止波导,当截止波导中置入介质谐振器时,使含介质段对TE01模呈传输态。介质谐振器的前向波导段用于调节耦合强弱,足够长度的背向波导段则形成匹配电抗终端或入金属场构成短路终端。这两种安排都能使置介质谐振前后的谐振腔产生相当大的谐振长度和Q甸子的变化,从而能获得准确的介质谐振器无载Q因子和介电常数。在X频段对陶瓷谐振器进行测量,获得满意的结果。     

热电探测器温度噪声和介质损耗

在理论上和实验上业已证明,热电材料及其环境之间的热导,对其介质损耗测量值有很大影响。介质损耗正切测量值中的这一热的贡献决定于其和环境热交换的情况,比材料本身的损耗正切值,即畴壁运动、缺陷和杂质造成的损耗值要大。在钽酸锂做成的探测器中,己经看到,此热导引起的温度起伏(温度噪声)对归一化探测率(D~*)有影响。     

用平行金属板介质谐振器测量介电常数时空气隙的影响

本文讨论了利用高次谐振模(而不是一般所用的TE_(011)模)测量介质谐振器相对介电常数的考特尼方法,并作了误差分析,分析中考虑了在介质谐振器与两块平行金属板之间所存在的空气隙的影响。     

高介电常数陶瓷介质材料的研制

<正> 目前,国内外生产大容量单片陶瓷电容器大都采用以BaTiO_3为主要成份的瓷料。为满足整机对元件的小型化的要求,进一步提高这种瓷料的介电常数是很有意义的。本文是作者参加研制高介电常数介质材料工作的一些体会和认识。     

BSZN微波介质陶瓷介电常数的异常

研究了(Ba1-xSrx)(Zn1/3Nb2/3)O3(BSZN)微波介质陶瓷介电常数的非线性变化以及异常的原因。随着系统中Sr(1/3Nb2/3)O3的增多,介电常数的异常是由于氧八面体的畸变导致的相转变(对称性降低)及第二相的生成造成的。未发生相转变前,介电常数的增大可用电介质理论加以解释;发生相转变后,介电常数呈线性下降趋势,符合对数混合定律。     

高介电常数陶瓷介质组成物的研制

本文研制了介电常数为３０００－４０００，容量变化率小于±１０％，而且烧成温度范围较宽，组成为高纯度ＢａＴｉＯ３９５－９９ｗｔ％，ＣＯ２Ｏ３０．０５－０．５ｗｔ％，ＮＯ２Ｏ５０．５－２ｗｔ％，以及ＣｅＯ２０．０５－０．５ｗｔ％，ＴｉＯ２１．５ｗｔ％组成的高介电常数陶瓷介质。     

微波介质陶瓷介电常数测量的简单方法

应用等效网络法分别测量了空气、聚四氟乙烯及微波介质陶瓷材料片状试样的介电常数。理论分析计算与实验结果表明,该方法在无损测量片状微波介质陶瓷材料试样的介电常数中是可行的,且有模型简单、计算量小、精度较高及操作容易等特点。是一种无损测量片状微波介质陶瓷材料介电常数的简单方法。     

天线卓介质损耗的精确测量

提出了一种测量天线罩介质损耗的方法,对其工作原理、测试程序及测量误差作了论述和分析。本方法适用于高性能天线罩介质损耗的精确测量,可以为天线罩的研制提供有效的判据。应用本方法对某夹层型雷达天线罩的材料和制作工艺进行了优化,实验结果良好。     

微带线法测量介质材料的高温介电常数

微波介质材料的电磁参数决定了其在各领域的应用性能。为探索高温条件下介电常数的变化趋势,文章讨论了设有空气隔热层时的微带线法测量原理,分析了微带线法测量不确定度的影响因素。完成了介质材料1~40 GHz的常温、高温介电常数测量,并对测量结果的不确定度进行评估。测量结果表明:20 GHz以上,介电常数的相对不确定度略有增加,微带线法的测量结果较为准确。     

微波介质陶瓷相对介电常数的简易测量

为缓解微波介质陶瓷（ＭＷＤＣ）研制中，在介质性能测量方面存在的困难，介绍两种较为简便易行的ε＿ｒ测量方法。评述了其原理并给出了实验数据对照。