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立式接触式干涉仪通常用于比较测量法测量量块 ,很少考虑混合测量法的应用。而一般小型企业不建立正、负微米组标准量块。只有在 83块组标准量块的情况下 ,才运用混合测量法 ,可使正、负微米组量块的检定问题得到解决。利用立式接触式干涉仪刻度上± 5 0分度值 (分度值取 0 1μｍ时 )以混合测量法进行检定正、负微米组量块中心长度尺寸和平面平行性尺寸。( 1)取 83块组标准量块中的 1 0ｍｍ块 ,将干涉仪“零位”线对准刻度中的“ 0值” ,分别进行检定 1 0 0 0ｍｍ、1 0 0 1ｍｍ、 1 0 0 2ｍｍ、 1 0 0 3ｍｍ、 1 0 0 4ｍｍ量块。注意 :读数… 相似文献
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立式接触干涉仪常用于比较测量法测量量块,人们较少考虑混合测量法的应用。在没有正微米组标准量块而只有83块组标准量块情况下,运用混合测最法,可使正9块微米组量块和46块组中同种规格微米块的检测问题得到解 相似文献
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接触式干涉仪是应用光波干涉原理,对微小位移进行测量的精密仪器。采用比较法,即将被测量与标准量相比较从而测得其差值的方法,其可用于检定长度不大于150mm的量块和其他工件的精密测量。仪器读数窗中刻度尺刻度范围为±50分度,刻度尺的分度值（可调）推荐采用的为0．05μm、0．1μm、0．21μm三种。 相似文献
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作者根据实践经验提出采用F-P标准具及白光干涉仪实现检定1等量块及0级量块将大大提高检定工作效率和检定的不确定度。采用F-P标准具作为长度量传的实物基准还有以下优点:基准无磨损寿命长,长期使用其成本比用1等量块作为实物基准要低很多,其他等级量块也可以采用这种方法进行检定。该方法还可用于检定0级三针、分度值小于0. 1μm的传感器以及用于其他精密测量,对于量块生产企业实现0级量块检定自动化意义更加重大。 相似文献
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《0.2μm光学计检定规程》所述示值误差检定方法为:用二等量块以“配对法”检定。在0～±20μm范围内,每间隔10μm检定一点,超过±20μm的范围,每间隔20μm检定一点。检定时以第一块量块对准零位,第二决量块检定受检点的示值误差,再以第二块量块对准零位,第三块量块检定受检点的示值误差,以此类推,直至所需配对量块的最后一块量块。检定正向刻度时,量块的尺寸按递增方式进行,检定负向刻度时,量块尺寸按递减方 相似文献
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塞尺是一种检验间隙用的薄片式量具 ,其应用十分广泛。根据JJG6 2 - 95《塞尺检定规程》中要求 ,塞尺尺片厚度采用卧式测长仪直接检定 ,其操作起来十分繁琐。在实践中 ,我们采用 3等量块作标准在微米千分尺上检定。分度值为 1μm的千分尺基在 0～ 2 5mm范围内的示值误差为± 3μm ,而塞尺片厚度为 (0～ 1)mm ,在其之间误差很小。测量时 ,塞尺片垫上 1mm量块 ,其偏差为 0 0 8μm (检定证书给出 ,量块长度偏差可忽略不计 )。微米千分尺在测量塞尺片的厚度时 ,其使用范围为 (1～ 2 )mm ,而实际上微米千分尺的示值误差非常小 ,如果知道微米千… 相似文献
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文献[1]F-P标准具用于量块量值的传递与溯源一文(中国测试技术2012年增刊第2期54-58页)介绍具有F-P标准具的白光干涉仪检定量块的光学原理及其结构,以及检定F-P标准具的等倾干涉的原理。而进一步对具有F-P标准具的白光干涉仪检定量块的测量不确定度的分析,则由本文完成。该文首先对F-P标准具的检定及其测量不确定度就行了分析。量块尺寸在白光干涉仪上与标准具作比较测量。为减少标准具的数量,量块尺寸可以与两块或三块标准具组成的尺寸进行比较,也可以是由一块尺寸较小的标准具经过光学倍增法实现与被检量块尺寸相同进行比较。例如80mm的量块用40mm的标准具进行比较,这时在量块上的光路在标准具中多一次反射达到;90mm量块则用30mm标准具进行比较。他们也可以由两块标准具组成的尺寸进行比较。分析时以倍增法测量误差最大,以其进行计算。充分证明具有F-P标准具的白光干涉仪完全满足检定1等量块的要求。通过文献[1]及本文的介绍,映证该技术可以实现普及1等量块的检定及量块的自动化检定,特别适用于量块生产厂00级、K级、0级量块的自动化检定。 相似文献
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目前,我们在量块检定中主要使用的仪器是立式光学计和接触式干涉仪,检定中发现个别量块（特别是10mm－100mm）两次测量结果已超过测量极限误差的1／3。原因主要有两个：一是在量块检定中,由于测量人员不仔细等原因造成错误的读数或错误记录,这种误差只要复检人员认真负责,即可消除。二是在量块检定中,量块之间、量块与工作台相碰产生小毛刺,带来误差。另外由于标准量块经常使用,所以标准量块的下工作面与工作台筋经常接触而产生筋痕,如立式光学计产生多条筋痕、接触式干涉仪产生三条筋痕（如图1所示）,也给量块检定带来“误差”。… 相似文献
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接触式干涉仪又名乌式干涉仪,它是检定100mm以下3等、4等量块时主要设备之一,接触式干涉仪一般配有球筋工作台和五筋工作台。在检定时分别用于检定2mm以下和2-100mm量块的长度及变动量。标称长度L≤2.5mm的量块在自由状态下其平面度公差如表1所示,因此国家计量检定规程“接触式干涉仪”中要求, 相似文献
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0引言
接触式干涉仪是以光波干涉原理为基础，采用微差比较法测量长度的高准确度仪器。主要用于检定尺寸小于150mm的2等和2等以下的量块，也可对其他高准确度零件进行测量或作高准确度定位。在一般计量部门．接触式干涉仪较多地使用于检定和校准3、4等量块。 相似文献
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按照三针检定规程ＪＪＧ4 1— 90 ,三针直径的检定应在卧式光学计或立式光学计或接触式干涉仪上以三等量块比较检定。其中 ,卧式光学计因结构和精度上的原因现使用较少 ,而用立式光学计或接触式干涉仪检定时需在专用工作台上用窄平面测帽进行 ,不但专用工作台不易制作 ,且在检定过程中需仔细调节仪器的测量轴线与工作台面垂直 ,否则会产生较大的测量误差。在实际工作中 ,尝试用球形测帽直接在仪器工作台上以三等量块比较测量法检定三针直径 ,经使用效果良好 ,现以在立式光学计上检定直径为 0 2 91ｍｍ的三针为例介绍如下 :首先在立式光学计… 相似文献
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1概述接触式干涉仪(以下简称干涉仪)是应用光波干涉原理,采用微差比较测量法测量长度的高精度计量仪器。干涉仪由前苏联计量仪器专家乌威尔斯基设计并制造,因此通常称为乌氏干涉仪。干涉仪主要用于检定尺寸小于150mm的3等及以下量块的尺寸,也可以对其他高精度零件进行精密测量或作高精度测量的定位。 相似文献
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1概述接触式干涉仪(以下简称干涉仪)是应用光波干涉原理,采用微差比较测量法测量长度的高精度计量仪器。干涉仪由前苏联计量仪器专家乌威尔斯基设计并制造,因此通常称为乌氏干涉仪。干涉仪主要用于检定尺寸小于150mm的3等及以下量块的尺寸,也可以对其他高精度零件进行精密测量或作高精度测量的定位。 相似文献
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检定测量范围大于300mm的游标高度尺,在没有专用量块的情况下,可用83块组,8块组或5块组的4等量块及一米的测长机,对其示值误差进行检定。现将检定方法介绍如下: 以分度值为0.05mm测量范围为0～1500mm的游标高度尺为例。取受检点为751.2mm。如图所示,将高度尺1调至751.2mm,同时将内径千分尺2也调至751.2mm(含块 相似文献
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在JJG146-2003《量块》检定规程中关于量块长度稳定度作了某些规定。但实际检定工作经验告诉我们,其中5等(3级)标准量块要求最大允许年变化量±(0.05μm 1.0×10-6×Ln)过严,不切实际。理由有如下几点:1#5等(3级)标准量块一般是用分度值为1μm的光学计检定的,在检定结果数据处理时精确到保留小数点后一位,因此量块检定时其中心长度除非与上年度检定结果完全一样,否则都将有至少±0.1μm的年度变化量。如果要满足公式±(0.05μm 1.0×10-6×Ln)的要求,那么许多被检量块都将面临降等、降级。例如,现有一副20块组(5.12～100)mm检定千分尺专用… 相似文献
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电子水平仪示值误差的检定采用的是小角度检查仪与量块所形成的标准小角度与放置在小角度检查仪上的电子水平仪所显示的角度值相比较而得出的。量块是形成标准角的主要标准器。在电子水平仪的检定中规定分度值为 0 0 0 1ｍｍ/ｍ和 0 0 0 5ｍｍ/ｍ的电子水平仪使用 3等或 0级量块 ;对分度值为0 0 1ｍｍ/ｍ～ 0 0 5ｍｍ/ｍ的电子水平仪使用 4等或 1级量块。按级使用量块检定示值误差时 ,使用的是量块的标称值 ,所形成的标准角度都为电子水平仪被检点的标称值 ,计算示值误差比较直观、简单。但是 ,按级使用量块时 ,随着使用过程中量块的磨… 相似文献
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关于平尺直线度检定的问题 总被引：1，自引：1，他引：0
问:JJG116—83平尺检定规程第7条规定“平尺工作面直线度,用分度值1”或0.005mm/m的自准直仪进行检定;尺寸大于500mm的1级和2级桥形平尺也可用分度值为0.01mm/m的合象水平仪检定;尺寸大于2000mm 1级和2级桥形平尺也可用分度值为0.02mm/m的框式水平仪检定”。为什么0级平尺工作面直线度不能用合象水平仪检定呢? (广东吴宁) 答:用水平仪或准直仪检定直线度,是由节距法取得读数,每个读数是相邻两点的高度 相似文献