一种基于射线照相的X射线衰减系数获得方法

提出了一种通过射线照相法计算X射线在物质中衰减系数的方法,通过简单实验以及计算快速获取不同能量X射线在物质中的衰减系数。设计实验找出了底片黑度与工件厚度的关系曲线,推导出表达式,并得出表达式的可信区间。用射线照相法实测了管电压为140、130、120kV时钢质台阶试块的X射线衰减系数与理论值对比,其标准误差＜3%,证明了该方法的可靠性。射线照相法求物质衰减系数计算简单、操作便捷、误差小,有望推广应用于材料中X射线衰减系数的估算。     

同步辐射单能X射线空气质量衰减系数的测量

介绍了3种X射线空气质量衰减系数的测量方法:移动距离法、抽真空法、EGSnrc蒙特卡罗模拟计算法。给出了抽真空法中真空管内空气质量厚度改变量的计算公式,并模拟分析了真空管Be窗对实验的影响。移动距离法与抽真空法得到的结果较接近,验证了抽真空法实验的合理性。当X射线能量为6 keV、20 keV时,EGSnrc蒙特卡罗模拟计算结果与NIST标准数据库数值偏差分别为0.01%、0.26%。     

软X射线质量吸收系数的测定

制备了厚度为２５－２２５ｎｍ的Ｃ、Ａｌ、Ｔｉ、Ｃｕ、Ｎｂ、Ｍｏ、Ａｇ、Ｔａ和Ｗ９种元素薄膜样品,用化学分析方法测定了薄膜的质量厚度ｐｚ,并用电子探针测定了软Ｘ射线ＣＫα、ＢＫα的出射强度Ｉ０和穿过薄膜对ＣＫα、ＢＫα辐射的质量吸收数μ,并与以往的数值进行比较。     

乳腺X射线基准装置半值层的测量

用工业钼靶X射线光机作为基准的辐射源,自行设计了一种圆柱形自由空气电离室作为基准电离室。参考国际标准建立了4个规范辐射质,采用曲线拟合的方法测量了各辐射质的半值层、第二半值层和同质系数,并求出了各规范辐射质的有效能量。与国际计量局乳腺X射线基准的半值层数值进行对比,偏差在1%左右。     

低能X射线标准辐射场下背散射因子的测量与研究

在40 ～60 kV的治疗水平辐射质下,对背散射因子进行了测量实验研究.所测得的背散射因子可用于相同条件下的水吸收剂量的计算.实验结果显示,在不同模体厚度下,随着模体厚度的增加,测量点处的背散射因子呈现先增大后稳定的趋势;在不同辐射野下,随着辐射野面积的增大,测量点处的背散射因子呈现增大的趋势.     

介入法测量工业X射线光机管电压的研究

建立了基于分压箱介入法测量工业X射线光机管电压的方法,测量了工业X射线光机MG165的管电压。结果显示管电压纹波小于4%,其中35 kV以上,纹波小于1%;7.5～150 kV范围内平均管电压与标称值偏差小于1.8%,多次测量管电压重复性好于0.01%,测试重新出束和开机条件下的管电压重复性,结果好于0.02%,达到了低能X射线空气比释动能国家基准量值复现、量值传递和国际比对的要求。     

热释光剂量计测量X射线半值层法初步探讨

随着国内X光机数量的迅速增多,简易有效的X光机半值层(HVL)质量检测方法也越来越重要.使用Penelope 软件模拟 N80(65 keV)、N100(83 keV)、N150(118 keV)、N200(164 keV)重过滤窄谱辐照场中氟化锂热释光(LiF(Mg,Cu,P))剂量计在不同铜过滤片厚度下的能量沉积,...     

X射线衍射法测量电容传声器的膜片张力

为满足电容传声器膜片张力的直接测量需求,利用X射线衍射法对处于不同张力大小的电容传声器膜片进行测量,并与静电激励谐振法的张力计算值进行比较。结果表明,两者呈现相同的趋势并具有较好的一致性。通过传声器频率响应计算得到的谐振频率包含了电容传声器膜片后空腔等结构部件的影响,其测量值略高于膜片自由振动的谐振频率,因此X射线衍射法的测量结果略低于根据谐振频率计算的张力值。最后通过系列试验进一步验证了膜片张力对电容传声器电声特性的影响。     

超声造影剂衰减系数随时间变化特性研究

为了研究微泡型超声造影剂对声传播衰减的影响,基于气泡动力学理论模型计算微观粒径变化引起的声传播衰减,推导出超声造影剂衰减系数随时间变化的解析表达式,并构建了实验系统,对超声造影剂的衰减系数进行测量。实验结果验证了理论模型的有效性,以及超声造影剂衰减系数随时间变化呈现出指数衰减规律。该研究为减小超声波的传播衰减和畸变提供了依据,使得超声造影剂有效地应用于超声医学领域。     

直接亮度法测量逆反射亮度系数的研究

采用直接亮度法针对逆反射亮度系数测量展开研究。搭建了测试系统,以逆反射标志为测试对象进行了实验测试,并将直接亮度法与直接发光强度法进行了对比。实验结果表明,直接亮度法在暗室杂散光要求、测试对象、测试距离以及结果的准确度等方面均比直接发光强度法有明显优势,而且测试过程简单,结果不确定度为3.27%(k=1.96)。     

CFRP中孔隙几何形貌与超声衰减系数关系的研究

通过金相和超声衰减系数表征CFRP层压板中的孔隙,研究孔隙形貌对超声衰减的影响。结果表明:超声衰减系数随孔隙几何形貌参数(平均长、宽、面积)的增大而增大;平均孔隙长度随孔隙率的增加程度大于平均孔隙宽度随孔隙率的增加程度;超声衰减系数随主要尺寸区域内的孔隙所占比例的增加,总体趋势减小;同一孔隙率下,大尺寸孔隙所占的比例越多,其超声衰减系数越大。总之,本试验中孔隙形貌对超声衰减有一定的影响且不能忽略。     

用于量值传递的高精度单晶硅球质量测量研究

基于单晶硅球与现行常用砝码的物理特性差异,提出空气浮力修正改进计算方法。通过对硅球质量测量时空气密度瞬态变化分析,得出单次测量序列中存在6种不同空气密度变化序列,根据不同精度等级测量对各环境参数变化限值的要求,利用CIPM公式计算环境条件动态变化下的空气密度变化量,分析得出即使在恒温恒湿精密实验室下开展测量,相邻2次测量间由于环境参数变化带来的空气密度变化幅度可达1×10^-4kg/m³。并以铂铱合金砝码作为参考砝码开展对标称质量值为1 kg的高精度单晶硅球进行质量测量时,通过实验验证测量环境空气密度在单个测量序列中产生浮动变化时,采用改进后的空气浮力修正算法可减少15.1～30.2μg的计算误差。     

射频部分替代法的衰减测量分析

限制衰减测量量程的因素是大信号测量的非线性以及小信号测量的信噪比,采用射频部分替代法能够在加大信号功率提高信噪比的同时而不引入大信号测量的非线性,是扩展衰减量程的有效方法。本文论述了射频部分替代法,并对不确定度进行了分析。     

射频部分替代法的衰减测量分析

限制衰减测量量程的因素是大信号测量的非线性以及小信号测量的信噪比，采用射频部分替代法能够在加大信号功率提高信噪比的同时而不引入大信号测量的非线性，是扩展衰减量程的有效方法。本文论述了射频部分替代法，并对不确定度进行了分析。     

混响室法测量吸声系数的不确定度评价

通过对材料吸声系数混响室法测量分析,确定了该类方法测量结果不确定度的来源。对不确定度构成分量进一步分析,结果表明吸声系数的测量不确定度主要由混响时间测量的不确定度所决定,混响室体积、试件尺寸和声速测量的不确定度对吸声系数测量结果的不确定度贡献很小。混响时间测量结果的不确定度主要取决于混响室声场扩散程度,而测量装置本身引入的不确定度贡献较小。