日本JSm—T300扫描电子显微镜故障检修一例

故障现象 在控制板上分别按EXP、PHOTO1、PHOTO2、PULL、LSP、YMD键,在CRT上无响应,按PIC键图象有闪烁,按TV键图象正常。 分析与检测 从电路可知,按TV键图象正常,说明     

KYKY—2800型高性能数字化扫描电子显微镜

介绍了自行研制开发的一种高性能、高分辨图像质量并配有多种图像处理及分析功能的数字化扫描电子显微镜。     

S—450扫描电镜故障分析

我所S－450扫描电镜是日本日立公司生产的，放大倍数20万倍，点分辨率60A，自1981年8月安装至今，已使用十几年，随着仪器的老化，故障几率逐年增大，下面将最近出现的故障和排除方法做一介绍，以供参考：故障一：现象：打开“显示单元”电源开关，观察屏上只出现下半幅扫描线。分析：从故障现象来判断，很可能是帧扫系统发生故障。用示波器检查Y一扫描输出的锯齿波（ScanGeneratotVideoAmP．图中TP。检查点），锯齿波形正常；再检查DEF·AMP图中Tp。检查点，锯齿波形也正常；检查扫描功率放大器IC；集成块输入端②脚，发现波形异常…     

日立H—800型电子显微镜故障检修十例

本文对日立H-800型电子显微镜出现的各种故障及其检修方法作了介绍.这些检修方法对其它机型亦有参考价值.     

电子显微镜稳压电路的分析及故障的排除

本文介绍了日本电子公司的JEOL-2000EX透射电子显微镜的稳压电路的工作原理,并对工作中所遇到的实际问题给予解决。     

扫描电子显微镜放大倍数校准方法研究

随着科技的发展进步,扫描电子显微镜现有检定规程提出的部分校准方法已不适用.本文对扫描电子显微镜放大倍数示值误差的校准提出了新的方法和计算过程,利用像素坐标表征标记线长度,以减少图像输出及测长仪使用过程中引入的误差.     

对环境扫描电子显微镜（ESEM）的认识

环境扫描电子显微镜（ESEM）中所指环境并非真正意义上的大气环境,与传统SEM样品室高达10∧-3～10∧-6Torr的真空度相比,ESEM样品室的真空度很低,从1Torr～20Torr,非常接近大气环境,但不等同于平均760Torr的大气环境;环境方式下最适家观察的生物样品是那些表面有角质层覆盖的样品和含水量很低的样品,比如植物的叶片、动物中的昆虫、作物的籽粒等,这类样品易于保持新鲜度;环境方式下对样品的观察和图像的记录等操作应快完成,这样可减少样品内水分蒸发而使样品变形降至最低。     

扫描电镜低电压显微的实现

介绍了扫描电镜低电压显微的优点和限制及为实现低电压显微而对扫描电镜的改进。     

扫描电镜在不锈钢产品缺陷分析研究中的应用

扫描电镜是进行材料研究和分析的重要手段,本文通过不锈钢产品缺陷的分析实例,介绍了扫描电子显微镜在各类不锈钢产品缺陷分析中的应用。     

GPF-2000 型高频感应发生器故障及维修

介绍了岛津ＩＣＰ＿ＡＥＳ仪ＧＰＦ＿２０００型高频感应发生器的点火故障及维修方法。     

A Study on Central Moments of the Histograms from Scanning Electron Microscope Charging Images

This paper presents a study on using the statistical parameter, central moment, to describe the properties of the histograms of scanning electron microscope (SEM) images. Various charging effects of SEM images and the corresponding histogram profiles are analyzed. The central moment distributions are used to describe the overview of the histograms of an image. The results show that central moments can be used to quantify and characterize the charging images. In particular, the second moment (variance) and third moment (skewness) can be used to distinguish the differences between charging and noncharging images. SCANNING 29: 211‐218, 2007. © 2007 Wiley Periodicals, Inc.     

Charge Contrast Imaging of Nonconductive Samples in the High‐Vacuum Field Emission Scanning Electron Microscope

The charge contrast images (CCI) on insulating or poorly conducting samples were observed under steady‐state charging conditions with a thermal field emission scanning electron microscope under high vacuum by using an Everhart‐Thornley detector. The charge contrast on plumbous titanate‐nickel composite particles and patterned sapphires could be the indicators of near‐surface features, compositional variations and conductivity distributions. Optimum imaging conditions for observing the CCI include the electron energy, the electron flux density and the electron dose. Contrast characteristics associated with surface and near‐surface secondary electron emission yield enhanced above the trapped charge‐up regions, as charge trapping selectively enhanced the poorly conductive phase and lattice distorted area. SCANNING 29: 230‐237, 2007. © 2007 Wiley Periodicals, Inc.     

激光扫描显微镜中的扫描系统

叙述了扫描系统在激光扫描显微镜中的作用,扫描器的位置调整。推导出由于扫描器位置的变化而引起的光程变化,提出了机械设计要求。     

扫描电子显微镜在粒度分析中的应用

扫描电子显微镜(SEM)是利用聚焦极细的电子束作为照明源,以光栅状扫描方式照射到试样表面,并以入射电子与试样相互作用所产生的信息来进行成像的。采用扫描电子显微镜对收集在微孔滤膜上的颗粒进行分析,不仅可以观察微小颗粒的表面形貌,还可以与能谱仪配合进行颗粒粒径及数量的测量与统计,测试准确度高,因而在粒度分析领域具有不可替代的作用。主要介绍扫描电子显微镜在粒度分析中的应用。     

JSM-6700F冷场发射扫描电镜的日常维护及常见故障排除

做好扫描电镜的日常维护工作并及时排除仪器常见故障是延长扫描电镜的使用寿命、维修周期和节约维修费用的重要手段。本文详细介绍了对JSM-6700F冷场发射扫描电镜进行日常维护的关键操作事项,并通过对JSM-6700F冷场发射扫描电镜实际操作中遇到的常见故障原因进行分析,阐述了真空系统、仪器控制系统电路、电子枪以及软件等方面故障的处理方法。