一种相对游程长度编码方案

提出一种相对游程长度编码方案,以在不增加待编码数据中游程数量的情况下,达到减少待编码游程长度的目的,即通过缩短代码字长度来提高压缩效果。对ISCAS89部分基准电路的实验结果显示,提出的方案在压缩效率和解压结构方面都明显优于Golomb码、FDR码、EFDR等同类方案。     

基于连续及非连续块编码的测试数据压缩方法

提出了一种新的基于连续及非连续长度块编码的测试数据压缩方法,该方案从提高码字利用率的目的出发,利用定长的二进制码字表示连续长度块的长度信息,同时,将连续位长度不足的序列按一定的策略划为非连续块,并且不对其进行编码,故有效地避免了用长码字替换短游程序列的情况。该方案的编码规则减少了使用前、后缀形式编码的复杂性,所以其编码及解码过程简单,同时具有简单的通讯协议。对ISCAS-89标准电路Mintest集的压缩结果表明,提出的方案较FDR码和Golomb码都具有更好的压缩效率。     

使用重复播种和Golomb编码的二维测试数据压缩

提出了一种用于SOC测试的二维测试数据压缩方案．先利用线性反馈移位寄存器重复播种技术,对带有无关位的测试向量进行压缩,并获得种子差分序列;然后用Golomb编码的方法对其作进一步的压缩;同时给出了Golomb码参数。的确定方法和相应的二维解压结构、实验结果表明,该方案在保证较高故障覆盖率的前提下,既能显著地减少测试序列长度、缩短测试时间,又能有效降低对测试数据带宽的要求．     

利用整数存储无理数的测试数据编码压缩方法

针对集成电路测试过程中自动测试设备需要传输大量测试数据到被测芯片,浪费了大量的测试数据传输时间,不能降低芯片测试成本的情况,提出一种整数存储无理数的测试数据编码压缩方法.首先将测试数据按游程长度划分,默认第1个游程长度为小数的个位,其他游程长度依次为小数的小数位,将测试数据转换成小数;然后提出用二分查找无理数的方法,将该小数转化成可以整数表示的无理数;最后存储无理数对应的整数表示m,l,k.该方法采取传输测试数据规律而不是测试数据本身的方法,理论上可以将整个测试集的存储转化成对单个或若干个无理数对应整数表示的存储.对部分ISCAS89标准电路中规模较大的时序电路进行实验,结果表明,在同样实验环境下,其压缩效果方面优于Golomb码、FDR码、EFDR码、MFVRCVB码等成熟的编码方法.     

用于编码压缩的测试位重组算法

测试集中分布的大量短游程限制了经典编码压缩方案的压缩效率。针对该问题,提出一种测试位重组算法,采用一种贪婪方案把某一种电平集中到测试模式的一端,从而减少短游程。实验结果表明,与使用优化差分算法的经典压缩方案相比,使用该算法的编码压缩方案不仅能获得更高的压缩率,还能降低测试功耗。     

混合定变长码的测试数据压缩方案

文章提出了一种混合定变长码的测试数据压缩方案,该方案可以有效压缩芯片测试数据量.此压缩方案将代码字拆分为固定长度的首部和可变长度的尾部两部分.首部固定使解压过程简单,硬件开销小,尾部可变使编码灵活.同时采用了将尾部最高位隐藏的方法来进一步提高压缩率,还使用了特殊的计数器来进一步简单化解压电路.对ISCAS 89部分标准电路的实验结果显示,文中提出的方案在压缩效率和解压结构方面都明显优于同类压缩方法,如Golomb码、FDR码、VIHC码、v9C码等.     

基于部分向量复用和变游程编码的二级SoC测试压缩

提出了一种适用于基于核的SoC测试数据压缩的新方法,先将不同待测核对应的测试集中的测试向量部分重叠起来,形成一个重叠向量,对这个重叠向量进行变游程编码,以进一步压缩测试向量。由于测试应用时间与重叠向量的长度成正比,而重叠向量的长度要远小于原始测试向量的长度总和,从而减少了测试时间。变游程编码最大化了压缩效率。实验结果表明,本方法在减少测试应用时间,提高数据压缩率方面的优势是显著的。     

一种双游程交替编码的测试数据压缩方法

SoC测试面临的挑战之一是测试数据量过大,而测试数据压缩是应对这一挑战行之有效的方法。因此,提出了一种新的双游程交替的测试数据压缩方法,该方法对测试集中0游程和1游程交替编码,并且后一游程类型可以根据前一游程类型转变得到。这样在代码字中不需要表示游程类型,减少了游程所需代码字的长度。实验结果表明,该方法能够取得比同类方法更高的压缩率,而且解压结构简单,因此能够达到降低测试成本的目标。     

一种共游程码的测试数据压缩方案

提出了一种新的基于游程编码的测试数据压缩/解压缩的算法：共游程码（SRLCS）编码,它在使用较短的代码字来代替较长的游程的传统游程编码基础上,进一步充分利用了相邻游程之间的相关性,使用一位来代替与前一游程相同的整个后一游程,这样整个后一游程可以用一位来表示,达到从多位到一位的转换,进一步压缩了测试数据.由于测试数据中存在大量的无关位,对无关位适当的赋值,可以增加连续游程长度相同的概率,提出了一种针对共游程码的无关位填充算法.理论分析和实验结果证明该方案具有高数据压缩率、硬件实现简单等特点.     

组扩展编码在测试数据压缩中的应用

为了减少SoC芯片的测试数据,提出了一种基于组扩展编码的测试数据压缩方案。该方案采用变长到变长的编码方式对任意长度的0游程和1游程编码,代码字由标记位、前缀和尾部组成。组扩展码将每组的容量扩大了一倍,能有效压缩芯片测试数据量。理论分析和实验结果表明组扩展编码能取得很好的压缩效果,而且能够更好地适应于不同的测试电路。