PXI可编程放大器和衰减器扩大了NI射频和微波测试产品线

美国国家仪器有限公司（National Instruments,简称NI）近日宣布推出两个新的射频信号调理模块,能增强基于PXI的射频和微波测试系统的测量精确度和灵活性,从而使该公司自动化测试产品线进一步扩大。     

PXI可编程放大器和衰减器扩大了NI射频和微波测试产品线

美国国家仪器有限公司（National Instruments,简称NI）近日宣布推出两个新的射频信号调理模块,能增强基于PXI的射频和微波测试系统的测量精确度和灵活性,从而使该公司自动化测试产品线进一步扩大。     

NI最新推出针对软件定义的RF测试和原型设计的PXI Express可重配置IF收发器——新款基于LabVIEW FPGA技术的收发器可在射频应用中引入用户自定义的IF数据处理

美国国家仪器有限公司（National Instruments,简称NI）近日推出当前最新针对射频测试应用的NI PXIe-5641R可重配置IF收发器,它配备了双输入通道和双输出通道,并且同时引入Xilinx Virtex-5 SX95T现场可编程门阵列（RPGA）和PXI Express技术,有效地将中频（IF）收发器和可重配置I／O（RIO）性能结合在一起。通过使用该模块,工程师们可以充分利用NI LabVIEW FPGA的灵活性和PXI Express的高性能,更好地完成诸如射频测试、软件无线电、通信情报和通信系统设计等应用。     

GE FANUC新品：10 MBIT MIL-STD-1553PMC模块PROFICY HMI／SCADA工具包添加通知工具

2．5和5 GHz RF多路复用器 NI近日推出的全新PXI和SCXIRF多路复用开关模块，可实现从直流电频到5GHz范围的信号发送，丰富了NI在行业标准的PXI平台上现有的RF产品线。是电信、军事、航空航天和自动化测试领域用户的理想选择。     

射频MEMS开关寿命测试系统的设计与实现

针对射频MEMS开关寿命测试成本昂贵，测试连线复杂，且随着射频MEMS开关的尺寸不断缩小，传统测试效率低、测试任务只能在实验室进行等问题，本文设计并实现了一种小型且集成化的射频MEMS开关测试系统，组建了具备信号发生、波形实时监测、寿命计算、数据记录和测试报告打印等功能的射频MEMS开关测试系统，并用该系统对某款射频MEMS开关进行了初步测试评价。结果表明该系统较好的完成了射频MEMS开关的开关电压、开关时间和冷、热寿命的测试，能够满足射频MEMS开关的测试要求，证明了该测试系统的实用性和测试工作的准确性。     

NI推出首款基于PXI的源测量单元和业界最高密度的PXI开关模块全新高精度直流产品把PXI平台功能延伸至半导体测试领域

2008年2月,美国国家仪器有限公司（National Instruments,简称NI）宣布正式发布其第一款基于PXI的源测量单元（source measure unit,SMU）和业界最高密度的PXI开关模块。这两款产品将PXI平台的应用延伸至高精密度直流测试领域,如半导体参数测试及电子设备器件的验证。工程师们可以同时使用这两款模块在多管脚设备上扫描电压和电流的特征参数,相比传统的方式,具有轻便小巧、性价比高的优点。     

NI新推基于PXI的源测量单元和高密度PXI开关模块

NI近日宣布正式发布其第一款基于PXI的源测量单元（source measure unit,SMU）和最高密度的PXI开关模块。这两款产品将PXI平台的应用延伸至高精密度直流测试领域,如半导体参数测试及电子设备器件的验证。工程师们可以同时使用这两款模块在多管脚设备上扫描电压和电流的特征参数,相比传统的方式,具有轻便小巧、性价比高的优点。     

一种射频通用测试平台的设计及实现

随着射频电路功能模块的集成度越来越高,传统测试方法已不能满足电路测试及修理需求.采用 PXI总线 技术及嵌入式通信处理技术,设计了一种新型射频通用测试平台.该测试平台集成了开关矩阵模块、程控衰减调理组合、通用测试适配器、网络接口等模块,可完成射频电路的测试及故障诊断修复,有效节约人力成本,提升电路测试及修复效率.该平台的设计搭建方法,在测试资源的集成及射频电路综合测试方面具有指导意义.     

全新NI PXI Express机箱为自动化测试与控制应用带来更高价值和性能

NI最近推出两款全新PXI E-press机箱，以同等PXI机箱的价格，为自动化测试与控制应用带来更高的价值和性能。NI PXIe-1078九槽和NI PXIe-1071四槽机箱支持最新PXI Express模块和控制器，同时可与现有PXI模块后向兼容。     

NI推出首款基于PXI的源测量单元和业界最高密度的PXI开关模块

美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)宣布正式发布其第一款基于PXI的源测量单元(source measure unit,SMU)和业界最高密度的PXI开关模块。这两款产品将PXI平台的应用延伸至高精密度直流测试领域,如半导体参数测试及电子设备器     

使用NI PXI可编程电源优化自动化测试系统

使用PXI平台上功率密度最高的模块,节省机架空间并简化系统设计新闻发布-2013年6月-美国国家仪器公司(National Instruments,简称NI)近日发布最新的通用可编程电源,提供了PXI中最高的功率密度,为自动化测试系统奠定了基础。NI PXIe-4112与PXIe-4113模块提供了高功率密度,能够节省机架空间,同时省去多个仪器结构的混合,进一步简化了设计。当使用NI     

NI推出首款基于PXI的源测量单元和业界高密度的PXI开关模块

2008年2月,美国国家仪器有限公司（National Instruments,NI）宣布正式发布其第一款基于PXI的源测量单元（source measure unit,SMU）和业界高密度的PXI开关模块。这两款产品将PXI平台的应用延伸至高精密度直流测试领域,如半导体参数测试及电子设备器件的验证。工程师们可以同时使用这两款模块在多管脚设备上扫描电压和电流的特征参数,相比传统的方式,具有轻便小巧,性价比高的优点。     

虚拟仪器在射频衬垫测试系统改造中的应用

NI（National Instrumens)虚拟仪器概念的提出，引发展传统仪器领域的一场重大革命。为了使读者更了解NI的强大的功能，文中作者介绍了NI的一种应用。将NI用于射频衬垫测试系统改造中。实践证明NI的使用提高了测试系统的精度、效率。NI虚拟仪器必将在更广泛的领域得到使用。     

通用射频测试系统开发与研制

为实现对新型武器装备射频模块的自动测试,达到降低外送送修成本和提高维修效率的目的,研制通用射频测试系统.通用射频测试系统硬件基于当今流行的GPIB及VXI总线技术集成精密测试仪器仪表构建,设计了通用接口适配器,论述了能够同时测试射频模块工作电流电压电路的设计过程;软件采用美国GEOTest公司的ATEasy8.0.基于ATEasy编程环境开发射频模块测试程序,实现对新型武器装备射频模块的自动测试,为引进武器系统的基地级保障开辟新的途径,提供新的支持.     

罗德与施瓦茨公司升级了用于射频测试仪表与待测设备间线缆连接的R&S OSP模块化开关与控制平台

正罗德与施瓦茨公司的开放式开关与控制平台RS OSP增加了7个新模块。用户现在共有28个模块可用于测试仪表和待测设备间的各种射频电缆连接。用户可以实现在复杂的射频测试系统中多种线缆连接配置的自动切换,并可以通过网口进行控制。RS OSP模块化开关与控制平台使得生产设备部门、测试实验室和研发部门的测试工程师在快速实现射频线缆连接配置并手动或自动控制线缆连接配置方面可以有非常广泛的选择。和手动重新连接射频线缆相比,RS OSP搭建的测试系统进行测试仪表、待测设备、滤     

NI最新推出针对多媒体设备测试的视频测试解决方案NI VideoMASTER 3.0新增机顶盒、蓝牙播放器和LCD显示器的HDMI测试功能

美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)近日推出最新基于PXI Express,可验证并测试多媒体设备的数字视频分析仪——NI VideoMASTER 3.0。通过使用NI TestStand测试管理软件内置的可配置测试环节使整个视频测试实现自动化,VideoMASTER有效简化了多媒体设备测试。多媒体测试工程师可以充分利用VideoMASTER3.0高效且可配置的性能,显著降低开发成本,缩短测试时间。     

NI推出首款基于PXI的源测量单元和业界高密度的PXI开关模块

2008年2月,美国国家仪器有限公司(National Instruments,NI)宣布正式发布其第一款基于PXI的源测量单元(source measure unit,SMU)和业界高密度的PXI开关模块。这两款产品将PXI平台的应用延伸至高精密度直流测试领域,如半导体参数测试及电子设备器     

射频全自动化测试系统的设计与实现

通用的终端射频测试方案中,测试仪表一次只能连接一台终端进行测试,测试完成后必须由测试人员更换终端、在无人环境下,仪表处于闲置状态.提出了一种可以实现多部终端射频全自动化测试的方案,通过引入射频多路开关、USB多路开关等关键技术,使测试仪表一次和多台终端相连,并自动实现多部终端间的自动切换和测试,由于整个测试过程自动进行无需测试人员参与,该系统可以在夜间等无人环境下运行.系统节省了人力成本,有效提高了仪表的利用率,缩短了测试周期.最后设计并实现了一套系统,进行了大量的测试.测试结果验证了该系统的有效性.     

安捷伦发布ENA系列网络分析仪以显著降低射频元件的测试成本并优化测试结果

正近日,安捷伦科技公司(NYSE:A)日前宣布推出E5063A ENA系列网络分析仪,这是一款适用于生产测试的低成本ENA解决方案。仪器提供简单的射频无源器件测试的最佳性能和功能,包括手机/基站天线、射频电缆和滤波器。仪器还可以在研发过程中用于评测射频无源器件和介电材料。Agilent E5063A提供最佳的性价比。它具备一流的射频性能,包括0.002dBrms迹线噪声和0.01dB/℃稳定度。这样在缩减测试成本的同时保证质量不会降低。工程师结合使用E5063A和U1810BUSB射频开关,可以构建一款经     

SiC功率模块开关特性测试研究

碳化硅(SiC)功率模块在开关时电压、电流变化率高,测试系统的寄生电感容易引起电压、电流振荡,使得开关特性的准确测试成为难题。这里通过研制低寄生电感的开关特性测试平台,结合不同封装的SiC功率模块,研究了栅极电阻、不同测试系统对开关性能的影响,测试系统寄生电感越大,需选用的栅极电阻越大,否则电压、电流的振荡影响开关特性测试;测试系统寄生电感越小,可选用的栅极电阻越小,其开关损耗越小。