军用电子装备应用中的塑封微电路质量保证

近年来,塑封微电路凭借着其在性能、重量、尺寸、成本、采购周期以及可获得性等方面的优势,越来越多地应用在军工电子装备中,其可靠性低的问题就越来越突出。如何将这类塑封微电路更可靠地应用于不同领域的军工电子装备中,并使风险降低到可控的范围,是广大军工电子装备制造单位正在致力探索解决的问题。浅析了塑封微电路应用于军工电子装备中的优缺点,并介绍了某型塑封微电路在地面、航空这两个不同的领域应用所执行的一套质量保证方案。     

塑封微电路在高可靠领域的应用、筛选与鉴定

主要介绍了塑封微电路(PEM)在高可靠领域的应用,并总结了JPL和NASA实验室推荐的筛选与鉴定试验程序,提出了在高可靠领域使用PEM时应考虑因素,旨在为我高可靠领域应用PEM提供可借鉴的试验方法.     

塑封微电路应用于高可靠领域的风险及对策

从塑封微电路（PEM）的物理性能和主要可靠性问题出发,介绍了将PEM应用于高可靠领域（如航空、航天、军用）中可能产生的风险．探讨了为降低使用风险而采用的升级筛选、质量鉴定、可靠性评价等方法和技术手段。     

高可靠应用的塑封微电路升级筛选和鉴定的探讨

介绍了塑封微电路(PEM)的可靠性问题,以及应用、筛选和鉴定研究状况,探讨了PEM在高可靠应用中的破坏性物理分析(DPA)、筛选、鉴定等技术方法及其注意事项.     

塑封微电路的非工作可靠性评定

1976年以来,由于计算机、通信设备和消费类电子产品使用集成电路（IC）的数量不断增加,IC的销售量已增加了4倍。在所有IC产品中,98％为塑封微电路。塑封微电路自60年代推出以来,由于其单件成本低、尺寸小、重量轻以及可大量生产,因此越来越受到设备制造商的青睐。随着塑封微电路用量的不断增加,塑封微电路的可靠性也不断得到改进,使其应用范围扩展到航空电子设备、汽车电子设备和其它长寿命设备中。在80年代,通过清除芯片钝化层的磷和降低模制化合物中离子沾污（CI和Na）水平以及提高半导体加工中的洁净度,双列直插式封装电路…     

塑封微电路分层评价的研究与探讨

随着电子产品向小型化、轻量化、多功能方向的发展,越来越多的塑封微电路(PEM)被应用于高可靠领域。由于封装材料的本质特性,PEM与气密封装微电路相比存在固有弱点。因此,在质量、价格、进度和性能等多种因素的综合影响下,可能需要选用存在分层缺陷的PEM,此类PEM在有高可靠性要求的领域使用存在一定的风险。为降低风险,提高使用者对此类PEM的信心,根据PEM的特点和环境剖面,提出有针对性的PEM分层评价思路。     

高可靠领域中应用塑封器件的有效评价

介绍了塑封器件的优缺点以及发展情况,针对塑封半导体器件本身在材料、结构和工艺等方面的特点,对塑封器件的失效模式和在试验中暴露的问题进行探讨,针对塑封器件的温度适应性、密封性、工艺控制及使用长期可靠性方面制定了相应的质量评价方案。半导体塑封器件通过质量评价方案的试验项目,包括筛选试验、可靠性鉴定试验和破坏性物理分析(DPA)三方面的试验,降低了塑封器件在应用中的风险,对我国高可靠领域中对塑封器件的选用具有一定的借鉴意义。     

国外塑封微电路的可靠性改进技术概况

本文根据国外文献的报导，概述了塑封微电路的发展概况，可靠性现状与可靠性改进技术。     

元器件损伤以及失效风险评估

为了确定塑封微电路（PEM）在使用过程中是否会失效,首先在NXP实验室中采用声学成像方法检测封装内部像裂痕这样的缺陷。随后,元器件先后经历烘烤、浸湿、三次回流、电学测试、第二次声学成像以及物理检测。     

眼界顿开

最近时期我读了《电子产品可靠性与环境试验》上刊登的刘涌、柯行鉴《国外塑封微电路的可靠性改进技术概况》1997年第4期、曾纪科《集成电路可靠性的进展》1996年第5期两篇文章，顿感眼界开扩，天空明亮，颇有柳暗花明又一村之感。我把这两篇文章称为塑封电路的姐妹篇，文章把塑封微电路的发展思绪分为三个阶段，每个阶段重点解决什么问题，介绍了在改进塑封电路热机械失效和吸潮失效机理方面所采取的技术措施以及具体的可靠性数据，这使人相信它的提高是科学的，有基础的，相信它现在所具有的可与陶封电路相媲美的可靠性水平是一步一步增长…     

军品用塑封器件质量控制研究

塑封器件具有体积小、重量轻、易购买等优点,不可避免地被军工领域所采用。为保证军工产品质量,应针对塑封器件结构特点、主要失效机理及其质量现状,从采购渠道、入厂检验、贮存环境以及使用环节等方面入手,把控塑封器件的质量。     

Plastic packaged microcircuits: quality, reliability, and costissues

Plastic encapsulated microcircuits (PEMs) find their main application in commercial and telecommunication electronics. The advantages of PEMs in cost, size, weight, performance, and market lead-time, have attracted 97% of the market share of worldwide microcircuit sales. However, PEMs have always been resisted in US Government and military applications due to the perception that PEM reliability is low. This work surveys plastic packaging with respect to the issues of reliability, market lead-time, performance, cost, and weight as a means to guide part selection and system design     

高可靠性塑封器件质量控制措施

随着塑封器件高可靠性应用日益广泛,塑封产品的研制和生产需求不断增加。分析了塑封器件可能存在的热机械缺陷、腐蚀、爆米花效应,以及生产工艺中可能引入的封装、芯片粘接、钝化层等缺陷,从设计和工艺角度给出控制措施。介绍了国内外高可靠性塑封器件筛选、鉴定检验的典型流程及质量控制措施,用于在生产阶段剔除潜在缺陷的不合格品,保证产品具有高可靠性。     

电子塑封材料南海环境贮存试验研究

对4种模塑封装材料，两种芯片涂层材料封装的微电路样品在西沙天然暴露站进行了22个月的贮存试验，并设计制作了一种简便有效的测试系统，贮存试验的结果表明，在芯片上加氮化硅钝化层比不加钝化层具有更好的防护效果；与聚酰亚胺胶内涂层相比，硅酮胶内涂层更能有效地阻止水分到达芯片的表面，由于材料本身的差异，不同厂家生产的模塑封装材料对微电路的影响也不同。     

集成电路封装用绝缘胶漏电失效分析

在电子元器件封装领域中,塑封器件正逐步替代气密性封装器件。目前工业级塑封器件已不能满足器件的高可靠性要求,工业级塑封器件在严酷的环境应力试验中经常出现失效。研究了工业级塑封器件在可靠性筛选试验中出现失效的问题,通过X射线观察和芯片切面分析等方法,查明了造成器件失效的原因,并提出了优化改进措施。     

塑封电子元器件破坏性物理分析方法

目前塑封电子元器件得到广泛的应用,但它本身的质量问题却使得关键系统和模块中很少采用塑封电子元器件,而作为验证电子元器件的设计、结构、材料和制造质量的破坏性物理分析至今还没有形成标准或方法,还不能有效地应用到塑封电子元器件的可靠性验证中。根据塑封电子元器件的特点和主要的缺陷形式,给出塑封电子元器件破坏性物理分析的参考方法,并为将来塑封电子元器件破坏性物理分析标准或方法的制定打下基础。     

VLSI塑料封装失效分析与控制方法研究

塑封VLSI由于其固有的弱点,在应用过程中封装失效成为其重要的失效模式之一。通过大量的塑封VLSI失效分析实践,针对VLSI塑料封装失效,进行了快速定位技术的研究,总结出一套简化的失效分析程序。同时从引起塑封VLSI封装失效的根本原因入手,探讨了避免塑封VLSI封装失效的控制方法。     

塑封微电子器件失效机理研究进展

塑封器件在现在的封装产业中具有无可比拟的优势,相关研究引起了人们广泛关注.简要介绍了塑封微电子器件的发展史,以及国内外塑封器件可靠性的研究现状.对塑封器件的主要失效机理研究进展进行深入探讨,如腐蚀、分层、开裂等,提出了几种提高塑封器件可靠性的措施.论述了用于塑封器件质量评估的试验方法,并展望了塑封器件在军工领域的潜在应用前景.     

热膨胀系数不匹配导致的塑封器件失效

塑封器件使用过程中由于塑封材料和芯片之间热膨胀系数的不匹配,导致在外界温度变化时的应力释放对芯片造成损伤。文中通过VLSI失效分析,对这种应力造成的芯片损伤进行了研究,并提出利用环境应力试验和可靠性分析的方法暴露热膨胀系数不匹配导致芯片损伤的技术。