A/D与D/A转换器主流工艺技术现状和发展趋势

随着半导体技术的进步,对A/D、D/A转换器的性能提出了更高的要求,用于制作A/D、D/A转换器的工艺技术也在不断改进.文章介绍了目前用于制作A/D、D/A转换器的主流工艺技术;结合相关产品,对比分析了各种工艺的优缺点,并对A/D、D/A转换器工艺技术的发展趋势进行了展望.     

高速A/D转换器的研究进展及发展趋势

介绍了高速高精度A/D转换器技术的发展情况、A/D转换器的关键指标和关键技术考虑;阐述了高速高精度A/D转换器的结构和工艺特点;讨论了高速高精度A/D转换器的发展趋势.     

宽电压A/D、D/A转换器用BiCMOS工艺技术研究

研究和开发了一种用于宽电压A/D、D/A转换器的BiCMOS工艺。利用相关晶体管原理和公式,计算出工艺参数,再用TSUPREM4和MEDICI软件,进行工艺和器件仿真,得出精确的工艺参数。流片后对所有器件进行了测试,结果表明,开发的工艺完全符合设计要求。用此工艺制造的A/D、D/A转换器产品,其性能符合设计指标。     

高性能及新颖性A/D转换器技术综述

集成模数转换技术是模拟集成电路中一个重要的分支.随着近几十年集成电路制造技术的飞速发展,集成A/D转换器的性能也在不断地提升.文章在总结归纳近期技术文献的基础上,概述了A/D转换器在高精度和高速度两个主要发展方向上的关键技术;介绍了采用新颖结构形式的A/D转换器,以及与先进设计工具及设计流程相关的技术.文章旨在给从事高性能A/D转换器设计的工程技术人员提供一个实用的技术参考点.     

宽带A/D转换技术研究

在数字无线电系统中,宽带A/D转换是其中的关键技术之一,选择合适的A/D转换器是实现高速率A/D转换的前提。该文基于A/D转换的基本技术和性能指标分析,讨论了A/D转换器的选择原则,∑△A/D转换器的工作原理及宽带A/D转换器的典型应用。     

A/D、D/A转换器使用性能与分辨率

不同的结构适合于不同的信号处理应用A/D、D/A转换器砂发今数字信号处理系统中级其重要，尤其在多媒体PC，无线通讯系     

A／D和D／A转换器发展动态

A/D和D/A转换器亦常称为数据转换器,它是一种模拟和数字混合信号处理电路。 随着计算机技术、多媒体技术、信号处理技术、微电子技术的发展,电子技术的应用已渗透到军事、民用领域的各个角落,不断推出先进的电子系统。在现代先进的电子系统前端和后端都将应用A/D或D/A转换器以改善数字处理技术的性能,特别是诸如雷达、声纳、     

A/D转换器在数字接收机中的应用

模数转换器(A/D转换器)是实现数字接收机的基础,它的性能及使用情况对整个数字接收机的性能都会产生重要影响。文中介绍了A/D转换器的基本工作过程,提出了数字接收机中数据采集部分使用A/D转换器的一般要求和注意事项。     

逐次逼近A/D转换器综述

从逐次逼近A／D转换器（SA-A／D）的工作原理出发，分别对其核心模块D／A转换器和比较器进行了讨论。SA-A／D转换器中的D／A转换器可分为电压定标、电流定标和电荷定标三种，重点分析了三种目前应用较多的并行电容、分段电容和RC混合结构。SA-A／D转换器中的比较器可分为运放结构比较器和锁存（latch）比较器，实际常常使用这两种结构级联的高速高精度比较器，并配合失调校准技术，达到较高精度。最后，简要总结了SA-A／D转换器的研究现状，阐述了其在精度、速度和功耗三个方面的发展状况。     

一种高分辨率自校准单积分型A/D转换器

提出一种具有自校准功能的单积分型高精度A/D转换器.分析了电路原理和电路结构,阐述了如何通过自校准功能提高积分型A/D转换器的性能;给出了A/D转换器结构和测试波形.测试结果表明,设计的A/D转换器采样率为3.3 kSPS,分辨率为14位,相对精度可达0.01%.     

A/D转换技术的应用与发展

首先分别介绍了当前六大模数转换技术的工作原理、电路结构、性能特点及应用领域,通过从转换速率、转换精度、分辨率、功耗、价格、面积等指标进行分析,将物理结构的设计与实际性能结合比较,总结出各自适合的应用领域.然后,根据对现有模数转换技术特点的分析及实际应用中对模数转换器性能的要求,对当前A/D转换技术向着高性能、低功耗、结构简单方向发展的趋势进行了预测.     

神经MOS晶体管在A/D和D/A转换器中的应用

神经MOS晶体管是一种具有多输入栅加权信号控制和阈值可调控的高功能度的新型器件。以神经MOS晶体管的Pspice宏模型为模拟和验证的工具,讨论了基于这种器件的A/D和D/A转换器的设计思想和方法,证明了他能很大程度地减少晶体管数目,简化电路,对实现高密度集成的ULSI系统的设计和实现有重要意义。     

Simultaneous Static Testing of A/D and D/A Converters Using a Built‐in Structure

Static testing of analog‐to‐digital (A/D) and digital‐to‐analog (D/A) converters becomes more difficult when they are embedded in a system on chip. Built‐in self‐test (BIST) reduces the need for external support for testing. This paper proposes a new static BIST structure for testing both A/D and D/A converters. By sharing test circuitry, the proposed BIST reduces the hardware overhead. Furthermore, test time can also be reduced using the simultaneous test strategy of the proposed BIST. The proposed method can be applied in various A/D and D/A converter resolutions and analog signal swing ranges. Simulation results are presented to validate the proposed method by showing how linearity errors are detected in different situations.     

A/D转换器非线性特性简易测试方法

A／D转换器非线性测试是A／D转换器静态特性测试的一项重要内容。相对于以往成本较高的测试方法，文章提出了一种简易可行的测试方法：利用高精度D／A转换器和低精度A／D转换器的精度差，借助8051仿真系统进行测试。实验表明，该方法成本低廉，操作简单，适用于A／D转换器非线性特性的初期评测。     

软件无线电中的A／D转换

简要介绍了软件无线电的概念，特点及其基本结构，着重分析了适用于软件无线电的Ａ／Ｄ转换器类型及特点，并根据现有条件提出软件无线电中Ａ／Ｄ转换器的中频实现方案。     

一种高速A/D转换器时域重构技术研究

A/D转换器在航空航天系统中的重要元器件,随着器件转换时钟频率不断提高而其工作环境不断恶化,如何准确测试其时间参数对于全面评价A/D转换器性能特别重要。目前对于高速A/D转换器时间参数测试,主流方法是通过示波器直接测试其输出,该方法对于示波器采样速度要求比较高。文章提出一种高速A/D转换器时域重构技术,可以通过计算机数字信号处理方法来实现高速A/D转换器时间参数测试,同时避免对示波器采样速度的依赖。同时,在研究高速A/D转换器时域重构技术方法及其应用的基础上,通过了相关试验验证。     

高速A/D转换器技术及其产品发展研究

介绍了数据转换器的市场规模及其发展趋势，高速A／D转换器的主要研发公司及其代表产品水平，主流产品的电路结构和工艺技术以及技术发展趋势。     

CMOS折叠—插值A／D转换器中的气泡效应研究

ＣＭＯＳ折叠－插值Ａ／Ｄ转换器是一种新颖的高速低功耗转换器，但随着输入电压和采样频率的增加，其动态性变差，误码率上升，产生所谓的“气泡”现象。文章分析了“气泡”的产生机理，给出了减小“气泡”效应的方法及实现途径。     

视频A/D转换器结构和折叠-插值技术的应用

讨论了已有的几种Ａ／Ｄ转换器结构原理及其特点，介绍了一种新研制的ＣＭＯＳ折叠－插值Ａ／Ｄ芯片结构的设计原理和性能特点。