使用散射X射线的理论强度进行土壤、岩石中的微量重元素的X射线荧光分析

是依据FP法进行土壤、岩石中的Pb ,As等微量重元素的X射线荧光定量分析的方法。FP法对定量元素的荧光X射线进行理论强度计算 ,同时对散射X射线也进行计算 ,用于多种样品的定量分析 ,提高了定量元素准确度。     

使用瑞利散射的理论强度进行异常形状修正的薄膜样品X射线荧光分析

对于异常形状薄膜样品 ,存在着X射线荧光强度不足、分析位置不固定、定量值偏低的问题。借鉴原来在工作曲线法中采用过的 ,使用荧光X射线与散射X射线的强度比进行形状修正的方法 ,将此方法用于FP法 ,得到的良好结果     

X-射线荧光光谱仪分析铁矿石中TFe成分

铁矿石作为炼铁的重要原料,其成分对于高炉生产的持续性以及最终的铁水质量影响甚大,特别是其中的TFe成分测定更是重中之重。因此文章重点探讨X-射线荧光光谱仪来对铁矿石中的TFe成分进行测定。     

X-射线荧光仪分析生铁中钛、砷、锡的方法

文章论述了采用X-射线荧光光谱仪分析生铁中钛、砷、锡元素含量的方法。通过样品的制备、磨料粒度的选择、工作曲线的绘制等条件试验确定的检测方法操作简单,结果可靠,可满足现场快速分析生铁中钛、砷、锡元素含量的要求,为生产试验钢提供高质量铁水提供技术保障。     

铌精矿中铌、钽的X-射线荧光光谱分析

引言X-射线荧光光谱分析法分析矿石中的铌和钽,前人已做过很多工作。为了减少和消除元素间的吸收增强影响、粒度影响、矿物的不均匀性等方面的影响因素,大多数分析工作者将试样制成硼砂珠。有的采用钼作铌的内标、锌倣钽的内标。为了进一步稳定试样间的质量吸收系数,有人在玻璃体中加入重吸收物质La_2O_3。此外,西村耕一等提出用硫酸氢钾熔样,并以铪作钽的内标、钼作铌的内标。除了上述的熔样法外,Y.C.Wong等提出用惰性稀释剂法(An Inert Dilution Method)分析精矿中铌、钽等     

利用X-射线荧光光谱仪分析铁矿石中若干元素

本文介绍了用偏硼酸锂(33%)和四硼酸锂(67%)混合助熔剂熔融制样,加补钴粉做内标,采用X-射线荧光光谱法定量测定铁矿石中的TFe,SiO2,CaO,MgO,Al2O3,P,S含量,经大量实践数据证明,完全符合误差要求,精密度高,准确度可靠,不仅大大缩短了分析时间,提高了工作效率,而且降低了劳动强度.     

X-射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁

X-射线荧光光谱法广泛应用于测定铁矿石中杂质成分和铁含量,但有关标准仅把铁含量作为参考数据用于计算基体效应。通过大量的比对试验发现,采用高纯度试剂人工合成校准样和利用标准曲线法直接测定铁含量准确度较高,可以作为全铁的测定方法。本法具有前处理简单、测定速度快、节省人力物力等优点,还可以同时测定铁矿石中二氧化硅、氧化铝、氧化钙、氧化镁、磷、锰、二氧化钛等杂质。     

X-射线荧光光谱法测定颗粒灰中二氧化硅、氧化钙、氧化镁

颗粒灰主要用于炼钢时造渣和脱硫,也用于作为焙烧人造富矿———烧结矿及球团矿的熔剂。测定其组分多采用滴定法,方法不但分析时间长,滴定终点不好掌握,且工作效率低,消耗费用高。采用先烧损再压片的X-射线荧光光谱分析方法[1-2],分析时间长,不能满足生产的急需。本文运用熔融法制样,然后用X-射线荧光光谱法测定,既消除了矿物效应、粒度效应,也克服了基体效应。另外因颗粒灰中烧失量较大,在熔融成片前定量加入了Co2O3,并将分析元素的测量强度与Co的强度比同浓度进行线性回归,得到了理想的分析精密度和准确度。本方法分析速度快,满足了生产…     

X-射线荧光光谱法分析铁合金成份的最新进展

本文详细介绍了铁合金粉末压片制样和硼酸盐熔片制样在X-射线荧光光谱法中的应用,粉末压片制样包括直接压片法和稀释压片法两种方法,而硼酸盐熔片制样包括酸溶解制样、石墨粉垫底制样和制备保护层预氧化制样三种方法。对于生产来说,选取不同的制样方法,对于提高分析速度和降低成本起着重要作用。     

粉末压片-X射线荧光光谱法测定土壤、水系沉积物和岩石样品中15种稀土元素

采用粉末样品压片制样,使用波长色散X射线荧光光谱仪对土壤、水系沉积物和岩石样品中15个稀土元素(La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu、Y)进行测定。重点探讨了15个稀土元素的测量条件,如分析线、分析晶体,基体效应和谱线重叠干扰校正。使用60余个土壤、水系沉积物和岩石标样建立校准曲线,采用经验系数法和散射线内标法校正基体效应,并用多元回归准确扣除稀土元素谱线重叠干扰。重稀土元素的检出限多在0.2 μg/g以下。对土壤标准样品进行精密度考察,15个稀土元素测量结果的相对标准偏差(RSD,n=10)为0.74%～17%。对土壤、水系沉积物和岩石标准样品进行分析,测定值和认定值一致。     

X射线荧光光谱法测定镍铬合金中15种元素

建立了X射线荧光光谱法测定镍铬合金中镍、铬、钼、磷、硫、钒、铝、硅、锰、铜、钛、铌、钴、铁、钨的快速检测方法,采用二元合金样品求得的校正系数对镍铬合金中元素间的谱线重叠干扰进行校正,理论α系数校正元素间的吸收和增强效应。试验了不同的砂带粒度和材质研磨样品时对元素测定的影响,结果表明砂带的粒度影响测定结果的准确性,使用含有待测元素材质的砂带会导致该元素测定结果偏高,因此实验时应确保建立校准曲线的标准样品和待测样品的表面处理条件一致,此外,还应考虑使用的砂带材质是否对测定元素有污染。方法用于测定镍铬合金中镍、铬、钼时的相对标准偏差(RSD,n=11)分别为0.15％、0.17％、0.22％,其他元素均显示较好精密度;测定值与其他方法测定结果显示较好的一致性。     

X射线荧光光谱法测定生铁中10种元素

采用波长色散X射线荧光光谱仪测定生铁中碳、硅、锰、磷、硫、钛、钒、铬、镍、铜等10个元素的含量。选择晶格面间距宽的晶体,其X射线荧光信号明显增强。试验了试样白口化对测量结果的影响,发现试样表面白口化与否和白口化的程度明显影响碳、硅、磷、硫等元素的测量结果,但对锰的影响很小。方法的检出限为1.2～114 μg/g。精密度试验结果表明,难于同时分析的碳、硅、锰、磷、硫的相对标准偏差（RSD,n=11）分别为0.57%、1.3%、0.53%、0.98%、1.2%。方法用于生铁样品中10种元素的分析,测量结果与其他方法的分析结果相符。     

X射线荧光光谱法测定不锈钢中17种元素

采用X射线荧光光谱法分析不锈钢中的Al、Si、P、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、W、Cu、Nb、Mo、As、Pb、Sn、Sb 等17种元素。研究了仪器分析参数的设置,元素光谱背景的确定,光谱重叠和吸收 增强效应的校正。通过将理论Alpha系数法、基本参数法和经验系数法相结合的校正方法减小了曲线的品质因子K值,提高了检测数据的准确度。方法用于不锈钢标准物质中上述17种元素的测定,测定值与认定值相符,测定结果的相对标准偏差（RSD,n=11）在0077%~76%之间。     

X-射线荧光光谱法分析中镍基高温合金中16种元素

用PANalytical MagiX Pro顺序型X射线荧光光谱仪,多系列镍基高温合金光谱标准样品拟合成一套校准曲线的方法,测定多种牌号镍基高温合金中的Al,Si,P,Ti,Ce,V,Cr,Mn,Fe,Co,W,Cu,Ta,Zr,Nb,Mo16种元素.采用SuperQ高级定量分析软件提供的数学模型对各元素的谱线干扰及基体效应进行校正,方法具有准确可靠、稳定性好、速度快等优点.     

X射线荧光光谱法测定铜精矿中10种元素

采用铜精矿标准物质,及向标准物质中添加光谱纯物质或单元素标准溶液的方式拓宽校准曲线含量范围,以熔融法制样,用波长色散X射线荧光光谱法测定铜精矿中的铜、铅、铬、砷、银、锑、铋、镍、铁、铝等元素含量。通过试验确定的熔融条件如下:采用四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂(m∶m=33∶ 67),稀释比为1∶20,预氧化时间为5 min,预氧化温度为700 ℃,熔融时间为10 min,熔融温度为1 000～1 050 ℃,以二氧化硅作为玻璃化试剂,加入3～4滴500 g/L溴化锂溶液作为脱模剂。共存元素和谱线重叠干扰使用理论影响系数法进行校正,检出限在12～156 μg/g之间。对一个铜精矿样品进行精密度考察,各元素测定结果的相对标准偏差(RSD,n=11)在0.19%～11.3%之间。3个铜精矿实际样品的测定值与标准分析方法测定值相符,满足铜精矿快速分析的要求。     

X射线荧光光谱法测定不锈钢中15种元素

应用波长扫描X射线荧光光谱仪对不锈钢中铝、硅、磷、钛、铬、锰、钒、钴、镍、铜、钨、锡、砷、钼和铅等15种元素进行测定,各组分拟合在一套校准曲线中,将基本参数法和经验系数法相结合,用以校正共存元素间的吸收-增强效应和谱线重叠影响。精密度试验和比对试验表明:该方法分析铬镍不锈钢及高速工具钢系列中多个元素时,检测值与标样认定值相符,对内控样品的分析结果同其他方法的分析结果相一致;选用PbLβ1作为分析线时相对标准偏差为3.2%;高合金元素铬、镍、钨、钼测量偏差为0.01%~0.1%;分析一个样品需232 s,具有良好的稳定性。     

X射线荧光光谱分析铸铁中28种元素

对铸铁的X射线荧光光谱分析方法进行系统的研究,包含C、Mg、Al、Si、Mn、P、S、V、Ti、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、As、Se、Zr、Nb、Mo、Sn、Nd、Ce、La、W、Pb、Bi、Te、Sb 28种元素进行测定。试验通过利用国内外21块铸铁标准样品拟合成一套铸铁的通用校准曲线,选择合适谱线和测量条件并进行有效的背景扣除,其中,测定P、S、Mn、Co、As受共存元素谱线重叠干扰的校正系数,解决了元素之间谱线重叠干扰的问题;Pb元素选用Lβ₁谱线做分析线,以避免As元素的谱线干扰;Te、Sb、Sn均选用Kα谱线,并采用高分辨狭缝以提高峰背比;C、Mg采用高灵敏狭缝,有效解决了元素间干扰问题及超轻元素、微量杂质元素的检测难题。方法用于铸铁标准样品中主次元素的检测,测定值与认定值相符,各元素测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)均小于1.5%。     

X射线荧光光谱法测定镁合金中6种元素

使用镁合金标准样品建立校准曲线,采用经验系数法对基体效应进行校正,实现X射线荧光光谱法对镁合金中Al、Si、Fe、Ni、Cu和Zn元素含量的测定。通过试验确定仪器最佳分析参数,根据仪器自带软件提供的数学模型对基体效应进行校正。精密度试验表明,待测元素的相对标准偏差均低于2.5%（n=10）,能满足镁合金中各元素的检测要求。采用本方法分析镁合金标准样品,测量值与认定值吻合良好。