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本文模拟浮法玻璃在线CVD镀膜工艺,利用常压化学气相沉积小型镀膜机,以TiCl_4和NH_3作为反应物前驱体,成功地在玻璃表面镀制一层TiN薄膜,获得了具有高阻隔紫外及反射红外的多功能镀膜玻璃。对其性能进行分析显示:随着反应物NH3流量的增加,TiN薄膜阻隔紫外线的性能逐渐提高,在近红外区的Drude型反射区域有所缩小,但其在高频近红外波段的反射率有所提高。当NH_3达到300sccm时,能够完全阻隔低于380nm的紫外线波段,反射红外线效果良好。随着基板移动速率的增大,在一定程度内可以提高薄膜对近红外线的反射能力,但阻隔紫外线的性能逐渐降低。 相似文献
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本文通过高分辨电镜(HREM)、原子力显微镜(AFM)分析,反射率、透射率测试以及薄膜厚度的测试,研究了常压化学气相沉积法硅镀膜玻璃硅薄膜的结构、表面形貌(颗粒数量、大小和分布)对镀膜玻璃反射率、透射率的影响.研究发现不同的制备工艺(沉积温度和基板走速)对薄膜的平均反射率和平均透过率有很大的影响,通过控制合适的工艺参数可以制得具有纳米颗粒镶嵌结构的复合薄膜.具有此种形貌结构的薄膜能在基本部增大透过率的情况下有效减少薄膜镜面反射,减少光污染. 相似文献
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TiN镀膜玻璃的常压化学气相沉积法制备及其光电性能研究 总被引:6,自引:0,他引:6
本研究以TiCl4和NH3为反应气体,N2为保护气氛,用常压化学气相沉积法(APCVD)在玻璃基板上沉积制备得到了一系列不同反应温度和原料浓度的TiN薄膜.利用X射线衍射(XRD)和方块电阻仪研究了反应温度和原料浓度对薄膜结晶性能和电性能的影响规律.研究结果表明随着基板温度升高、TiCl4浓度的增加,薄膜结晶性能提高,同时电阻率降低.在反应温度为600 ℃时得到了结晶性能较好的TiN薄膜,其方块电阻为186.7 Ω,红外光反射率为0.2526. 相似文献
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双层石墨烯独特的物理性能和特性使其在电子领域拥有广阔的应用前景,引起了学者的广泛关注。采用热丝化学气相沉积方法(HFCVD)在1 cm×2 cm的铜箔上制备石墨烯薄膜,并通过探究腔内气压、基体温度、沉积时间、碳源浓度对石墨烯层数和质量的影响,开发出制备低缺陷双层石墨烯的工艺。采用拉曼光谱仪、扫描电子显微镜和原子力显微镜对石墨烯涂层的结构特征、表面形貌和层数进行了表征。实验结果表明,在铜箔上制备出了均匀致密的低缺陷双层石墨烯,厚度为1.5 nm。此外研究结果还表明,降低腔内气压可减少缺陷和层数,增加基体温度可减少层数,沉积时间4 min或碳源浓度高于1%则无石墨烯生成。因此通过控制腔内气压、基体温度、沉积时间和碳源浓度可实现石墨烯可控生长。 相似文献
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采用化学气相沉积法,选用不同基底和表面涂层合成了碳纳米管垂直阵列薄膜、管束和条带三种碳纳米管宏观结构,并用扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)进行了表征。结果表明:在石英涂层上合成的定向碳纳米管薄膜厚度达毫米级;在表面有Al2O3涂层的不锈钢基底上可合成碳纳米管垂直阵列薄膜和不同尺寸宏观管束结构;在表面有SiO2涂层... 相似文献
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首先对Me(Me=Fe2+、Mn2+、Zn2+)在Me-NaOH-H2O体系中的沉淀行为进行了必要的热力学分析,在此基础上,通过化学共沉淀法制备了尖晶石型的MnZn铁氧体前驱物微粉。利用XRD、SEM对前驱物粉料的粒度分布、物相以及表面形貌进行了表征与测试,并结合TG-DSC(热重与差热扫描分析)对前驱物微粉的煅烧温度进行了分析。前驱物微粉的磁性能由振动样品磁强计(VSM)来表征。实验表明Me在Me-NaOH-H2O体系中共沉范围为10.0~10.7。在此pH范围内,配以一定的盐溶液流速及搅拌速度下,可直接制备出具有尖晶石结构的前驱物微粉,并有效地解决了共沉淀制粉中的洗涤困难的问题。前驱物粉的磁性能测试表明,比饱和磁化强度σs≈64.09A.m2/kg,比剩余磁化强度σr≈3.08A.m2/kg,矫顽力Hc≈0.51A/m。 相似文献
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用于微机电系统的类金刚石膜制备及表征 总被引:3,自引:0,他引:3
采用等离子体源离子注入和电子回旋共振-微波等离子体辅助化学气相沉积技术相结合的方法在Si衬底上制备出了性能良好的类金刚石膜.通过共聚焦Raman光谱验证了薄膜的类金刚石特性,用原子力显微镜、微摩擦计和扫描电镜等对薄膜的表面形貌、摩擦系数和耐磨损性能进行了表征和测量.结果表明,用离子注入法制备过渡层大大提高了DLC膜与衬底的结合强度,薄膜的表面比较光滑,粗糙度大约为0.198 nm,具有较低的摩擦系数(0.1~0.15),具有较好的耐磨损性能. 相似文献
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A solar-control coated glass was prepared using chemical vapor deposition in the A0 zone of an annealing furnace of a float glass manufacturing line. The surface morphology and microstructure of the coated composite film were analyzed by scanning electron microscopy (SEM) and secondary-ion mass spectrometry (SIMS). This shows that the surface of amorphous silicon is smooth, the size of the nodules is about 100-200 nm, the surface roughness is 9.66 nm and the thickness of the layer is 70-78 nm. An oxidization gradient along the thickness of the silicon layer was observed. 相似文献
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