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相似文献
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1.
基于VXI的通用计量检定系统的设计与实现   总被引:2,自引:0,他引:2  
测试系统对仪器设备进行测试时,测试系统的性能优劣决定了测量结果的可信度,因此对测试系统设备的计量是保证测试结果准确与否的前提。本从VXI总线和虚拟仪器的特点出发,以实例分析了基于VXI总线的通用虚拟计量检定系统的设计与组建,论述了基于VXI总线的自动化测试系统在武器设备测控领域的良好应用。  相似文献   

2.
基于FPGA的VXI总线多功能模块设计   总被引:1,自引:1,他引:0  
VXI总线多功能模块是某导弹自动驾驶仪VXI测试系统的关键模块,需要完成被测信号采集、特殊测试激励信号产生、频率测量和数字IO功能;文章首先简要介绍了模块的设计要求和总体设计;然后阐述了模块的各功能电路实现;接着重点论述了模块设计中采用扫描地址图谱实现多通道和量程动态切换、采用块传输实现VXI接口高速数据传输和采用RAM分时复用存储实现长时间连续数据采集等关键技术;应用这些技术研制的模块已应用于实际测试系统中,其性能良好,工作稳定;接口测试结果表明,模块的VXI接口设计极大地提高了数据传输速度。  相似文献   

3.
AMC21021394PC-VXI接口适配器模块主要针对VXI总线自动测试仪器系统在武器装备测试中的大量应用而研制,研究突破了VXI总线仪器系统零槽控制器技术、IEEEl394-VXI总线桥设计技术、Windows及Linux设备驱动程序设计技术、虚拟仪器I/O库-VISA库设计等关键技术,研制出AMC21021394PC-VXI接口适配器模块(实用化)样机及配套的Windows与Linux设备驱动程序和VISA库软件。AMC21021394PC--VXI接口适配器模块(实用化)样机是一个IEEE1394设备,具备VXI总线仪器系统零槽控制器的功能。配套的设备驱动程序和VISA库软件为VXI总线仪器驱动程序及系统应用程序的编制提供了一个系统无关的软件平台。AMC2102139CPC-VXI接口适配器模块及其配套软件符合IEEE139奴VME、VXI及VPP等一系列规范。  相似文献   

4.
AMC2102 1394PC-VXI接口适配器模块主要针对VXI总线自动测试仪器系统在武器装备测试中的大量应用而研制,研究突破了VXI总线仪器系统零槽控制器技术、IEEEl394-VXI总线桥设计技术、Windows及Linux设备驱动程序设计技术、虚拟仪器I/O库-VISA库设计等关踺技术.研制出AMC21021394PC-VXI接口适配器模块(实用化)样机及配套的Windows与Linux设备驱动程序和VISA库软件。AMC2102 1394PC-VXI接口适配器模央(实用化)样机是一个IEEEl394设备,具备VXI总线仪器系统零槽控制器的功能。  相似文献   

5.
VXI总线技术在导弹测试中的应用   总被引:18,自引:2,他引:16  
简要介绍了VXI总线技术在导弹测控系统中的应用。针对测试中的若干问题 ,进行了基于VXI总线技术的导弹自动测试系统设计。实践证明 ,该系统取得了精度高、可靠性好、测试时间短的良好效果。  相似文献   

6.
基于VXI总线的新型任意波形发生器的设计   总被引:4,自引:0,他引:4  
基VXI总线的任意波形发生器是随着计算机技术和微电子技术在测试仪器中的应用而形成和发展起来的一类新型测试仪器。任意波形发生器的价值在于它能真正产生任意波形。文中提出了一种新型的任意波形发生器结构,介绍了基于VXI总线C尺寸任意波形发生器设计的全过程,开发了VXI总线寄存器接口,用DDS技术设计了功能电路、开发了AWG的软面 板、应用控制程序和仪器驱动器。所设计的任意波形发生器块已应用于模块化雷达自动测试设备中,提供测试系统所需要的任何波形激励信号。  相似文献   

7.
介绍了电磁兼容的基本理论和研究目的 ,阐述了其在电子系统中的重要作用。结合当今流行的VXI测试总线 ,运用电磁兼容理论和技术 ,分析了构建VXI测试系统过程中在电磁兼容方面应注意的一些问题及解决方法 ,对充分发挥VXI总线测试系统的性能、降低电磁干扰、实现电磁兼容有一定的工程应用价值。  相似文献   

8.
本文从使用角度出发 ,分析了火箭测控设备的现状及 VXI总线系统的特点。重点论述了我们应用 VXI总线系统研制火箭测控设备及其维修计量的技术方案  相似文献   

9.
文章描述了利用自动测试系统对数字电路板进行仿真、测试和故障维修的方法。首先介绍了基于VXI总线的自动测试系统集成技术,然后探讨如何利用数字仿真软件自动为数字电路板生成测试向量和故障字典。最后给出了一个自动测试程序集成开发环境的体系结构,可以方便地利用自动测试系统为数字电路板开发自动测试程序和故障诊断程序。  相似文献   

10.
铁路信号电缆绝缘在线测试   总被引:2,自引:0,他引:2  
马全松  秦亚明  廖立平 《测控技术》2003,22(4):26-27,40
数字绝缘表通常只能对离线电缆进行绝缘测试。介绍了一种在线电缆绝缘测试系统,解决了测试干扰、设备互容等关键技术,这一设备已应用在TJWX型信号微机监测系统中,并在铁路信号系统大量推广。  相似文献   

11.
复杂数字电路的在线进化是目前演化硬件领域的难题之一.本文阐述了基于多级分解进化的复杂数字电路在线进化思想,给出了数字电路进化设计算法,分析了数字电路编码方案,研究了数字电路在线验证评估方法,设计了适应度函数,给出了数字电路在线进化设计实验系统方案.以典型数字电路为例,验证了多级分解进化方法的有效性,实验结果表明,采用多级分解进化方法可大大提高数字电路在线进化设计的速度与成功率,也有利于提高数字电路在线验证评估效率.  相似文献   

12.
数字集成电路测试技术应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍了数字集成电路测试系统的基本构成,当今超大规模数字集成电路测试的基本原理,并在掌握这些测试理论的基础之上针对不同类型的测试系统利用其各自测试语言进行编程的测试技术应用,同时也提出了集成电路测试技术面临的挑战和未来发展趋势。  相似文献   

13.
采用螺管式电感线圈作为检测探头设计了一种在线式矿浆磁性物含量检测仪,介绍了该仪器的构成、工作原理及软件设计等。该仪器可以实时观察磁性物含量的变化,提高了选矿效率;采用数字电路,抗干扰能力强、精度高,便于与其它设备整合。经试验检测,该检测仪可以提供精度达到0.5%的数据。  相似文献   

14.
从器件选择和电路设计两方面,设计了无线电导航接收机的高速数据采集模块,并利用集成在MATLAB中的CCSLink工具和作者开发的接收机板上的FPGA和DSP,设计了基于FPGA和DSP的测试软件,对ADC进行了可编程、数字化的性能测试。  相似文献   

15.
李华伟 《集成技术》2013,2(6):54-64
先进集成电路工艺下,时延测试是数字电路测试的一项重要内容。各种时延偏差来源如小时延缺陷、工艺偏差、 串扰、电源噪声、老化效应等,影响着电路的额定时钟频率,是时延测试中需要考虑的因素。文章在介绍电路时延偏差 问题的各种来源的基础上,给出了针对不同的时延偏差问题所涉及的分析、建模、测试生成与电路设计等关键技术。进 一步介绍了中国科学院计算技术研究所近年来在考虑时延偏差的数字电路时延测试方面所做的研究工作,包括:考虑串 扰/电源噪声的时延测试、基于统计定时分析的测试通路选择、片上时延测量、超速测试、测试优化、在线时序检测等方 面。文章最后对数字电路时延测试技术的发展趋势进行了总结。  相似文献   

16.
为完成数字指令驱动电路的指令测试,设计了计算机-单片机-被测电路的三级硬件架构及软件程序。计算机按照数字指令驱动电路的指令格式进行发送与接收工作,单片机辅助测试,将数字指令驱动电路的执行结果反馈给计算机,计算机进行比对以完成对数字指令驱动电路的指令测试工作。应用这一系统,实现了无人值守的数字指令驱动电路测试工作,提高了测试效率。通过实验验证了将嵌入式技术应用于集成电路测试工作中的可行性与优越性,为集成电路的测试工作又开辟了一条快速通道。  相似文献   

17.
概述了以DSP为核心的一般逻辑系统。结合实例详细介绍了基于PCI卡的DSP系统在线加栽电路的硬件设计和程序在线加栽技术,该技术具有较大的可扩展性,可广泛应用于基于网络的,以DSP作为核心处理器的各种电子设备中。  相似文献   

18.
为了解决雷达伺服系统的测试问题及满足部队模拟训练的需求,设计了基于VXI总线雷达天线转动信号数字模仿器。系统设计了A16/D16寄存器基接口电路,开发了软面板和仪器驱动程序。同时雷达天线转动信号产生功能电路实现中采用了特殊的模拟信号存储技术,使得电路具有成本低,性能高的特点。实际测试表明.所研制的VXI总线雷达天线转动信号数字模仿器能够产生幅度、频率可控的兼容不同体制雷达的转动同步信号,并可驱动多套负载.应用前景广阔。  相似文献   

19.
FPGA配置芯片测试方法的研究与实现   总被引:2,自引:0,他引:2  
集成电路规模越来越大,测试难度也越来越高,边界扫描方法的提出降低了测试的复杂度,适合进行大规模集成电路的测试。介绍了边界扫描的概念和特点,研究了FPGA配置芯片测试方法,并在V93000测试系统上实现了配置芯片EPC2的边界扫描测试,给出了具体测试过程,符合IEEE1149.1边界扫描规范,为具有JTAG接口的元器件测试提供了依据。  相似文献   

20.
针对数字电路的测试两大难点,采用二元判决图(BDD)表示数字电路模型,同时由BDD生成测试矢量来完成数字电路的功能测试。在由VHDL描述完整电路功能的基础上用遗传算法对BDD的规模进行压缩优化。整个系统构成简单,自动化程度高,测试耗时少。  相似文献   

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