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应用自组装技术在Fe电极表面制备正、叔十二烷基硫醇自组装膜,用反射傅立叶红外光谱(FT-IR)、电化学阻抗谱(EIS)和Tafel极化曲线对正、叔十二烷基硫醇自组装膜进行表征,结果表明,正、叔十二烷基硫醇都能在Fe表面形成自组装膜;设计了自组装膜的等效电路,并对EIS数据进行拟合;EIS拟合结果和Tafel极化曲线均表明,正、叔十二烷基硫醇自组装膜对Fe电极在 0.5 mol/L NaCl溶液中均具有较好的缓蚀作用,并且前者的缓蚀作用强于后者。 相似文献
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在乙醇体系中采用十八硫醇(ODT)在青铜表面制备自组装膜(SAMs),采用循环伏安法、极化曲线和交流阻抗谱等电化学方法研究该膜在0.5 mol/LNaCl溶液中对青铜电极的缓蚀性能。结果表明:ODT在青铜表面形成了SAMs,能够有效抑制青铜的腐蚀。随着成膜温度和ODT浓度的增高,ODT自组装膜的缓蚀效率和覆盖度提高。当ODT浓度为0.1 mol/L、成膜温度为60℃时,缓蚀效率为98.1%,覆盖度为98.7%;十八硫醇在青铜表面的吸附行为符合Langmuir吸附等温式,吸附机理是典型的化学吸附。 相似文献
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采用不同的分散剂将十八烷基硫醇(ODT)分散在水溶液中,并以其在银表面制备了自组装膜(SAMs)。用极化曲线、交流阻抗、循环伏安等电化学方法研究了ODTSAMs对银的缓蚀作用及吸附行为。结果表明:ODT分子能够在银表面形成稳定、致密的SAMs,有效抑制了银的阴极氧去极化过程和阳极硫化过程,改变了电极表面的双电层结构,对银有良好的缓蚀作用。ODT在银表面的吸附行为符合Langmuir吸附等温式,吸附机理是典型的化学吸附。 相似文献
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对紫铜表面进行高能离子注渗Ni、Al试验的对渗层组织、成分分布进行了观察与分析,并同单元注渗Ni实验进行了比较分析.结果表明,紫铜表面高能离子注渗镍的渗层与铜基体结合良好,由表及里镍含量呈梯度分布,紫铜高能离子注渗Ni、Al的渗层组织和渗Ni组织大致相似,渗层表面出现"贫Al现象",即铝向基体扩散,最终主要集中在渗层的中部. 相似文献
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纯铜双层辉光离子临界区渗钛研究 总被引:7,自引:0,他引:7
利用双层辉光离子渗金属技术在纯铜表面制备了铜钛合金层。实验结果表明,合金层由以铜钛化合物为主的表层和钛在铜中α固溶体与弥散分布的Cu4Ti有序相的次表层组成。在源极与工件间距固定的条件下,表层成分受源极电压、工件电压和温度的影响,次表层厚度主要受温度和时间影响。在扩渗初期,轰击离子的强度对钛元素有催渗作用。源极电压与工件电压之比V源/V工≥2,气压选在(25~40)Pa有利于铜钛合金层的形成。纯铜渗钛虽可使材料表面强化,但表面电阻明显增大。 相似文献
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通过现场实验(1,2和2.5 a)和电化学阻抗谱(EIS)测试,并结合腐蚀形貌宏观观察, SEM, XRD及失重法对纯Cu在北京土壤环境中的腐蚀行为及机理进行了研究。结果表明:现场埋样1,2和2.5 a的纯Cu的腐蚀特征均为非均匀的全面腐蚀,腐蚀程度较轻微。随埋样时间的延长,纯Cu的腐蚀速率近乎呈线性关系减小,岛屿状腐蚀产物中的空隙等缺陷减少,其致密性有所改善。腐蚀产物均主要由Cu2(CO3)(OH)2, CuO3H2O和CuCl组成。 相似文献
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锂对工业纯铜再结晶温度的影响 总被引:3,自引:1,他引:3
在工业纯铜中加入微量锂能提高其再结晶温度,试验表明:加入0.04%(质量百分数)锂,使冷拔后的工业纯铜的再结晶开始温度从400℃提高到440℃,这是由于加入锂后,固溶于铜中,造成铜的晶格畸变,对再结晶过程中的位错运动与重排起阻碍作用,抑制再结晶过程的形核和晶界迁移,从而抑制再结晶,提高铜的再结晶温度。 相似文献
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向工业纯铜中加入不同含量的Li,结果使工业纯铜中夹杂物氧,硫含量大幅下降。氧由7.3*10^-5降至(2-3)*10^-6,硫由8.6*10^-6降至(10-15)*10^-6,而对其它微量杂质元素Fe,P,Si等,Li的作用表现甚微,并对以上结果分别进行了热力学定量和定性分析,结果表明;Li对工业纯铜中O,S等具有优异的净化作用是由于Li的化学活性很大的缘故,而对微量杂质元素Fe,P,Si基本不 相似文献
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通过1 a现场实验,并结合腐蚀形貌宏观观察、SEM、XRD及失重法对纯Cu和铜包钢在大港土壤环境中的腐蚀行为进行了研究。结果表明, 现场埋样的纯Cu、电镀铜包钢和连铸铜包钢的平均腐蚀速率分别为1.01,1.05和1.07 g/(dm2a),其中电镀铜包钢和连铸铜包钢的平均腐蚀速率接近,纯Cu的腐蚀速率略小;腐蚀特征均表现为非均匀的全面腐蚀,腐蚀程度有所差异;腐蚀产物均主要由Cu2O,Cu(OH)2和CuCl组成。 相似文献