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电源管理方案 电源管理是当今的1个热门技术。电源管理包括电源监控、定序、容限等(图1)。电源管理需要新的方法。图2示出Zilker Labs公司的方案。 相似文献
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随着目前国际集成电路封装测试产业不断向中国转移,更多国际知名公司均希望在中国找到低成本、高品质的解决方案。集成电路测试作为品质把关的重要一环,其成本在整个集成电路产业链中占有较高比重。据统计,目前有很多集成电路的测试成本已高达整个集成电路生产成本的45%以上,因此,测试成本的有效降低能够明显减少集成电路制造成本。昂贵的集成电路测试设备是导致IC量产测试成本偏高的主要因素,需要负责IC量产测试的工程技术人员不断地探索和钻研如何最有效地使用这些测试设备。本文详细地阐述了如何使用乒乓测试模式充分利用设备资源,从而有效降低IC的测试成本。 相似文献
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昂宝电子(上海)有限公司座落在中国国家级信息技术产业基地——上海浦东张江高科技园区,是一家从事高性能模拟及数模混合集成电路设计的企业。8月16日昂宝在上海金茂君悦酒店召开新品发布会,中国半导体行业协会集成电路设计分会理事长王芹生女士和昂宝电子总裁陈志樑博士共同开启了新品按钮,正式向业界宣布推出全新高性能、低功耗的绿色电源管理芯片系列,这些产品都立足于自主开发的“绿色引擎”技术与知识产权,应用范围覆盖各种AC/DC电源、充电器、CCFL显示屏背光电源系统(DC/AC)以及功率因数校正器等多方面。从高端切入力争一流昂宝… 相似文献
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当前,越来越多的半导体生厂商正在把IC的生产和测试移师亚洲,特别是中国。3月,半导体设计与生产测试方案的领先厂商——Credence宣布在上海成立办事处。在上海的SEMICON/China展会上,Credence副总裁Larry Dibattista和中国区商务总监丁辉文先生接受了本刊的采访。 相似文献
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从小柳光正教授1978年堆叠的两只MOS电容DRAM的三维结构出发,到2010年半导体业界提出了Cu-TSV工艺方法,演进出一部三维集成微纳电子学。本文梳理近6年内的3D-IC测试的一次文献,重点分析了键合前测试、键合中测试和键合后测试。尝试从不同的角度,例如内建自测试、探头技术、串扰、短路与开路检测,以及基于成本优化的温升与应力检测,讨论3D-IC测试所遇到的难题及其解决方法。未来的3D-IC测试技术看好小组数超微探针技术、DfX技术和自适应测试,测试的优化方向必将考虑"成本与功耗折中权重下的良率"新模型。 相似文献
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介绍了一种特别的低压差线性稳压电路,以及针对该电路的测试方法。该电路的特殊之处在于圆片上所有管芯的输出端短接在一起,无法直接用常规方式进行多工位并行测试,需要使用浮动电源对每个工位进行隔离测试。同时在测试方案中加入了自校准功能,可以在长期大规模测试中有效地保证测试准确性,避免因测试系统出现异常造成误测。 相似文献
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本文将探讨小器件CDM测试的难处,并提出一些已经尝试用于使用场致CDM测试方法改善小器件可测试性的构想. 相似文献
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2003年8月22日信息产业部电子第五研究所与安捷伦科技共同宣布,签定全方位集成电路测试技术合作协议,并成立集成电路测试产业化发展中心,双方同意在集成电路市场拓展与集成电路测试技术方面全面合作,共同致力于推进国内集成电路测试服务与技术发展,包括CPU、DSP、DVD、DTV(数字电视),WLAN(无线局域网),Contact/Contactless SmartCard(接触式/非接触式智能卡)和CDMA等多种应用领域芯片乃至系统芯片(SOC)的测试技术,形 相似文献
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介绍什么是绿色IC产品,绿色IC产品的耐锡热能力、其引出端子的沾锡能力和锡须、吸湿敏感性评价,并给出了一些研究成果。 相似文献
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SW233 PIN驱动器自动测试系统的研制 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍了一种集成电路自动测试系统,该系统采用计算机并口作通信接口,用VB6编程,实现了对外围测试电路的控制,用IEEE-488接口卡控制测试仪器,可对SW233电路的36个参数进行自动测试,并将测试结果自动保存在数据库中。该测试系统具有自动化程度高、操作方便、测试结果精确等特点。 相似文献
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文章介绍了自动测试系统的原理与内部模块之间的工作过程及系统的总体结构。懈决了精确测量单元等关键技术.研制了一种通用性强,成本低.性能可靠的自动测试系统。经过实验与生产应用,所研制的测试系统适合于半导体行业的实际生产需要,具有比较高应用价值。 相似文献
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随着半导体行业测试技术不断提高,IC分选机技术不断升级,昂贵的集成电路测试设备是导致集成电路测试成本偏高的主要因素。如何最有效地使用好现有设备,充分利用设备资源,降低测试成本,提高测试效率,是工程技术人员需要探索的问题。从如何实现两台IC分选机并行测试展开具体的说明,详细介绍两台IC分选机与测试系统并行测试的通信原理,以及实际工作中的一些注意事项,避免出现质量事故,并通过试验说明并行测试的优越性。 相似文献