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介绍了一种具有优良时间分辨率的新型快中子探测器,用蒙特卡罗方法模拟了该探测器的能量响应和产生质子的转换效率,分析了其n/γ分辨能力.该探测器结合飞行时间法可以准确地测量快中子能谱. 相似文献
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我们用一个2mm丝距的正比室对X射线的能响应进行了测量,并用一个侧窗多丝正比室对X射线在多丝室工作气体中的吸收系数进行了测量及讨论。得到的一些实验结果可供设计制作多丝室时参考。 相似文献
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研制了一种能够分辨电子和X射线的多丝室系统,作为穆斯堡尔谱仪的探测器,可以同时测量样品吸收共振辐射后发射的特征X射线和内转换电子及俄歇电子的穆斯堡尔谱,从而得到样品表面不同深度的多种信息。 相似文献
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肿瘤治疗中,射线照射正常组织和肿瘤组织没有区别,为保护正常组织,利用具有微孔的材料将大面积入射的X射线分割为线性微束X射线矩阵,使得照射在病灶处的X射线在总量上减少,可有效保护正常组织。本课题利用蒙特卡罗方法模拟X射线透射铜、铁、铅、钨四种金属微孔板,计算X射线透射有孔部分与非孔部分后的通量比值——峰谷比,研究峰谷比与入射X射线能量、金属板厚度、金属板材料的关系。模拟结果表明:峰谷比随厚度增加而增大;随着能量增大而减小;相同厚度,相同能量下铁、铜、铅对应的峰谷比相差不大,且都远小于钨对应的峰谷比。 相似文献
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X射线荧光分析原级能谱分布的MCNP模拟 总被引:1,自引:1,他引:0
X射线荧光分析中,入射激发能谱是影响元素特征荧光强度大小的直接因素。本文使用MCNP程序模拟不同条件下电子打靶后的X射线能谱分布,计算结果能够反映不同条件下特征谱线和连续谱线的特点。模拟能谱数据可用于X射线荧光分析的数据处理。 相似文献
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MCNP程序对X射线荧光分析校正曲线的模拟计算 总被引:1,自引:0,他引:1
X射线荧光分析中,由于物质成分变化对检测结果的影响,在多数情况下元素浓度含量和荧光强度间不是线性对应关系.针对0~100%浓度的Fe和基体为Cr(强吸收体)和O(弱吸收体)的二元混合物样品,使用MCNP程序模拟强吸收和弱吸收时Fe的荧光强度和Fe的浓度的对应关系.理论表明该对应关系为由参数p确定的曲线,p值由基体元素和... 相似文献
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介绍了多气隙电阻板室(MRPC)的结构和原理,用蒙特卡罗方法计算了MRPC对快中子的灵敏度,并进行了脉冲中子实验。实验表明,MRPC有望用于飞行时间法测量快中子能谱。 相似文献
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介绍了一种应用于缪子成像系统的新型二维高位置分辨探测器,MRPC探测器的有效面积为1 072 mm×1 072 mm,先后对探测器在宇宙线和X射线下测试其性能,结果表明探测效率高于98%,位置分辨好于272μm。 相似文献
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四路并联二极管辐射X射线场参数计算 总被引:1,自引:1,他引:0
利用二极管的电压、电流计算了发射电子束能谱参数,建立了四路并联二极管阳极靶蒙特卡罗粒子输运计算模型,给出了辐射X射线场参数;将四路并联二极管的每个二极管划分为若干小单元,将其作为点源,采用数值积分的方法计算了辐射X射线剂量分布,并分析了空间不同位置处每路二极管对剂量的贡献。结果表明:真空中,距离四路并联二极管阳极靶5cm位置处,X射线注量为3.55mJ/cm2,光子平均能量为62.18keV,120keV以下的光子占辐射X射线谱总能量的81.84%,电子束转换效率为0.30%;在2 700cm2范围内,中轴线和对角线上的剂量均匀性分别为3.20和6.31;在2 000cm2范围内,中轴线和对角线上的剂量均匀性均小于2。 相似文献
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本文建立了10 Mev电子轰击铅靶、铁靶、铝靶产生x射线的几何模型,使用蒙特卡罗程序模拟计算得到了0°~180°方向上产生的x射线能谱和O°、90°、180°方向上的剂量率发射常数。模拟结果表明剂量率发射常数具有明显的方向性,0°方向轰击铅靶最高,随着靶材原子序数的降低或角度的增大而减小;0°方向的X射线能谱最硬,随着靶材原子序数的降低或角度的增大而逐渐变软。 相似文献
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为提高X射线源针孔成像系统的性能,对成像能区为10~100 keV的X射线源针孔成像系统进行了优化设计研究。综合应用了理论分析和蒙特卡罗模拟的方法,首先根据X射线波长、准直器角响应和X射线穿透效应对针孔成像的不同影响结果设计了可有效控制成像分辨率和成像面积变化的船底型准直器,随后用蒙特卡罗方法对使用该准直器的针孔成像系统进行了模拟验证。结果表明,对于100 keV以下的X射线,经船底型准直器后,成像的空间分辨率和亮斑亮度较稳定,能得到相对准确的X射线源定位、定量信息。 相似文献