苏州中科集成电路设计和工程测试中心采用惠瑞捷V93000为本地设计公司提供支持——业内领先的SoC测试平台满足了工程师培训和设计公司的需求

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司（NASDAQ：VRGY）目前宣布,全面提供IC设计、测试和培训服务的机构——苏州中科集成电路设计中心（SZICC）已经采用惠瑞捷V93000 SoC测试仪器。该中心将使用这一系统,满足数量不断扩大的本地设计（Fabless）公司的测试需求。     

SiTest Solutions采用惠瑞捷V5000e进行闪存测试

惠瑞捷半导体科技有限公司（NASDAQ：VRGY）日前宣布,提供测试工程设计解决方案和服务的领导服务提供商——SiTest Solutions公司已经选择惠瑞捷V5000系列作为闪存测试平台。V5000e将允许SiTest Solutions在不断扩大的一系列功能中增加NANDN闪存测试和专用存储器测试功能。     

惠瑞捷半导体科技庆祝外包制造过渡中的一项重大里程碑第100套Verigy V5000存储器测试系统从伟创力(中国)发货

惠瑞捷半导体科技（NASDAQ：VRGY）日前宣布其外包制造策略中的一项重大里程碑：由惠瑞捷合作伙伴——电子制造服务供应商（EMS）伟创力公司（NASDAQ：FLEX）制造的第100台Verigy V5000系列存储器测试系统已经发货。     

苏州中科集成电路设计和工程测试中心采用惠瑞捷V93000为本地设计公司提供支持

业内领先的SoC测试平台满足了工程师培训和设计公司的需求半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(NASDAQ:VRGY)日前宣布,全面提供IC设计、测试和培训服务的机构——苏州中科集成电路设计中心(SZICC)已经采用惠瑞捷V93000 SoC测试仪器。该中心将使用这一系     

展讯通信公司选择Verigy Port Scale RF解决方案测试无线器件

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司（NASDAQ：VRGY）日前宣布,中国领先的无线基带芯片组供应商之一展讯通信有限公司（NASDAQ：SPRD）已经选择Veriaw Port ScaleRF解决方案,红中国苏州对其生产的器件进行测试。在评测了多个竞争对手的解决方案后,展讯最终选择了Port Scale RF,因为它吞吐量高,拥有多站测试功能,提供了更低的测试成本（COT）、性能更高的结果及杰出的测试稳定性。自从采用了Port Scale RF后,展讯已经使其大批量RF器件测试成本较以前的解决方案降低了大约50％。     

东方集成与苏州工业园合作，建立“集成电路研发与生产相关测试仪器设备租赁服务中心”

北京东方中科集成科技有限公司（东方集成）日前与苏州工业园合作，正式与园区内主要基础科技服务平台之一的：中科集成电路设计中心合作，共同成立了“集成电路研发与生产相关测试仪器设备租赁服务中心”。该租赁中心将配合“江苏省集成电路测试服务中心”的建设与发展，依托测试中心以集成电路测试平台为核心的集成电路测试服务协作网，充分发挥东方集成公司以其战略合作伙伴（ORIX Rentec全球最大的科技租赁公司）的实力，依靠5万种50万台件的高科技测试仪器设备库存以及公司长期专业化的本地服务经验，     

ASE Test公司授予惠瑞捷“2008年年度供应商”称号

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司日前宣布,全球最大的独立半导体测试公司之一ASE Test公司（以下简称“ASE Test”）授予惠瑞捷“2008年年度供应商”称号。该奖项是基于ASETest每月依据质量、工程服务、交付和成本等四个标准对其供应商进行评比的结果而颁发的。     

“首届集成电路测试技术论坛”在京隆重开幕

由中国电子技术标准化研究所（CESI）主办的“首届集成电路测试技术论坛”于2008年8月28日在京隆重开幕。此次论坛吸引了来自集成电路领域的知名专家、学者、政府部门的主管、行业代表以及国内一些科研院所和国内测试和设计企业工程师共100多人。     

惠瑞捷V93000 Port Scale射频测试解决方案

日前，半导体测试公司惠瑞捷（NASDAQ：VRGY）的Port Scale射频测试解决方案已被日本冲电气工业株式会社OKI（TSE：6703）选用作测试其高集成度无线通信芯片。OKI的芯片目前已被消费电子制造商广泛地应用于各种终端产品的制造当中，其中包括：机顶盒，手机，掌上电脑和其它无线产品等等。OKI亦利用其在封装技术方而的优势向其它制造商提供封装与测试服务，而Port Scale射频测试方案将为OKI的测试服务业务进一步提供更多价值。惠瑞捷Port Scale射频测试解决方案凭借其独到的性能、具有优势的测试成本、v93000平台的可靠性和可扩展性以及遍布全球的高质量应用测试服务支持最终获得OKI的青昧，在众多候选方案中脱颖而出。     

安捷伦科技公布半导体测试公司分割后新名字

安捷伦科技（Agilent Technologies）日前（北京，2006年1月19日）宣布，预计于2006年中自安捷伦科技分割成立的半导体测试公司已选定将Verigy＊做为新公司的正式命名。     

惠瑞捷推出适用于V93000平台的Inovys硅片调试解决方案缩短系统级芯片（SoC）制造者改善成品率的时间

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(NAS-DAQ:VRGY)日前推出InovysTM硅片调试解决方案,以满足更高效调试的需求,加速新的系统级芯片(SoC)器件的批量生产。惠瑞捷全新的解决方案把革命性的InovysFaultInsyte软件和具有可扩充性和灵活性惠瑞捷V93000SoC测试系统结合在一起。     

2009集成电路测试技术研讨峰会在上海成功召开

2009年11月11日,由中国电子学会和中国电子器材总公司联合主办的＂第74届中国（上海）电子展第十三届国际电子测试与测量专业研讨会暨2009集成电路测试技术研讨峰会＂在上海新国际博览中心隆重召开。     

2009集成电路测试技术研讨峰会在上海成功召开

2009年11月11日,由中国电子学会和中国电子器材总公司联合主办的“第74届中国（上海）电子展第十三届国际电子测试与测量专业研讨会暨2009集成电路测试技术研讨峰会”在上海新国际博览中心隆重召开。     

2009集成电路测试技术研讨峰会在上海成功召开

2009年11月11日,由中国电子学会和中引电子器材总公司联合主办的“第74属中国（上海）电子展第十三届国际电子测试与测量专业研讨会暨2009集成电路测试技术研讨峰会”在上海新国际博览中心隆重召开。     

第二届全国集成电路测试学术会纪要

一第二届全国集成电路测试学术会于一九八二年十月四日至十日在杭州市举行。会议是由中国电子学会电子测量与仪器学会、北京电子学会半导体专业委员会自动测试分会和杭州电子学会联合举办的。会议由中国电子学会电子测量与仪器学会副主任委员贺铭琛同志主持,国家科委华光盈同     

生生不息——我国集成电路测试的自主创新之路

信息化时代,集成电路呈现了高集成度、高性能、微型化、低功耗等特点。互联网的发展为集成电路技术的发展提供了更多的机遇与挑战。我国具有全球最大的集成电路产业应用市场,也是最大的集成电路产品进口国。虽然我国的集成电路技术与国外先进技术还存在一定的差距,但是芯片国产化已经成为当今的一个重要课题。中国集成电路产业的迅速发展,为集成电路测试技术科研工作和产业化提供了难得的机遇,也为北京自动测试技术研究所在测试产业化发展中发挥其技术和市场优势提供了广阔的舞台。在此,为深入了解我国集成电路技术发展情况以及北京自动测试技术研究所为我国集成电路发展所做的贡献,《国外电子测量技术》特地采访了北京自动测试技术研究所张东所长为各位读者带来北京自动测试技术研究所关于集成电路测试方向最新的研究进展。     

OKI选用惠瑞捷V93000 Port Scale射频测试解决方案

半导体测试公司惠瑞捷宣布，日本冲电气工业株式会社OKI选用惠瑞捷PortScale射频测试解决方案以测试其高集成度无线通信芯片。OKI的芯片目前已被消费电子制造商广泛地应用于各种终端产品的制造当中，其中包括：机顶盒，手机，掌上电脑和其它无线产品等等。OKI亦利用其在封装技术方面的优势向其它制造商提供封装与测试服务，而PortScale射频测试方案将为OKI的测试服务业务进一步提供更多价值。惠瑞捷PortScale射频测试解决方案凭借其独到的性能、具有优势的测试成本、v93000平台的可靠性和可扩展性以及遍布全球的高质量应用测试服务支持最终获得OKI的青睐，在众多候选方案中脱颖而出。     

集成电路测试仪器述评

随着我国集成电路工业的迅速发展,集成电路的应用日益广泛。集成电路的测试问题也日益增多。为了解决这些问题,我国各部门的集成电路测试人员研制了各种各样的集成电路测试仪器,取得了很多成果。一九八○年举行了我国首届半导体集成电路测试学术交流会,交流了我国多年来发展集成电路测试技术和研制集成电路测试仪器的经验,涉及各种集成度的数字电路特别是中规模逻辑电路、大规模集     

R＆S引领集成电路测试解决方案 2008年国际集成电路研讨会暨展览会

北京,2008年2月25日-在2008年3月10日至11日在上海世贸商城举办的2008年国际集成电路研讨会暨展览会上,罗德与施瓦茨公司将展示其全面领先的射频和微波测试解决方案。     

安捷伦宣布一致性测试和设计验证系统提供对LTE-A载波聚合的支持

2013年11月4日,北京——安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布推出适用于T4010S LTE RF和T4020S LTE RRM测试系统的新选件。新增功能覆盖了由3GPP定义的LTE-Advanced载波聚合测试案例。