测量非透明膜厚度的一种新方法

本文为非透明膜厚度提供一种新的测量方法。该方法测量简便,精度高,同时也适用于透明膜厚的测量。一、原理若用钠双线(λ_1=5889.963 A、λ_2=5895.930A)照射迈克尔逊干涉仪,在视场中可观察到干涉条纹的可见度随光程差的改变而发生“极大-极小-极大……”周期性变化。可以算出当二光路程差改变Δ=λ_1λ_2/(λ_2-λ_1)=988λ_1时,也就是迈克尔逊干涉仪的动镜M_1连续移动l=988/2λ_1距离时,干涉条纹的可见度整整发生一个周期变化,当动镜M_1连续移动21=2·988/2λ_1距离时,可见度发生二个周期的变化,当M_1连续移动kl=k·988/2λ_1距离时,条纹的可见度发生k个周期的变化。     

补偿法测量电阻的改进

在电学检定工作中,测量电阻的方法之 一,就是将标准电阻一端与被测电阻的一端 相接,而在另两端加一直流可调电源,用电 位差计分别测量标准电阻压降和被测电阻压 降,来确定被测电阻的实际值,此法称为补 偿法。补偿法的特点是:导线电阻及其它接 触电阻都不致引起测量误差;另一特点是测 量范围宽,准确度高,尤其在比较同名义值 的电阻,测量准确度可达10-5,比较不同名 义值的电阻,测量准确度可达与电位差计准 确度相同的水平。如图1。 被测电阻值由下式得出: 式中:Rx──被测电阻的实际值 RN──标准电阻阻值 Ux──Rx上的直流压降 RN──RN…     

测量电桥的新型温度补偿法

基于模拟转换的补偿方法的电路见图1,其中测量电橇的激励即电源电压,为基准量,我们知道     

基于遗传退火算法的多层薄膜厚度测量

根据薄膜光学计算理论和最优化理论,本文提出了一种测量多层薄膜厚度的新的全局优化算法.首先利用遗传的种群性去寻找多个局部极值,然后将较优和较差的种群按一定概率接收并作为模拟退火的初值进行搜索.最后结合共轭梯度算法来提高收敛速度,使整体搜索效率进一步提高.这种遗传退火算法有效地提高了算法的稳定性,减少了算法对膜厚搜索范围的限制.文章最后以3层和4层光擘薄膜为例,利用该算法在10 nm至5 μm的大范围内搜索,所取得的结果,其测量误差小于1%.     

用球坑仪测量多层膜的厚度

本文叙述了球坑仪的结构及工作原理，用一台自制的球坑仪测量了镍箔片和铬／铜／ 铁三层膜的厚度。     

多层共挤复合材料层间结构和厚度的测量和控制

一、多层共挤复合材料层间结构和厚度测量和控制的重要性 多层共挤复合的定义指出,多层共挤复合材料具有按照预定次序排列的,有明显界面,结合紧密,厚薄均匀,混成一体的层间结构.     

一种测量超微粒子表面氧化层厚度的新方法

通过XPS分析与Ar~ 刻蚀相结合的方法，测量了Fe_(50)Pd_(50)合金超微粒子（UFP）的表面氧化层厚度，发现它的表面氧化层为1．4um厚，小于电镜观察到的表面非晶层厚度，表明此方法测量的表面氧化层厚度不受表面吸附层的影响，并且能直接了解UFP表面的具体氧化状态。     

采用HRTEM对石墨烯材料单层厚度测量的研究

将石墨烯材料薄膜制成可以通过高分辨透射电子显微镜(HRTEM) 观察的横截面样,在室温20 ℃,变换放大倍数,通过HRTEM自带的测量软件得到的单次测量值为0.411 nm,同时可以看到石墨烯材料形貌较清晰,其剖面结构并不是理想的笔直直线。通过局部剪切图和增大间隙图,提取石墨烯材料单层的边缘数据。通过直方图法获得其单层厚度的测量值,厚度均值为0.390 nm,厚度重复性测量不确定度为0.042 nm。在置信水平为95%的条件下,计算得到石墨烯材料的单层厚度为(0.390±0.086) nm。相对石墨烯厚度的公称值,石墨烯材料的单层厚度偏大,分析认为石墨烯材料层与层之间紧密连接度不够,造成单层厚度与石墨烯厚度存在差异。     

金相法测量镀镍层厚度的不确定度评定

采用金相法测量了某镀镍铜线的镀镍层厚度,从试验重复性、金相试样镶嵌的垂直度以及光学显微镜标尺的校准等方面对影响镀层厚度测量结果的不确定度进行了分析和阐述,并对各不确定度分量进行了计算和合成,最终给出了镀镍层厚度测量的不确定度报告。结果表明:该镀镍铜线的镀镍层厚度为16.57μm,扩展不确定度U=1.68μm,包含因子k=2。     

多光程长测量高散射物质浓度

为了提高高散射物质浓度测量的精度,提出多光程长测量物质浓度的方法,同时对单一光程长进行多次测量,以脂肪乳与印度蓝墨水的混合溶液为例对其浓度进行测量,并结合偏最小二乘法对测量数据进行曲线拟合.拟合结果表明,多光程长测量的精度要远高于单光程长测量精度,尤其印度蓝墨水的多光程长测量精度要比单光程长测量精度高一个数量级.因此,多光程长测量高散射物质浓度的方法可以大幅度提高测量精度.     

钢丝绳网紧固件镀锌层厚度测量不确定度评定

根据JJF 1059.1—2012及GB/T 6462—2005对影响钢丝绳网紧固件镀锌层厚度的不确定度因素进行分析,评定了合成不确定度和扩展不确定度,通过人员比对分析的方法确定归一化偏差,给出了评定意见。     

硅片表面超薄氧化硅层厚度测量关键比对CCQM-K32

利用X射线光电子能谱技术,建立了硅片表面超薄氧化硅层厚度（小于10 nm）准确测量方法。中国计量科学研究院参加了国际关键比对CCQM-K32,根据公布的国际关键比对结果,中国计量科学研究院的测量结果与参比的各国国家计量研究院的测量结果达到了等效一致,测量结果的不确定度为4.6%～7.0%。     

镀金层的厚度控制

1　前　言柠檬酸盐镀金虽然镀层细致、光亮、孔隙率低 ,但由于对杂质比较敏感 ,同时分解产物积累快 ,槽液易老化 ,使应用受到一定的限制。加强槽液的管理与控制 ,可以大大提高镀金槽液的使用寿命 ,且镀层的质量也比较稳定。但从成本控制和生产效率来看 ,随着槽液使用时间的延长 ,电流效率会大幅度下降 ,这给保持镀层厚度的稳定带来了很大困难。生产中金作为贵重金属 ,既要保证镀层厚度 ,又不能浪费。因此 ,弄清影响镀金电流效率的各种因素 ,并制定适当的措施 ,保证镀金层的厚度稳定 ,是必须研究的课题之一。2　试验方法2 .1　镀液配方及工艺…     

望远镜光程稳定性测量方案设计及噪声理论分析

空间引力波探测对望远镜提出了高稳定性要求。为实现望远镜光程稳定性精度的独立测量与标定,开展了相应测量方法的研究。基于外差干涉测量原理,设计了高共模抑制干涉测量方案,建立了光程噪声理论模型。根据1 pm/Hz^1/2@1 mHz光程稳定性指标需求,分配测量系统组成部分光程噪声水平。为验证方案的可行性和噪声理论模型的准确性,搭建了望远镜前端干涉测量系统。根据实验仪器及光学组件相关参数,理论评估系统光程噪声水平为7.319 nm/Hz^1/2@10 mHz,与实验测量结果3 nm/Hz^1/2@10 mHz基本一致,表明干涉光路具有较好的噪声共模抑制特性,验证了噪声理论模型的准确性。当测试环境及仪器精度满足光程噪声指标分配要求时,该测量方案有望实现引力波望远镜光程稳定性测量。

     

薄膜厚度测量研究

本文介绍一种简便的薄膜厚度测量方法。可在普通的光切显微镜上，利用光切原理测量薄膜厚度。能测量0．8－80微米的薄膜厚度。     

厚度测量知识问答

一．金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的定义 覆盖层应具有不小于一定数值的厚度（少数情况下要求不大于某一数值）,是大多数覆盖层标准中的一个重要要求。     

金属膜厚度的偏振测量

本文直接用椭圆偏振法测金属膜厚度,并且对计算金属膜ψ,△公式进行了详细的推导。实验结果表明,用激光椭圆仪实施对金属膜厚度的测量,可以得到比较满意的结果。     

四电极质子补偿法测量质子交换膜的电导率

对已有的质子交换膜电导率的测试方法进行了分析，针对影响准确测量电导率的因素而设计了一种四电极质子补偿测试法．结果表明，该方法与传统的四电极测试法相比，简单方便、精度较高，能有效地避开极化与测量时间的影响，具有广泛的实用性．