半导体测试设备联盟机构STC力推外围接口标准化工作

半导体测试联盟（Semiconductor Test Consortium，STC）日前宣布，其为推动自动化测试设备（ATE）外围接口标准发展采取的一项全新的举措，目前已经取得较大进展。这一被称为半导体测试外围接口延伸（Semiconductor Test Interface eXtensions，以下简称STIX）的项目旨在解决ATE日趋增加的成本和效率瓶颈等问题。     

惠瑞捷荣登VLSI Research客户满意度榜首

首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司日前宣布,在广大客户的支持与肯定下,惠瑞捷在VLSI Research2009年客户满意度调查中,荣获自动化测试设备（ATE）供应商第一名。     

V6000：闪存及DRAM测试系统

惠瑞捷宣布推出V6000测试系统，可在同一套自动化测试设备（ATE）机台上，测试快闪和DRAM内存，测试成本低于现有的解决方案。V6000可调整适用于半导体内存的各个测试阶段，包括工程测试、晶圆检测（Wafer Sort）、以及终程测试（Final Test）等。     

Advantest：经典平台添加新模块,满足更高测试需求

成立于1954年的爱德万（Advantest）公司是一家领先的半导体自动化测试设备（ATE）制造商,提供在电子设备和系统的设计和生产过程中所需的测试测量设备。目前,公司的产品主要涵盖半导体和元件测试系统、机电一体化系统以及其他新业务（电子束光刻、SEM计量、云测试等）,专注于半导体测试、电子测试、太赫兹波测试、MEMS技术、纳米技术以及微机电技术领域。     

泰瑞达稳定的质量经济的方案——访泰瑞达副总裁Brad Nelson

记者：众所周知，泰瑞达公司是全球著名的自动测试设备（ATE）生产商，以其高效率量产，低成本测试为ATE领头军。据悉，在“SEMICON China2007”展览上，半导体测试系统家族的新秀J750Ex全新亮相，请您谈一下其创新之处？     

泰瑞达（Teradyne）公司的J750Ex在SEMICON CHINA 2007上首次亮相

泰瑞达公司，作为世界著名的自动测试设备（ATE）的生产商，以及高效率量产、低成本测试的ATE设备的领头军，将在3月21至23日于上海市召开的SEMICON CHINA 2007上首次介绍半导体测试系统家族的最新成员J750Ex-J750家族的新成员。J750Ex的特点在于：量产能力提高50％，200兆赫兹数字性能，并拥有专门用于数字、混合信号、存储器及转换器等器件测试的仪器资源。     

Multitest：以最佳良品率来帮助客户降低成本

Multitest是一家面向全球半导体厂商提供测试分选设备的制造商,同时也是全球唯一一家能够同时提供测试分选机、测试座和ATE印刷电路板的设备企业。     

爱德万2014年目标:实现销售额30亿美元

爱德万测试(Advantest)是一家日本测试公司,2011年7月开始并购专注于电子测量设备及半导体测试系统的自动化测试设备(ATE)供应商惠瑞捷(Verigy),并于今年4月1日正式完成并购,自此爱德万测试成为全球最大的半导体测试设备     

先进的测试平台简化多总线器件测试

多总线作为不使用片上高速缓存的情况下在最大化系统生产能力、成本效率较高的机制下已经有很长的应用时间.测试早期的器件,工程师可以使用某些能够提供双时域能力的自动化测试设备(ATE)应对相对简单的总线结构.     

基于FPGA的FLASH存储器三温功能测试系统设计

由于大容量FLASH存储器全地址功能测试时间较长,在自动化测试设备（ATE）上进行高低温测试时,长时间使用热流罩会导致测试设备运行异常。为把存储器测试过程中耗时最长的全地址功能测试部分从ATE机台上分离出来,设计一个基于FPGA的驱动板卡,结合MSCAN和Checkerboard算法实现了对被测芯片激励信号的施加;然后,设计一个12工位的驱动板卡,实现了在三温条件下的多芯片同步测试;接着,设计一个基于Qt的上位机软件,实现了对测试结果的实时显示与存储;最后,对2 GB大容量FLASH存储器进行测试验证。测试结果表明,与传统的ATE测试相比,基于驱动板和工位板的测试系统可实现对大容量FLASH的全地址功能的高低温测试,且工位板具有的高可扩展性可实现多芯片的同步测试,大幅提高了测试效率。     

数字ATE上内部示波器的实现

内部示波器是ATE测试设备上的一个调试工具模块,它的主要功能就是可以动态地显示ATE被测芯片某个输出管脚的实时波形,是ATE测试设备进入中高端市场必备的一个模块。对于测试工程师来说,在编写测试程序或者调试测试程序的时候,相对于外部示波器来说,内部示波器的优点是非常明显的。本文主要讨论了如何在数字ATE上实现内部示波器的功能,以及实现上的一些难点和波形优化的问题。     

ATE测试成本优化

多点测试是降低片上系统测试成本的有效手段,目前支持多点测试的ATE(自动测试设备)越来越多。多点测试通过并行测试多个芯片降低了测试成本,但是如何选择多点测试使得测试成本最低,需要综合考虑多方面因素,包括ATE成本、芯片的测试策略等。文中从ATE出发,建立芯片的测试成本模型,通过该模型获得了最佳测试方案。     

泰瑞达:为客户提供高质量、低成本的测试解决方案——访泰瑞达半导体测试大中华区总经理 曾浩耕

记者:半导体产业在2010年呈现了较好的增长势头,半导体设备也出现了强劲发展.据有关分析机构统计,全球的自动测试设备(ATE)市场2010年超过了140％,受益于叩R3内存测试制程的带动,2010年整体自动测试设备带来超过110％的收益增长.     

日月光预估覆晶封装市场明年将大幅成长

半导体测试联盟(STC)是一个自动测试设备(ATE)行业组织，它得到了Advantest和英特尔(Intel)等厂商的支持。STC希望减少ATE领域中过多的具有自主知识产权的解决方案，并使之标准化。STC具有两个工作组，将在近期首次向成员公司详细介绍其工作情况。     

OPENSTAR^TM ATE及第三方测试模块开发

开放架构ATE的概念最早于几年前在半导体工业界提出。[1-2]2002年STC（Semiconductor Test Consortium）组织成立，其目标是在业界建立一套关于开放架构ATE的标准，以应对SoC以及其他复杂芯片的低成本测试的挑战。STC于2004年发布针对开放架构ATE的标准——OPENSTAR^TM，提出了一个开放的模块化的测试平台。基于这个标准，第三方可以独立地开发ATE软硬件，并以“即插即用”的方式整合到这个测试平台上。[3]即ATE厂商、测试模块厂商以及测试系统整合商分工协作，完成整个测试流程。（图1）     

爱德万针对亚洲市场推出V93000 Dragon测试平台

爱德万测试（Advantest）于2011年购并惠瑞捷（Verigy）后,成为全球最大的半导体测试设备厂商。合并后的爱德万测试和惠瑞捷优势互补,在ATE、SOC以及Memory Test市场占有率居全球第一位,并在扩大客户群、提升服务以及拓展业务范围等方面取得了明显的优势。     

电流输出控制设备在ATE上的TPS开发设计

简要阐述了ATE测试平台的应用背景和在电子设备测试维修中的必要性,对ATE测试平台的功能、组成和工作原理做了概括描述。介绍了测试程序集（TPS）的组成及在ATE测试平台上的开发设计思路。并以电流输出控制设备为例进行TPS开发设计,在分析了电流输出控制设备测试需求的基础上,具体设计了电流输出控制设备在TPS开发中的测试接...     

单芯片系统新技术可望会带来经济增长

去年是随着亚洲自动测试设备(ATE)市场的突然彻底下滑去年是随着亚洲自动测试设备(ATE)市场的突然彻底下滑而结束的。毫无疑问,对主要的测试公司来说,去年最后两个月的市场灾难成了压倒一切的议题,以至无暇对1998年的市场进行展望。亚洲的经济和金融问题,以及对半导体生产厂家产生的影响,都迫使ATE供应商重新考虑他们以前对1998年所作的乐观估计。在12月末,半导体设备和材料国际联合会(SEMI)报告说,半导体设备的定货-发货(book-to-bill)的比率已跌落到低于1997年11月的同期水平。12月份,华尔街再次股票暴跌。所有的这种     

一种ATE测试向量时序优化算法

介绍了自动测试设备(ATE)测试信号合成的基本原理,讲述了ATE测试时序的结构和特点,分析了VCD(Value Change Dump)文件的语法结构和特点,提出了一种ATE测试时序优化算法,包括VCD时间沿的修剪和分辨率降低原则.经过时序优化算法处理的VCD文件,在进行测试向量转换时,生成的测试时序中,定时沿的数量得...     

基于ATE的SerDes功能测试技术研究

随着半导体行业的发展，特别是传输接口的发展，人们对传输速度的要求越来越高，串化器/解串器（SerDes）技术正在取代传统的并行传输成为新型的高速串口接口的主流。SerDes高速串行接口电路接口复杂，性能要求严格，为保证电路正常生产测试，对SerDes电路功能测试技术研究非常必要。基于ATE测试机台，重点针对SerDes类型电路的功能测试方法进行了研究。