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对Ni—Cr-Fe-V-Ga系合金进行了X射线衍射和热机械分析(TMA)。结果表明,在室温至940℃范围内,合金的晶格点阵参数逐渐增大,线胀系数为正;在940-1150℃范围内,合金的晶格点阵参数逐渐降低,线胀系数为负,进行了K效应转变。用热力学理论对实验结果进行了解释。 相似文献
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研究了热处理对Ni3Al基单晶合金IC6SX的微观组织和持久性能的影响。实验结果表明:IC6SX单晶合金的铸态组织具有典型的树枝晶结构,由γ′相、γ相和NiMo相组成。合金经过1280℃/10h,风冷固溶处理后,γ′相全部固溶,合金组织均匀,γ′相尺寸约为0.28μm。合金在1340℃固溶处理后发生了少量的初熔。对固溶后的合金进行了870℃/32h,空冷的时效处理,得到了尺寸约为0.5μm的立方状分布的γ′相。对不同状态的IC6SX单晶合金在1100℃/130MPa条件下进行持久性能测试,结果表明,经过时效处理后的合金具有最长的持久寿命,高达120h。 相似文献
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韩甫田 《高分子材料科学与工程》1995,11(4):14-21
全面论证了广角X射线(WAXD)系列方法:分峰MPS、径向分布函数(RDF)(R)、圆柱分布函数CDF(R,α)、取向分布函数ODF(α)、对称透射径向WAXS方位角扫描、对称反射径向WAXS扫描等分析法的基础理论、实验方法、计算程序及其可获得的结构参数,阐明了笔者建立WAXD测试分析高聚物聚集态结构专家系统的有关工作,这一研究架构的具体实现,将使得WAXD系列方法研究高聚物物理中的核心领域,即高 相似文献
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马礼敦 《理化检验(物理分册)》2009,(8):501-510
扼要介绍了单晶、多晶、表面及薄膜衍射等各种技术在三个层次(多晶聚集态结构、分子与晶体结构和晶体内微结构)的材料结构表征中的应用。还从衍射仪种类、主要组成部件和重要附件三个方面介绍了X射线衍射试验装置。 相似文献
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利用近池数法对Co-Cr合金薄膜的衍射线性形进行分析,并提出用“三线法”确定衍射线的函数类型及其积分宽度,由此可计算薄膜的晶粒尺寸和微观应变。理论计算和实验表明,“三线 法”结合近似函数在线形分析方面是简便,可靠的。通过分析Co-Cr膜在不同工艺条件下(膜厚、Ar工作气体压强和负偏压)的衍射线线形,发现衍射线的物理展宽(即有效晶粒尺寸的减小)是粒取向度的下降是相应的,晶粒取向度的下降与结构缺陷密度 相似文献
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本文研究了不同成份的Co-Al混合金属粉末经不同时间强力球磨后的x-射线衍射谱,并研究了退火对经50h球磨的Co_(70)Al_(30)粉的x-射线衍射谱的影响。结果表明,Co-Al混合粉经10h球磨后可形成CoAl化合物;Co含量在50~70(at)%的Co-Al混合粉经40~70h球磨可形成非晶结构. 相似文献
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化学镀Ni—P镀层的X射线衍射研究 总被引:2,自引:0,他引:2
根据X射线衍射分析结果,对化学镀高P(含P>11wt%或19at%)Ni-P镀层加热时效时,镀层成分和加热温度对结构转变的影响作了研究,结果表明,高P共晶、过共晶(含P>11wt%或19at%)合金的结构转变有如下特征:(1)相同加热时效条件下,Ni-P合金的结构转变与成分有密切关系:(2)对同一成分的过共晶合金,Ni-P合金的结构转变与时效温度密切相关;(3)过共晶合金在290~360℃温度范围内时效处理,出现Ni_xP_y介稳相,X射线衍射分析认为Ni_xP_y为Ni_(12)P_5。 相似文献
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利用近似函数法对Co-Cr合金薄膜的衍射线线形进行分析,并提出用“三线法”确定衍射线的函数类型及其积分宽度,由此可计算薄膜的晶粒尺寸和微观应变。理论计算和实验表明,“三线法”结合近似函数法在线形分析方面是简便、可靠的。通过分析Co-Cr膜在不同工艺条件下(膜厚、Ar工作气体压强和负偏压)的衍射线线形,发现衍射线的物理展宽(即有效晶粒尺寸的减小)与晶粒取向度的下降是相对应的。晶粒取向度的下降与结构缺陷密度的增大有关。负偏压溅射时由于Ar原子残留在膜内引起晶格膨胀,从而使微观应变有较大增加。 相似文献
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定向凝固Ni_3Al基合金IC6EI 总被引:6,自引:1,他引:5
介绍了定向凝固 Ni3Al基合金 IC6的性能特点及其在航空发动机涡轮导向叶片上的应用情况。三年的工程化试验和实际生产结果表明 ,IC6合金已具备了工程化应用的条件 ,应用前景广阔。 相似文献
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本文利用透射电镜对Ni_3Al基高温合金的初始状态、室温和870℃下瞬时拉伸和1100℃持久蠕变试样的微观组织及位错组态进行了观察。结果表明:合金在γ/γ′界面上存在大量网络化的错配位错,这些位错在变形时对基体γ′中的位错运动起强烈的阻碍作用;在1100℃持久蠕变过程中合金组织发生显著变化,γ相聚集回溶成高位错密度的胞状组织,对合金仍起强化作用。γ相是合金的强化相。 相似文献
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ZnO/GaN/Al2O3的X射线双晶衍射研究 总被引:2,自引:0,他引:2
以H2O作氧源,Zn(C2H5)2作Zn源,N2作载气,以GaN/Al2O3为衬底采用常压MOCVD技术生长了高质量的ZnO单晶膜。用X射线双晶衍射技术测得其对称衍射(0002)面ω扫描半峰宽(FWHM)为404arcsec,表明所生长的ZnO膜具有相当一致的C轴取向;其对称衍射(0004)面ω-20扫描半峰宽为358arcsec,表明所生长的ZnO单晶膜性能良好;同时,该ZnO薄膜的非对称衍射(1012↑-)面ω扫描半峰宽为420arcsec,表明所生长的ZnO膜的位错密度为10^8cm^-2,与具有器件质量的GaN材料相当。 相似文献
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利用LXRD应力分析仪对镍基高温合金定向结晶叶片进行了应力测定。测定应力过程中不需要事先精确知道d0,只需改变空间方位角χ和φ,测量同一晶面族的不同晶面的晶面间距,计算得出试样的残余应力,从而消除了传统应变测定方法中无应变状态下晶面间距不准确对结果所带来的影响,精简了应力测定步骤,可满足工程实际应用需要。 相似文献
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