基于NCV门的量子电路故障的检测与定位研究

为了确保基于NCV门库的量子电路的正确性和有效性,给出了量子电路故障定位树的生成算法和量子电路黑盒检测算法来定位量子电路中的门丢失故障。该故障定位树算法去除约98%的无用输出向量,提取输出表中有效的输入向量以及对应的故障输出向量,逐层生成故障定位树。结合量子电路黑盒检测算法对量子电路进行故障定位时不需要访问输出表就能够有效定位量子电路中的丢失门。对benchmarks部分电路进行实验,结果验证了该算法定位单故障门的有效性。     

子网络级模拟故障诊断的神经网络实现

利用容差模拟电路节点电压灵敏度序列守恒定理,得到了模拟电路元件的软、硬故障统一样本。然后利用统一样本集训练BP神经网络,并将神经网络用于子网络级模拟故障诊断。实例验证表明,软、硬故障统一样本集使得用于神经网络训练所需样本数目大大减少,但经过训练的神经网络可以诊断容差模拟电路的全部软、硬故障,而且诊断正确率较高。     

基于低功耗的BIST测试生成结构优化设计

针对内建自测试(Built-In Self-Test,BIST)技术的伪随机测试生成具有测试时间过长,测试功耗过高的缺点,严重影响测试效率等问题,提出一种低功耗测试生成方案,该方案是基于线性反馈移位寄存器(LFSR)设计的一种低功耗测试序列生成结构--LP-TPG(Low Power Test Pattern Generator),由于CMOS电路的测试功耗主要由电路节点的翻转引起,所以对LFSR结构进行改进,在相邻向量间插入向量,这样在保证原序列随机特性的情况下,减少被测电路输入端的跳变,以ISCAS'8585基准电路作为验证对象,组合电路并发故障仿真工具fsim,可得到平均功耗和峰值功耗的降低,从而达到降低功耗的效果.验证结果表明,该设计在保证故障覆盖率的同时,有效地降低了测试功耗,缩短了测试序列的长度,具有一定的实用性.     

基于二叉树的时序电路测试序列设计

为了实现时序电路状态验证和故障检测,需要事先设计一个输入测试序列。基于二叉树节点和树枝的特性,建立时序电路状态二叉树,按照电路二叉树节点(状态)与树枝(输入)的层次逻辑关系,可以直观和便捷地设计出时序电路测试序列。用测试序列激励待测电路,可以验证电路是否具有全部预定状态,是否能够实现预定状态转换。     

奇偶检测电路多重故障的快速诊断算法

本文提出了定位奇偶检测电路多重故障的简单而有效的算法。它基于“少数位”的概念,所得的故障定位测试集是最佳的。测试序列的长度等于原始输入端数加一。文章还阐述了自动产生最佳测试集和快速定位所有故障的具体实施方法。     

基于RAS结构优化测试时间和数据量的测试方案

大规模高密度的集成电路在测试中遇到了测试数据量大,测试时间长等问题。对此,本文提出了一种带有折叠集的完全测试方案。该方案利用RAS（Random access scan）结构控制经输入精简的扫描单元,先生成若干折叠集检测电路中大部分的故障,然后直接控制扫描单元生成剩余故障的测试向量。本方案生成的折叠集故障检测率高,所需控制数据少。实验数据表明与同类方法相比,本方案能有效减少测试数据量和测试时间。     

基于Lyapunov指数的非线性模拟电路故障诊断方法

本文介绍一种基于计算最大Lyapunov指数的非线性模拟电路故障诊断方法，它应用混沌方法对一个变周期的多谐振荡器的输出信号进行处理，利用数据替代法生成电路故障数据，借助于小数据量法计算相应的最大Lyapunov指数，将这种混沌特性分析应用于强非线性模拟电路的故障诊断，并对混沌时间序列相空间重构中的延迟时间间隔和嵌入维数的选取方法进行了讨论；结合实例对该方法进行了计算验证。     

基于可配置LFSR的低功耗确定性矢量生成技术的研究

针对组合电路内建自测试过程中的功耗和故障覆盖率等问题,提出了一种能获得较高故障覆盖率的低功耗测试矢量生成方案。该方案先借助A talanta测试矢量生成工具,针对不同的被测电路生成故障覆盖率较高的测试矢量,再利用插入单跳变测试矢量的方法以及可配置线性反馈移位寄存器生成确定性测试向量的原理,获得低功耗测试矢量。通过对组合电路集ISCAS’85的实验,证实了这种测试生成方案的有效性。     

基于故障仿真和粗糙集的复杂电路板测试性分析

针对关联模型在复杂电路板测试性分析中对不确定问题描述与分析的缺陷,提出了基于故障仿真和粗糙集的测试性分析方法.通过故障仿真生成条件属性集,利用粗糙集将其约简,最终形成分辨矩阵,从而评价电路的测试性水平.最后通过实例分析验证了方法的有效性.     

基于泛序测试法的逻辑门故障诊断树的自动生成

在逻辑门电路测试技术中,可以在泛序测试法基础上建立故障诊断树,用于完成单电路故障的检测与定位诊断。文章采用最小完全检测测试集和故障表Ｆ＾＊矩阵将故障诊断树为矩阵集合,进而利用关系数据库加以描述,并采用相应的算法自动生成。该研究旨在探索一种用数据库技术自动生成故障诊断树的方法,以达到测试参数自动获取这一目的。     

低功耗测试序列生成电路的建模及分析

为了解决深亚微米、SOC和低功耗电路中的测试问题,低功耗测试序列RSIC序列的生成方法得以研究和发展.文章提出关于RSIC序列生成电路的建模和分析理论.其研究特色是抽象出此类复杂电路固有特性的通用模型,建立一套简洁、准确的数学描述和分析方法,论证了此类电路的一系列特性,并通过片外测试的模拟结果来验证RSIC序列的低功耗.该研究结果为RSIC序列研究和应用提供了强有力的理论基础和分析方法.     

数字电路故障定位技术研究

针对当前常用电路故障定位技术的局限性,提出了一种基于电路功能的数字电路故障定位方法。通过适当的电路建模和测试程序集设计,逐步缩小故障电路范围,并最终实现故障准确定位。该建模方法具有建模简便、通用性强、易于计算机实现、具备自学习功能等优点,经实际工程验证是一种有效的数字电路故障定位方法。     

测试性技术分析与试验验证刍议

测试性质量特性是武器装备试验考核内容之一,攸关武器装备能否快速地检测故障并隔离故障。文中阐述了装备测试技术设计、测试性试验需求和靶场验证方法,着重研究了测试性定性检查、定量检查的基本准则和实施途径。并指出故障特征的分析提取和样本集的有效生成是测试验证的关键,旨在为提升武器装备测试性试验能力提供参考。     

一种测试SRAM失效的新型March算法

随着工艺偏差的日益增加,新的失效机制也在亚100 nm工艺的CMOS电路里出现了,特别是SRAM单元。SRAM单元的故障由晶体管阈值电压Vt差异引起,而Vt差异又是由工艺偏差造成的。对于这类SRAM失效机制,需要把它映射成逻辑故障模型,并为检测出这类故障研究出新的March测试序列。针对这些逻辑故障模型,提出了一种新型的March算法序列;并通过验证,得到了很高的测试覆盖率。     

数字程控交换机中存储控制模块的故障检测

图1所示的存储控制模块MCB在数字程控交换机等通信设备和自动控制设备中得到大量应用。本文提出一种用奇偶校电路对MCB进行故障检测的算法。所测的故障有连线上的固定故障、线组中的桥接故障、控制存储器CM中的存储单元固定故障、CM相邻耦合故障和CM多重存取故障。生成测试序列的复杂性为O(M×N)次写CM+O(M)次遍读CM,其中N和M分别为CM的字数和字长。     

基于分布估计算法的组合电路测试生成

基于遗传算法生成的测试矢量集的故障覆盖率要低于确定性方法．本文分析指出造成这种现象的一个可能原因在于，组合电路测试生成过程中存在高阶、长距离模式，从而导致遗传算法容易陷人局部极值或早熟收敛．为此，本文首次提出使用分布估计算法生成测试矢量．该方法使用联合概率分布捕捉电路主输人之间的关联性。从而避免了高阶、长距离模式对算法的影响，缓解了算法早熟收敛问题．针对ISCAS-85国际标准组合电路集的实验结果表明，该方法能够获得较高的故障覆盖率．     

组合电路桥接故障诊断的测试生成及优化

在利用划分等价类的方法来诊断组合电路中桥接故障的基础上,本文提出了一种基于门特性的IDDQ测试集生成算法及对测试集排序筛选的优化方法.实验结果表明,将此方法应用于组合电路桥接故障的诊断可缩减测试集的大小,提高诊断的故障覆盖率.     

雷达发射机浮动板调制器与故障检测电路的设计

提出了一种改进的浮动板调制器和对正负偏电压的故障检测电路,利用MOSFET寄生电容特性,通过固定脉宽窄脉冲控制调制脉宽,通过增加负偏MOSFET提高输出负偏电压。对故障检测电路进行仿真实验,通过模拟故障,验证故障检测报警信号发生时间均在微秒级别。完成样机的搭建,利用多重方式解决高压绝缘问题,并对其加电进行试验验证,分析实验波形,证明此电路满足设计要求并且具有可行性。     

基于变周期重播种LFSR的测试生成

基于重播种的LFSR结构的伪随机测试生成中包含的冗余测试序列较多,因而其测试序列长度仍较长,耗费测试时间长,测试效率不高。针对此状况,提出基于变周期重播种的LFSR结构的测试生成方法。该方法可以有效地跳过伪随机测试生成中的大量冗余测试序列。在保证电路测试故障覆盖率不变的条件下,缩短总测试序列的长度。分析结果表明,同定长重播种方法相比,该方法能以较少的硬件开销实现测试序列的精简,加快了测试的速度,提高了电路测试诊断的效率。     

模拟电路故障诊断系统的设计

介绍了板级模拟电路故障诊断系统,论述了系统的硬件组成和软件功能,该系统结合了测试技术、故障诊断理论,将专家经验融合到计算机软件系统中,能自动完成电路板的性能测试,并根据性能测试结果生成故障隔离引导树,引导操作人员对被测电路板进行故障的检测和维修.系统符合开放的、模块化、通用化的构建思想及在硬件资源的可互换方面的考虑,大大提高了系统的扩展能力和测试程序集(TPS)的重用性,节约了软件开发的成本,对于开发集数字电路与模拟电路为一体的通用故障诊断平台具有一定的借鉴作用.