集成电路测试系统的加流测压及加压测流设计

在集成电路的测试中,通常需要给所测试的集成电路提供稳定的电压或电流,以作测试信号,同时还要对信号进行测量,这就需要用到电压电流源;测试系统能作为测试设备的电压电流源,实现加压测流和加流测压功能。且具有箝位功能,防止负载电压或电流过大而损坏系统。应用结果表明,该检测系统运行稳定可靠,测量精度高。     

S400型测试系统

D400系列是为监控半导体器件及集成电路生产工艺而设计的程控参数测试系统。测试通过向被测器件提供程控的电流或电压,并测量相应的电压.电流或电容来实现。 S400使用680XX系列处理器控制基于VME总线的仪器和开关,S400的核心仪器是9110型电压电流源表(VIMS),可以实现电压源、电压表、电流源、电流表、或以上源表功能的任意组合。     

大功率模拟集成电路测试仪器的研究与实现

为了满足大功率集成电路的测试需求,文中给出了具有大功率负载驱动能力的电压电流源和高精度集成电路测试系统的设计方法。该测试系统采用四象限驱动和钳位技术、电流扩展技术、恒流源和恒压源设计技术,故能提供精确且宽范围的激励值,同时具有对大功率负载进行驱动的能力,并可以灵活地对被测器件施加电压或电流激励,以对被测器件进行测量。     

模拟IC自动测试系统的直流参数测试单元

模拟IC自动测试系统主要针对模拟IC的直流参数和交流参数进行测试,其中直流参数的测试是整个测试过程的重要部分。直流参数测试单元可以为芯片提供稳定的、精确的电压或电流,主要实现两种功能：一种是对待测芯片施加电压从而测量电流值,简称FVMI（加电压测电流）功能;另一种是对待测芯片施加电流从而测量电压值,简称FIMV（加电流测电压）功能。     

浮动Ⅵ源的应用研究

Ⅵ源是半导体集成电路性能测试机的核心资源，共性能直接影响着整个测试系统的性能。Ⅵ源通常包括浮动Ⅵ源和共地Ⅵ源。介绍了浮动Ⅵ源相比共地Ⅵ源的优势，例如：浮动Ⅵ源的可叠加性，满足了高电压大电流的要求；浮动Ⅵ源的功能和触发测量功能，极大地提升了阈值参数的测试效率和测试精度；浮动Ⅵ源使高精度差分电压测试更稳定和精确。同时也指出，浮动Ⅵ源并非完全没有缺点，应根据具体应用情况合理地选择Ⅵ源。     

测试系统中动态电流的检测原理和实现方法

本文介绍了在测试系统动态电流测试中将待测电流信号转化成电压信号,并对电压信号进行处理,实现测试系统中动态电流的自动检测,利用PSPICE软件对测试原理进行了验证,并给出了测试仿真波形图和原理说明。     

基于集成电路测试系统的大功率资源板设计

介绍了基于集成电路测试系统的大功率资源板设计,该设计具有输出功率大、限压限流保护、检验诊断、校准的特点,其主要包括闪存与大功率精密测量单元电路。它既可作为电压源、电流源,又可作为电压表、电流表,在作为源施加的同时完成电压或电流的测量。     

用计算机测试系统及辅助方法测试高压大电流功率驱动集成电路

本文介绍了5406、5407、TC4423、TC4424、TC4425等驱动集成电路的电性能参数,说明了对这类能输出高电压或大电流集成电路的测试原理,给出了以小型微型计算机测试系统为主,加以其它辅助方法进行这类电路包括高电压和大电流的全参数测试的方案.     

数字电源电表及其系统应用

电学测量需要有激励源和测试器,激励源对被测单元输入信号,测试器测量被测单元的输出信号,典型的成对互补测量仪器有任意波形发生器和数字示波器,扫频跟踪发生器和频谱分析仪等。多年来,数字电压表大量采用数字电路,前端的模拟输入变换使用A/D转换器,分辨率在12位以上。同样,数字电压/电流源亦采用D/A转换器,而且分辨率更高。数字电源电压表就是数字电源和数字多用表的结合,非常适合在精密测试系统中要求电压/电流源和数字电表有紧密结合的应用。典型产品是吉时利公司的2400系列电源电     

基于FPGA的惯组电源板检测系统设计

传统的电参数测试系统多使用两种芯片共同完成工作,电路复杂而且精度不高,本文设计了一个惯组电源板综合检测系统.测试内容包括:七路直流电压;交流信号的电压,频率与相位;正弦波信号的频率,电压与失真度;方波信号的高低电平电压,频率与占空比.本系统利用FPGA(EP3C10E144C8)配合NIOSⅡ软核以及必要的外部电路完成设计,利用AD芯片及相关外部电路完成电压的测试,利用FFT运算对待测信号完成失真度的测试,利用测周法对待测信号进行计数,通过计数值计算出待测参数,完成频率,相位,占空比的测试,通过实验和仿真,实验结果表明本系统测试的参数能够达到要求的1％精度.解决了传统方法精度不高,电路复杂的问题.