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模拟了Top-cut棱镜全息干涉生成的各种光学晶格结构,为棱镜法制作光子晶体提供参考。用全息干涉理论分析了top-cut六棱镜多光束干涉生成的光学晶格结构,考虑了光束数目、偏振方向以及位相的不同对晶格结构的影响。改变光束数目可以生成不同周期的正六角、斜六角光学晶格;改变光束偏振特性则影响光学晶格格点的形状;改变光束初位相可以生成蜂窝状结构等。另外还模拟了top-cut五棱镜所生成的十重旋转对称光学准晶结构。并且用平面波展开法计算了六角和蜂窝结构的有机光子晶体带隙图,证明了蜂窝结构更容易产生大的光子带隙。 相似文献
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光子晶体与光子晶体光纤 总被引:1,自引:0,他引:1
张瑞君 《光纤光缆传输技术》2004,(1):5-9
光子晶体是20世纪80年代末提出的新概念和新材料,经过十多年的发展,已取得很大进展。光子晶体由于其优越性而具有极好的应用前景,不仅可使光通信领域产生新的变革,同时将对光电子领域及其相关产业产生巨大的影响。介绍了光子晶体及根据其原理开发的光子晶体光纤。 相似文献
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嵌于光子晶体中原子自发辐射的虚实光子量子干涉 总被引:1,自引:0,他引:1
在非旋波近似下研究嵌入光子晶体中的三能级原子的自发辐射 ,其中光子晶体的能带带边所处位置相对原子两个上能级不对称。在某些特定参数下 ,虚光子与实光子发生强烈的量子干涉。原子的辐射场出现新的局域模 ,原子被部分束缚在激发态 相似文献
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以折射率引导的光子晶体光纤模间干涉效应为基础,针对光子晶体光纤中多模干涉效应进行了实验研究,完成了不填充与完全填充时的仿真分析与测试,实验得到了模间干涉图样的漂移情况对比。以完全填充及选择性填充匹配液为研究方式,探讨了其在温度传感领域的应用。 相似文献
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损耗是传统光纤和光子晶体光纤得以实用化的重要参量之一,降低损耗是光子晶体光纤制备的首要问题.折射率引导型光子晶体光纤的损耗由1999年的240 dB/km降至0.28 dB/km(1550 nm波长处),光子带隙型光子晶体光纤的损耗也降低到1.2 dB/km(1620 nm波长处).在对比传统石英光纤损耗来源基础上,阐述了光子晶体光纤的损耗机理,并说明了损耗降低的主要途径. 相似文献
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光子晶体光纤 总被引:16,自引:1,他引:16
关铁梁 《激光与光电子学进展》2002,39(10):41-48
全面介绍了光子晶体光纤的最新实验和理论进展,探讨了光子晶体光纤、尤其是高双折射光子晶体光纤的应用前景。 相似文献
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本文报导应用二次曝光的全息干涉测量原理来研究遗留在弹性材料上的变形恢复痕迹的一种方法。记录研究了PVC地板表面上人的鞋底痕迹。 相似文献
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介绍在双曝光全息干涉度量术中,用相对条纹级数法求解绝对位移的一般公式。分析了典型光路布置中测量误差的规律。 相似文献
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全息干涉法在表面封装组件质量检测中的应用 总被引:4,自引:0,他引:4
利用二次曝光全息干涉技术对表面封装组件(SMA)在功率循环中的离面变形场进行了测试.为解决从器件边缘到印制电路板(PCB)间干涉条纹级次的不连续问题,实验中采用了\"搭桥\"技术来处理表面封装器件(SMD)和PCB的变形失配;此外,全息干涉技术还被用于一个实际产品(硬盘驱动器)的无损在线检测.结果表明:模塑J引线封装体(PLCC)和PCB由于中心热源及材料的热膨胀系数差而导致离面弯曲变形;沿器件边缘,引线和焊点经历了非共面的离面变形;通过正常硬盘驱动电路板和失效板的干涉条纹数量的对比,能快速简捷地检测板的质量.全息干涉测量法在微电子技术可靠性分析领域有广泛的应用前景. 相似文献
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用单模氩离子激光器拍摄了离休兔子输卵管的双曝光全息相干图。实验结果给出了正常输卵管与非正常输卵管在相干条纹形状上的差异以及相干条纹与溶液、压力及压力传递方向的关系。通过建立数学模型,对输卵管的形变作了定性分析。 相似文献
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利用二次曝光全息干涉技术对表面封装组件(SMA)在功率循环中的离面变形场进行了测试.为解决从器件边缘到印制电路板(PCB)间干涉条纹级次的不连续问题,实验中采用了\"搭桥\"技术来处理表面封装器件(SMD)和PCB的变形失配;此外,全息干涉技术还被用于一个实际产品(硬盘驱动器)的无损在线检测.结果表明:模塑J引线封装体(PLCC)和PCB由于中心热源及材料的热膨胀系数差而导致离面弯曲变形;沿器件边缘,引线和焊点经历了非共面的离面变形;通过正常硬盘驱动电路板和失效板的干涉条纹数量的对比,能快速简捷地检测板的质量.全息干涉测量法在微电子技术可靠性分析领域有广泛的应用前景. 相似文献