CD—4微机化X射线荧光仪研制

针对国内便携式Ｘ射线荧光仪存在的功能不强，稳定性差，功耗偏大等问题，采用合理的微机化学方案和Ｘ射线荧光谱稳定技术，研制ＣＤ－４微机化Ｘ射线荧光仪，性能测试及应用表明，该仪器功能强，稳定性好，功耗低，具有国内同类仪器的先进水平。     

便携式X射线荧光仪稳谱技术

介绍的应用于便携式Ｘ射线荧光仪的稳谱技术是利用Ｘ射线与物质作用产生的散射峰作为参考源实现稳谱，其方法简便，不附加参考辐射源，稳谱效果好，采用该技术的ＣＤ－４微机化Ｘ射线荧光仪稳定性好，整机性能明显改善。     

便携式X荧光仪关键技术研究

针对现行便携式Ｘ荧光仪灵敏度低,检出限差,测定元素少,基体产应校正能力弱等问题,对激发源,探测与测量系统,微机化等关键技术进行研究。研制了微型低功率Ｘ光管激发源,低功耗１０２４道分析器,实现了以笔记本式微型计算机系统为核心的微机化,构成了高灵敏度便携式Ｘ荧光仪。     

放射性同位素X射线荧光技术在地质勘探中的应用

我们设计的携带式放射性同位素X射线荧光仪和X射线荧光测井仪具有以下特点:(1)仪器主要采用微功耗COS/MOS集成电路;(2)便于携带和野外使用;(3)仪器性能稳定。这种仪器已在我国铜、铁、铬、、钼、铀、锡等许多矿种上得到了应用。     

便携式现场X荧光仪的几个关键问题探讨

围绕构成现场X荧光仪的几个重要部分激发源、探测器以及微机化方案等进行探讨,采用管激发X射线作为激发源,Si-PIN作为特征X射线探测器,基于ARM嵌入式系统实现微机化.     

基于MCU的简易便携式γ辐射仪设计

介绍了基于删的γ测量仪的内部组成与实际电路原理.改进分离数字器件电路,选用PHILIPS公司单片机作仪器的微控制器,实现了对输入脉冲的定时计数、数据处理、显示、键盘接口、通信等功能.仪器具有功耗较低,集成度、微机化程度与工作稳定性较高等特点,因其制作简易、轻巧,使用方便,适合用于室内外工作.     

现场多元素X荧光测量技术勘查金矿研究

在两种多元素微机化携带式Ｘ荧光仪器研制成功的基础上研究建立了现场多元素测量勘查金矿技术。在“三江”与“金三角”地区,该技术取得了良好的找矿效果。     

基于MCU的简易测氡仪研制

介绍了基于MCU的测氡仪的内部组成与实际电路原理.选用PHILIPS公司P89C58单片机作仪器的微控制器,实现了对输入脉冲的定时计数、数据处理、显示、键盘接口、通信等功能.仪器具有功耗较低、集成度与微机化程度较高等特点,适合用于野外工作.     

基于MCU的简易测氡仪研制

介绍了基于MCU的测氡仪的内部组成与实际电路原理。选用PHILIPS公司P89C58单片机作仪器的微控制器,实现了对输入脉冲的定时计数、数据处理、显示、键盘接口、通信等功能。仪器具有功耗较低、集成度与微机化程度较高等特点,适于用于野外工作。     

能量色散X射线荧光分析现场测定地质样品中W钨含量

采用IED - 2000能量色散X射线荧光仪测量化探样品,并对获得的仪器谱进行散射本底扣除和直接解调谱线重建,获得W的Lα特征X射线全能峰净峰面积,从而实现W含量的测量.对同一批化探样品进行室内波长色散X射线荧光分析和野外X射线荧光分析,其分析结果对比表明对能量色散X射线荧光仪进行谱线处理后,可以在野外现场对W元素实现...     

便携式野外X荧光分析仪的PWM电源设计

便携式野外X荧光分析仪是一种能够在野外现场快速测定As,Cu等重要元素的新型核地质仪器，结合该仪器电源部分的研制，较全面地阐述了野外仪器PWM电源设计中的几个要素。     

全反射X荧光分析技术及其应用

介绍了自行研制的一种目前应用尚少的基于全反射原理的X荧光（TXRF）分析装置。该装置最低检测限，对于Cu靶，Mo靶达到pg级，其相对检测达到10^-12，使用该装置对某公司的高盐的镍电解液中的痕量元素采取阴离子交换树脂富集分离的方法，进行分析，给出了比较满意的结果。     

用X射线荧光探矿法在文裕金矿找金的研究

X射线荧光探矿技术是金矿资源勘查工作中的一种新的手段。选定砷、镍、铁作指示元素对文裕金矿岩样进行X射线荧光测定,测定结果表明:可以通过对金的最优指示元素受激后所产生的特征X射线荧光强度的测定来实现间接找金的目的;同时还可为地质填图、矿床成因与构造活动的研究提供资料。     

X射线荧光光谱仪的现状

综述了波长色散X射线荧光光谱仪和能量色散X射线荧光光谱仪的现状和发展趋势,及其X射线荧光光谱仪的拓展,介绍了部分具有代表性的X射线荧光光谱仪的主要性能.     

全反射X射线荧光分析

综述了全反射X射线荧光分析技术的基本原理，装置及特点，介绍了全射X射线荧光分析技术的应用及其前景。     

ScI3-NaI-ThI4中Sc和Th的测定方法

利用Ｘ射线荧光分析法和铬合滴定分析法实验测定ＳｃＩ３－ＮａＩ－ＴｈＩ４中的Ｓｃ和Ｔｈ。实验研究了Ｘ射线荧光分析法测定Ｓｖ的仪器工作条件及不同制样方法对Ｓｃ和Ｔｈ测定的影响;采用聚酯膜制样技术建立了Ｘ射线荧光分析测定Ｓｃ和Ｔｈ的方法,精密度优于４％;研究了络合滴定分析方法中酸度,温度对滴定终点的影响,比较了不同滴定方法的测量结果,建立了ＳｃＩ３－ＮａＩ－ＴｈＩ４产品中Ｓｃ和Ｔｈ的络合滴定测量方法,其     

能量色散X荧光法测定茶叶中的微量元素

本文介绍了用国产能量色散ｘ射线荧光仪同时测定茶叶中的Ｃａ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｕ和Ｚｎ的分析方法。该方法采用将茶叶样品高温灰化，以Ｙ为内标，用ｘ射线荧光分析仪测定微量元素的含量取得了很好的结果。     

GMX型同轴高纯锗探测器用于X射线荧光分析之性能评述

本文以GMX型为例评述了同轴高纯锗探测器在X射线荧光分析中之应用情况,计算了锗的Kα逃逸所致之逃逸峰的强度。给出了能量分辨和逃逸峰的实验数据,并同Si(Li)探测器比较,提出了锗探测器的应用场合以及选择激发源的注意点。     

Z箍缩X射线源辐射场理论分析

利用Z箍缩等离子体辐射源产生X射线可开展脉冲X射线辐照材料动力学响应及热力学效应研究,而试验面处的辐射功率密度是热力学效应研究中最关心的参数。本文针对Z箍缩产生的软X射线辐射功率密度场分布,以理论分析和数值模拟为手段,将Z箍缩软X射线辐射源分别等效为线光源和朗伯辐射光源,获得了2种等效情况下X射线辐射功率密度场的分布。分析表明,在线光源等效情况下,远场分布为球面分布,符合距离平方反比关系,而近场则近似圆柱面分布,符合距离反比关系;在朗伯辐射光源等效情况下,远场分布为球面余弦调制分布,而近场分布近似圆柱面分布。等效模型分析结果均表明：对于长度为2 cm的Z箍缩软X射线辐射体,当试验样品放置位置距离Z箍缩光源大于5 cm后,试验面处的辐射功率密度即可视为远场情况,符合距离平方反比关系。