2π入射的裂片径迹火花计数技术

1.实验方法 将厚度为6μm的聚酯膜紧贴于~(252)Cf源上照射,然后在30℃的6.25NNaOH中蚀刻,蒸馏水浸泡,40℃烘干,再置于火花计数器电极之间。先加1000伏电压“清扫”(称为清扫电压),以疏通和扩大膜上蚀成的孔洞状径迹,之后再于较低电压下进行火花计数。     

自锁火花计数器在农业测硼中的应用

适量的微量硼将对作物有增产作用。由于硼的热中子(n,α)反应截面很大,因此,利用核反应来测定土壤中和植株内的硼含量将是可行的。 用火花计数测量α径迹需要精确的蚀刻条件,因为被蚀刻膜的剩余厚度与火花计数有关,而蚀刻剂的浓度、温度都可以敏感地影响到被蚀刻膜的剩余厚度。对于聚碳酸酯膜,用NaOH     

用固体径迹火花自动计数器测量绝对裂变率

使用载有裂变碎片径迹的有机薄膜(下称信号膜),用火花计数方法测量绝对裂变率时,需要解决两个主要问题:一是在特定的蚀刻、清洁处理和计数条件下,较准确地知道火花计数裂变碎片的效率。本工作使用裂变室和信号膜相结合的方法,测出了在上述特定条件下,聚酯膜(厚为10μm)计数裂变碎片的效率ε为0.548±0.030。二是火花计数稳定性。单片信     

固体径迹火花自动计数器效率刻度

介绍了固体径迹火花自动计数器原理,探索了最佳蚀刻条件,刻度了固体径迹火花自动计数器效率,测量了信号膜厚度和蚀刻厚度变化的修正因子.两种修正因子的测量和效率的刻度使得固体径迹火花自动计数器能够用于绝对裂变率的测量.     

溶胀作用对裂片径迹直径法测体蚀刻速度的影响

对于聚碳酸酯,在某些条件下由α径迹直径法得到的体蚀刻速度V_B比厚度法大。本文对这一差异的原因进行了探讨,实验方法及结果如下: 所用探测器材料是Lexan、朝阳1号和Makrofol-E三种聚碳酸酯。这些膜两面蚀刻性质相同,故采用双面蚀刻法。用各蚀刻时间t时的~(252)Cf裂片径迹直径φ与膜的厚差2V_Bt作图。所用蚀刻剂是6.25N NaOH、6.25N KOH、6.25N NaOH+0.05％烷基苯磺酸钠以及     

用固体径迹探测器测定无限厚裂变源的自吸收因子

在固体径迹探测器的应用中,裂变源总有一定厚度。裂变源厚度对固体径迹探测器探测效率的影响是一个重要参数。如果定义探测器效率为:蚀刻后在探测器上观察到的径迹数目与入射到探测器上的碎片数目之比,那么探测器的效率应是一个常数。裂变碎片能否入射到探测器上,与裂变源的厚度有关,因为在裂变源中,各向同性发射的裂变碎片,必然有一部分完全停止在裂变物质中。由于这种自吸收的存在,所以在用2π探测器探测到     

聚碳酸酯径迹探测器中的径迹响应和记录时温度的关系

我们准备用国产聚碳酸酯径迹探测器(朝阳塑料厂生产)探测自然界磁铁矿中的磁单极子。这一实验需要在液氮环境温度下进行。为此,我们研究了探测器温度对它记录裂片径迹的影响。径迹响应是以径迹蚀刻速度V_t和总体蚀刻速度V_g之比V_t/V_g表示。     

固体径迹法测量水泥反射体中~(252)Cf中子源反射中子

叙述了水泥反射体中~(252)Cf中子源反射中子测量实验原理。测量了无反射体、有反射体、本底三种状态下中子引发~(235)U产生的裂变率。并根据裂变率得到实验模型下水泥反射体对中子的反射系数。比较了不同中子源相同实验模型水泥反射体对中子的反射系数,对反射系数随角度变化趋势进行了分析。同时,对固体径迹探测技术进行了研究,探索了最佳蚀刻条件,得到火花放电计数随信号膜质量厚度及蚀刻厚度变化趋势。标定了固体径迹火花自动计数器效率,发展了固体径迹探测技术。     

测氡火花计数器的研制

介绍了固体径迹火花计数器的研制,结合已有火花计数器的特点对火花计数器结构进行了优化,并设计实验对火花计数器的部分性能进行了研究分析,通过实验得出了影响火花计数器性能因素,找到了该火花计数器能够较准确计数的最佳工作条件。使得本火花计数器能够较准确地读出聚酯膜固体径迹探测器上的径迹信息,更好地应用于氡的测量。     

外测探器中裂变径迹的各种分布

潜伏径迹是进入固体径迹探测器的重带电粒子在其中产生的辐射损伤痕迹;可蚀刻径迹是入射倾角大于临界角θ_C的那部分潜伏径迹;蚀刻后径迹是经过蚀刻剂蚀刻一定时间后在固体经迹探测器中形成的蚀刻坑;可观测径迹是蚀刻后径迹中水平投影大于某最小可观测长度l_(min)的部分。我们用计算模型——分层径迹球法计算外探测器中裂变径迹的各种分布,结果     

国产CR-39塑料膜测量α粒子的研究

选用国产CR-39测量α粒子的实验研究结果表明:该材料经α标准源照射后,加以化学预蚀刻、电化学蚀刻,可得到清晰的树状径迹。在入射条件一致情况下,α粒子注量与产生的径迹密度呈线性关系。相对探测效率为20％。平均本底径迹为0.2个/mm~2。     

PET核孔膜蚀刻速率影响因素的研究

核孔膜是通过重离子照射薄膜后进行化学蚀刻所得到的高性能过滤材料,蚀刻速率是影响高质量核孔膜制备的重要因素。本文探讨了不同蚀刻液浓度、温度以及重离子辐照能量对蚀刻速率的影响。利用140 MeV的32S离子在室温和真空条件下对4层堆叠的PET(polyethylene terephthalate)薄膜进行了辐照。在对辐照样品进行化学蚀刻期间采用电导法确定了径迹蚀刻速率Vt。结果表明:蚀刻速率与蚀刻温度呈指数相关,随蚀刻液浓度增加而线性增大;径迹蚀刻速率随能量损失率(离子能损)增大。研究确定,在入射32S能量为1.6 MeV·u-1时,NaOH浓度为1mol·L-1、蚀刻温度为85°C时最有利于形成圆柱形微孔。     

在立体角小于2π条件下云母探测裂变碎片的效率

许多作者已对云母探测裂变碎片的效率进行了测定。但都是对2π立体角进行的,这在某些场合并不适用。本文对白云母在小于2π立体角大气中探测裂变碎片的效率进行了测量和计算。 本工作的特点是利用若干等质量裂变靶(饱和厚度的ThO_2靶)在均匀中子场内照射相同时间,用相同的白云母作裂变碎片探测器,记录白云母与靶之间距离D取不同数值条件下的径迹密度。白云母上径迹密度随D的变化就直接表示云母探测效率的变化。     

电导法研究紫外光预辐照对核孔膜径迹蚀刻的影响

利用紫外光辐照聚碳酸酯（PC）离子径迹膜,研究光辐照对于核孔膜蚀刻过程的影响。实验结果显示,紫外光照射对核孔膜的蚀刻有着重要的作用,它可以有效地增加径迹的蚀刻速率,并且径迹蚀刻速率随紫外光照时间的增加呈线性增长关系,此现象是由于光降解作用引起的。本文还介绍了用于监测核孔膜蚀刻过程的电导测量方法,利用此方法可以得出核孔膜径迹蚀刻速率、孔径随蚀刻时间变化等关系。     

径迹纳米孔高分子膜的制备和表征

载能重离子辐照高分子膜形成的离子潜径迹,经后续处理可制备出离子径迹纳米孔高分子膜。本文介绍了传统的离子径迹蚀刻法与最近发展的离子径迹紫外辐照方法制备径迹纳米孔高分子膜的过程及其纳米孔膜孔径的表征。离子径迹紫外辐照方法舍弃了传统离子径迹蚀刻法的化学蚀刻过程,所制备的径迹纳米孔高分子膜的孔密度高,孔道尺寸为纳米甚至亚纳米尺度,在海水淡化、离子分离等领域具有广阔的应用前景。     

固体核径迹火花自动计数器效率标定

对固体径迹火花自动计数器探测效率的影响因素进行了分析,重新确定了最佳径迹蚀刻条件以及放电参数。利用小型平板裂变电离室在多种模型下对固体径迹火花自动计数器探测效率进行了重新标定,得到了不同实验条件下固体径迹火花自动计数器效率。     

硝酸纤维素薄膜的制备

硝酸纤维素薄膜是灵敏度较高的固体径迹探测器材料。采用简便的、精确的火花计数技术,能对较大面积的硝酸纤维素径迹探测器上的低、中径迹密度的α粒子进行迅速、正确的计数。本文重点对我们研究和使用的一种适合于火花计数的硝酸纤维素薄膜的制备作了介绍,此外,还介绍了薄膜的探测性能。 为了能制备一批数量较多的、性能均匀的薄膜,我们采用浸涂法在自制的半机械化连续涂膜装置上制膜(装置见图1)。     

聚酯膜在NaOH溶液中的蚀刻速率

木文研究了蚀刻剂对聚酯(PET)基膜的蚀刻速率及径迹蚀刻速率,以制备精确孔径的核孔膜。测定了PET基膜在不同浓度、温度的NaOH溶液中的蚀刻速率,经回归得到它们之间的经验关联式,提出了几种增大PET膜径迹蚀刻速率的有效方法。     

固体核径迹的平均直径与密度随蚀刻温度和蚀刻剂浓度的变化

实验观察了固体核径迹的平均直径和径迹密度随蚀刻剂浓度、蚀刻温度的变化关系。实验采用聚碳酸酯膜(Makrofol)为探测器,化学预蚀刻与电化学蚀刻相结合,蚀刻剂浓度分别为5、6和6.85mol/L 的 KOH 溶液,蚀刻温度分别为30、40、50和60℃,实验结果表明,在本实验条件下,核径迹的平均直径和径迹密度均随蚀刻温度和蚀刻剂浓度的升高而明显增大。     

CR-39塑料径迹探测器在不同蚀刻条件下的蚀刻性能测试

用~(252)Cf裂片径迹直径法测定V_g,由α粒子径迹蚀刻曲线的斜率测定V_α,d=V_α/V_g为相对灵敏度。当α粒子的灵敏度低于6MeV时,由α粒子径迹出现时的剥蚀厚度H_o来比较灵敏度。 把两小叠CR-39探测器(图1)用气球携带接受高空原初宇宙线照射。若高能宇宙线粒子在叠内不发生核作用,则应穿过全叠,而且在各片上的游离不变,可用来比较不同蚀刻条件