低温BaTiO_3PTCR材料的研究

本文介绍了ＢａＴｉＯ＿３半导瓷ＰＴＣＲ材料的性能，给出了低温ＰＴＣＲ材料的配方、工艺要点及主要特性参数，提出了改进性能的途径。     

长波光导HgCdTe探测器的输运特性

测量了长波光导ＨｇＣｄＴｅ线列探测器在１．２～３００Ｋ的电阻率－温度（Ｒ－Ｔ）特性，结果表明：高性能和低性能探测元的Ｒ－Ｔ特性明显不同，前者有与正常ＨｇＣｄＴｅ材料Ｒ－Ｔ关系相似的变化规律，后者则与简并ＨｇＣｄＴｅ材料相似．探测器的性能与最大电阻温度有对应关系     

高纯超细BaTiO_3基PTCR陶瓷

水热法合成的ＢａＴｉＯ３粉体具有超细、高纯等特点，从而能够使ＰＴＣＲ热敏电阻器的制备工艺相对简化，并有利于获得较好性能的ＰＴＣＲ电阻器。本文采用水热法合成的ＢａＴｉＯ３粉体制备ＰＴＣＲ陶瓷。研究了不同添加剂对材料性能及微观结构的影响。     

用双温点立式炉烧成高性能PTCR陶瓷的工艺

以程控交换机过电流保护用高性能陶瓷ＰＴＣＲ元件作烧成对象，研究了应用自动连续式高温电阻炉对高性能陶瓷ＰＴＣＲ元件实施规模生产的工艺。调整双温点自动高温电阻立式炉的温度和下降传动速度可方便地得到合理的烧成曲线，改善ＰＴＣＲ材料的性能参数，并保证高的成品率和性能一致性。     

降温速度及气氛对PTC元件特性之影响

通过工艺试验，研究了ＢａＴｉＯ３陶瓷ＰＴＣ材料在烧成过程中的冷却速度及烧成气氛对其ＰＴＣ特性之影响。试验结果表明：采用适当的缓冷速度及氧气氛烧成可大大提高材料的ＰＴＣ特性，αＴ、Ｒ（２００）／Ｒ（ｍｉｎ）明显增大，室温电阻达４５Ω左右。所制元件与日本样品性能相近，完全能满足开关型元件的要求。     

高温BaTiO_3PTCR材料的研究

本文提出了一种新型的高温ＢａＴｉＯ３ＰＴＣＲ材料的制备方法。研究了它的导电机理，给出了材料的组分，工艺条件及主要参数，提出了改进性能的途径。     

OSCAGO—CFAR检测器在干扰边缘中的性能分析

本文研究ＯＳＣＡＧＯ－ＣＦＡＲ检测器在干扰边缘中的性能，文中推导出了它在干扰边缘环境中虚警概率的解析表达式，分析了它抗边缘干扰的性能，并且与ＧＯ、ＯＳ和ＣＡ－ＣＦＡＲ检测器进行了比较。结果表明，ＯＳＣＡＧＯ的抗边缘干扰性能比这三种ＣＦＡＲ检测器均有明显增强，同时，它在均匀背景和多目标环境中也保持了良好的检测性能。     

ORACLE RDBMS进程结构的研究

本文介绍了ＯＲＡＣＬＥ进程种类和功能，分析了ＯＲＡＣＬＥ的单任务结构和双任务结构，以及相关的影子进程和程序接口的功能，使ＯＲＡＣＬＥ的高级用户更好地了解ＯＲＡＣＬＥ的实现机理，提高ＯＲＡＣＬＥ的性能。     

OSCAGO－CFAR检测器在干扰边缘中的性能分析

本文研究ＯＳＣＡＧＯ－ＣＦＡＲ检测器［１，２］在干扰边缘中的性能。文中推导出了它在干扰边缘环境中虚警概率的解析表达式，分析了它抗边缘干扰的性能，并且与ＧＯ、ＯＳ和ＣＡ－ＣＦＡＲ检测器进行了比较。结果表明，ＯＳＣＡＧＯ的抗边缘干扰性能比这三种ＣＦＡＲ检测器均有明显增强。同时，它在均匀背景和多目标环境中也保持了良好的检测性能。     

ATM接口中信元定界方法分析

介绍了一种ＡＴＭ信头移动窗口ＣＲＣ搜索法，它只需一个ＣＲＣ搜索器，对其信元定界性能的分析表明该方法是可行的。．     

CMOS SRAM存储单元研究

阐述了采用１．０μｍ ＣＭＯＳ技术制作的２５６ｋ ＳＲＡＭ的存储单元。论述了存储单元的性能在ＣＭＯＳ ＳＲＡＭ中的重要性，分析了存储单元的工作原理，结构和主要参数性能。文章对几种类别的ＣＯＭＳ ＳＲＡＭ存储单元进行了分析比较，推测了技术发展趋势。     

CRC—4在2Mbit／s误码监测中的应用

本文讨论了２Ｍｂｉｔ／ｓ的ＣＲＣ－４帧结构，详细分析了ＣＲＣ－４的误码检测性能。论证了误码秒ＥＳ及严重误码秒ＳＥＳ与错误ＣＲＣ块之间的关系，并对ＥＳ及ＳＥＳ的ＥＣＢ门限提出了看法。     

高灵敏度雷达截面测试系统

本文介绍以ＨＰ８５３０Ａ微波接收机为核心组成高灵敏度ＲＣＳ测试系统的配置、性能，ＲＣＳ测试误差修正技术，ＲＣＳ频域测量软件，测量举例。     

多雷达联网对低散射截面积(RCS)目标检测能力研究

由于采用特别的外形设计和一定的涂复材料，使有些目标的雷达散射截面积（ＲＣＳ）很小。雷达能发现一般的目标，而很难发现低ＲＣＳ的目标，但是这些目标不是所有方向都有低ＲＣＳ特性。这就给多雷达联网提供检测这目标的可能性。本文首先是研究多站联网比单站目标检测性能改善，即检测目标距离的改善（或折合信噪比），但是这种改善是和目标的位置，运动方法和姿态有关。     

CRC－4在2Mbit／s误码监测中的应用

本文讨论了２Ｍｂｉｔ／ｓ的ＣＲＣ－４帧结构，详细分析了ＣＲＣ－４的误码检测性能．论证了误码秒ＥＳ及严重误码秒ＳＥＳ与错误ＣＲＣ块之间的关系，并对ＥＳ及ＳＥＳ的ＥＣＢ门限提出了看法。     

气态源分子束外延（AlGa）InP和GaInP／AlInP多量子阱材料

我们用国产第一台化学束外延（ＣＢＥ）系统，采用气态源分子束外延（ＧＳＭＢＥ）技术研制了与ＧａＡｓ匹配的，性能良好的（ＡｌＧａ）ＩｎＰ材料和ＧａｌｎＰ／ＡｌＩｎＰ多量子阱材料．对这些材料进行了霍耳，光致发光（ＰＬ），阴极荧光（ＣＬ）以及Ｘ射线双晶衍射（ＸＲＤ）等测量分析．     

高灵敏度雷达截面测试系统

本文介绍以ＨＰ８５３０Ａ微波接收机为核心组成高灵敏度ＲＣＳ测试系统的配置。性能、ＲＣＳ测试误差修正技术，ＲＣＳ频域测量软件，测量举例。     

CD—ROM驱动器浅谈

本文主要介绍ＣＤ－ＲＯＭ驱动器的技术性能，特点，类型及其发展前景，并对几种典型的ＣＤ－ＲＯＭ驱动器进行了比较。     

低RCS雷达天线技术的研究和应用

设计和使用具有低ＲＣＳ性能的雷达天线是一项涉及到多项研究领域的课题，一直为国内外所关注。随着对天线散射机理的深入分析，一些创意较新的天线ＲＣＳ减缩技术被提出，如本文介绍的以抑制天线模式项散射为主的选频副反射面和馈源滤波罩等技术，这些技术不但具有较好的低ＲＣＳ性能而且具有较好的适用性，频率选择表面（ＦＳＳ）技术已被广泛地用于卫星多频段通讯，而在低ＲＣＳ雷达天线技术方面同样也具有极其重要的应用价值，ＦＳＳ方面的研究成果有效地改善了使用ＦＳＳ的低ＲＣＳ天线的性能，而低ＲＣＳ天线技术发展的需要又反过来对ＦＳＳ提出了更高的要求，本文对国内外在ＦＳＳ研究方面的成果和发展趋势也作了分析和介绍。     

毫米波段RCS测试技术研究

本文介绍了一套先进，高精度的毫米波段ＲＣＳ测试系统，对８ｍｍ波段无源干扰材料箔条、箔片ＲＣＳ测试方法进行了研究；给出一些测试曲线。