复合波片的等效性理论分析

提出三元复合波片具有等效光轴,二元波片无等效光轴,但存在一个特殊角度可理解为等效光轴。     

校准λ／4波片和λ／2波片的简单方法

本文叙述一种校准λ／４和λ／２波片的简单方法，对λ／４波片的校准误差小于０．１°，对λ／２波片的校准误差小于０．５°。     

三元复合式消色差λ／4波片

本文用同一波长（670nm)的2个λ／4波片和1个λ／2波片组合成复合λ／4波片,从理论及实验证明复合的λ／4波片在400nm-900nm的光谱范围内是消色差的。该三元复合式消色差λ／4波片与我所研制的二元复合式消色差λ／4波片相比,消色差的光谱范围变宽,偏差变小,可控制在2％以内。     

复合1／4波片工作特性分析

基于偏振光矢量的琼斯矩阵理论,本文分析了复合波片的工作特性,结果表明：复合1／4波片系统并不存在所谓的等效快轴,但对偏振态的变换作用可等效于旋光器和单1／4波片的组合。     

沟槽光谱法标定λ／4波片

利用波片的多次反射理论，发光计观察沟槽光谱来精确地测量λ／４波片对应的波长λ０，在可见光光谱内，其精度优于１ｎｍ。     

复合补偿法测量波片的相位延迟

利用波片的复合理论，采用任意波片作补偿，最小光强跟踪调节的方法来测量待测试片的相位延迟量，精度优于０．５°。     

波片位相延迟测量的双λ/4波片法

在对波片延迟量的测量中常因光源起伏影响测量精度,出现较大的测量误差,为了避开光源强度起伏的影响,提高系统的测量精度,减小测量误差,用两个标准λ/4波片与待测波片组合,使其满足一定条件等效为旋光器,搭建了一套测量系统,用角度测量替代对光强的直接测量.实验结果表明,该系统可有效避免光源强度起伏对测量结果的影响,测量精度可达0.5°.与传统测量方法相比,该测量系统具有构造简单,不受光源起伏影响,以及测量精度高等特点,是一种便捷有效的测量方法.     

消色差λ／4波片

让某一波长的λ／４波片和λ／２波片的两快轴的夹角成６０°，组成复合λ／４波片，则该复合片在该波长附近是消色差的。     

准λ／4波片的精确标定

本文介绍了一种精确标定准λ/4波片的方法。利用波片推迟量与准λ/4波片光轴方位角及检偏镜透偏方位角的灵敏函数关系,精确地测量出波片的推迟量,进而对准λ/4波片精确标定。     

1/2波片快慢轴方位等效性的研究

为了证明1/2波片的快、慢轴是等效的,本文利用矩阵光学的方法,从理论上进行了分析,结果表明:1/2波片在作为旋光器和延迟器使用时,其快、慢轴方位是等效的。建立了测试光路,对理论分析进行了验证,实验结果和理论分析相符合。     

CdS红外λ／4波片

根据CO_2相干激光雷达系统的要求,用CdS单晶制作了10.6μm的四分之一波片,并建立了精密测试系统,对所研制的波片进行了性能测试。     

红外复合宽带波片的研制

波片延迟片是光学系统中常用的一种重要光学器件。通常所指的λ/2和λ/4波片是对某特定波长而言的 ,当光波波长偏离该特定波长时 ,其位相延迟量也将随之发生变化。在光谱整形、激光调谐和光通讯等领域中经常使用宽带波片 ,它在一定带宽内的延迟量是相同的。国内大多数的厂商一般只能生产单波段波片 (带宽仅± 4 0nm) ,本文用计算机仿真设计了红外宽带高精度复合波片 ,采用石英晶体材料加工出来的复合波片性能与设计指标符合得较好。波片适用范围为 12 0 0～ 16 5 0nm ,中心波长为 1390nm ,λ/2 波片的位相延迟量范围为 180 .0°± 3.6°,λ/4波片的位相延迟量范围为 90 .0°± 3.6°,即相位延迟误差λ/10 0。     

复合消色差1/4波片的再研究

由出射光与入射光的琼斯矢量变化,用矩阵方法得到了一种计算复合1/4波片的消色差能力的理论公式。并用实例说明了其可行性和使用方法。     

校准λ／4波片和λ／2波片的简单方法

本文叙述出一种校准λ／4和λ／2波片的简便方法，对λ／4波片的校准误差小于0．1度，对λ／2波片的校准误差小于0．5度，方法简单，精度高。     

双激光波长1/4、1/2波片设计

为了使单晶片双折射晶体波片适用于两个激光 波长,根据双折射晶体相位延迟器的 原理,得到了波片厚度与两个激光波长所需延迟量的关系式,给出了具体的设计方法。针对 650nm与780nm两个激光波长制作了样品,进 行了实验测试,结果表明:无论是双1/4波 片还是650nm 1/4nm 1/2波片,延迟量的偏差均小于3°,与理论值相符。若不计较 波片 的厚度,仅就设计而言,完全可以得到高精度的双激光波长1/4、1/2 波片。由此可见,根据本 文得到出的设计原理与设计方法,完全可以用常规双折射晶体波片的制作方法得到适用于 两个激光波长所需延迟量的波片。     

傅里叶/4波片双折射检测方法

为了对液晶光学相控阵的相位调制量进行高分辨率、高精度的自动化测量,采用了傅里叶/4波片法,在常规/4波片法的基础上,结合离散傅里叶变换算法完成数据处理过程,获得更高的测试精度,并且对测试环境的振动、噪声具备更好的抑制能力。实验中,利用微机控制步进电机、CCD等辅助设备,结合傅里叶/4波片法形成自动检测设备。结果表明,将标准/4波片作为测试样品,测试重复精度小于0.3;将自行研制的液晶光学相控阵作为待测样品,获得了其近场的相位分布,可看到样品的相位周期性与电极间相位凹陷等情况。     

光斜入射时波片延迟量的变化

本文定量讨论了当入射光与波片法线方向有一微小夹角时其延迟量的变化,并为实验所证实。     

消色差λ/4波片

让某一波长的λ/4波片和λ/2波片的两快轴的夹角成60°,组成复合λ/4波片,则该复合片在该波长附近是消色差的.     

半阴法测量λ／4波片的相位延迟

本文介绍了测量λ／４波片的半阴方法，并利用透过波片的透射光强度导出待测波片相位延迟到计算公式，分析了起偏器最佳位置的确定方法。     

对影响1/4波片使用精度因素的理论研究

为了探究1/4波片在使用过程中产生误差的原因,以石英1/4波片的实验结果为基础,分别从材料的双折射特性、实验调节误差以及温度变化的影响等三个方面,对波片产生误差的原因进行了理论分析,提出了提高1/4波片使用精度的方法.从分析结果可以看出;温度变化的影响是产生误差的最主要的因素,但双折射特性和实验操作误差的影响也不可忽略.