微焦点X射线摆式分层成像中的不完全投影研究

在现有微焦点X光辐射成像系统的基础上,提出一种新的摆动式分层成像方法,对狭长形状薄层结构样品进行无损检测,建立计算机仿真模型,验证了使用不完全投影的合理性和高效率,讨论了不完全投影中投影区域的选择原则.实际成像结果表明分布在最佳投影区域的120°投影可成功地分离出印制电路板不同层次的图像.     

针对薄层结构物质的微焦点摆动式分层成像方法研究

对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像的研究，是无损检测技术的一个重要应用领域，提出了一种新的成像方法，在现有微焦点X辐射成像系统的基础上，采用一种特殊的摆动式扫描方式，基于非线性的重建成像算法，具有扫描速度快，算法简单，实时性高等特点，适合于多层大面积复合材料以及多层电路板的快速成像检测。     

X射线数字分层成像的非线性方法研究

对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像的研究，是无损检测技术的一个重要应用领域，通过实验可观察到，在接近焦平面时图像的灰度值有一定的非线性，提出了一种新的成像方法，可以提高灵敏度，非线性的层面合成可以仅仅从很少的投影中重建物体，使测量进间大大减少。     

有限角度摆动式分层成像方法及其在薄层结构物质检测中的应用研究

在多层结构复合材料获得广泛应用的今天，对其分层结构，密度分布等情况的检测和了解显得尤为重要。在用射线对这类材料进行分层成像检测时，一直存在重建图像质量与重建效率（耗时）的矛盾。本文提出了有限角度摆动式分层的成像方法，并通过计算机仿真计算证明了其合理性和高效率，在此基础上提出了最佳投影角度的选择原则，最后给出了应用实例。     

X射线分层成像的深度谱立体匹配技术

Ｘ线射线透视成像中物体互相重叠,有时边缘模糊不清。利用深度谱分析物体层次。提高了立体匹配的置信度,提高了Ｘ线射线立体透视的分层成像的质量,给出了实测深度谱和分层成像结果。     

微焦点X射线成像系统扫描参数测量及投影图像校正研究

微焦点X射线成像系统由于被重新安装以及初始化,导致系统参数读数与实际值之间存在偏量。给出了测量这些偏量值的基本原理和方法,并通过实验求出偏量值。由于图像增强器与图像获取装置本身固有特点以及非线性获取成像,投影图像存在几何畸变。讨论了图像几何畸变校正的基本原理,并给出具体步骤以及校正后的图像.     

药柱内孔的微焦点X射线偏心检测

针对一类特定的微小型药柱,研究了基于正弦图和经验信息,通过微焦点X射线获取三个角度下的X射线投影数据,求解出圆心坐标的方法;从而判断药柱内孔的分布是否偏心,若偏心,则给出偏移量。实验表明,与CT重建结果相比,该方法能够准确地得到圆心坐标,能够满足工业中要求的精度;与经验信息对比,可以判断是否偏心,以及偏移量,为下一步工作转台调整提供参数。     

X—射线分层成像中灰度重建的研究

利用边缘提取和立体匹配技术可以对X-射线立体透视图像进行分层成像,但分层后得到的物体图像仅仅是边缘图像,研究了一种利用原始的灰度图像对分层后的边缘图像进行灰度重建的方法,使得每一层的图像的接近实际的灰度图像。     

X射线分层成像中灰度重建的研究

利用边缘提取和立体匹配技术可对Ｘ－射线立体透视图像进行分层成像, 但分层后得到的物体图像仅仅是边缘图像。研究了一种利用原始的灰度图像对分层后的边缘图像进行灰度重建的方法。使得每一层的图像有接近实际的灰度图像。     

X射线成像光斑检测装置研制

设计了一种低成本,快速响应的X射线光斑检测装置,可用于解决系统结构偏差所引起的透视探测器接收位置处的光斑偏离。该装置通过检测关键点处的X光斑强度及分布情况以判断实际X光斑位置与理论设计的偏差,以此为依据进行多次调整可使系统光斑调节到一合理位置。     

微焦点X辐射图像分离非线性成像方法研究

实验验证了有机玻璃－铝系统的特性,在微焦点X光机上通过分析不同能量X光束对物体的多次成像,从而分离出物体不同成分的分布图像,以突出显示其中的某种材料。对管电压、管电流、有机玻璃－铝系统的材料尺寸以及误差进行了探讨,对快速图像分离方法提出了改进,给出了数学模型,并展了这种方法的应用前景。     

PIN光敏二极管X射线探测器的性能与应用研究

介绍了PIN型光敏二极管和电荷灵敏前放组成的X射线探测器的性能和测量结果，并与CdZnTe探测器的能谱测量结果进行了比较，还研究了温度对光敏二极管能量分辨率的影响，25℃时，光敏二极管探测器对241Am的59．5keV峰的能量分辨率为7．6％，冷却到0℃后达到4．7％。     

A beam stop based correction procedure for high spatial frequency scatter in industrial cone-beam X-ray CT

In the energy range of industrial cone-beam CT (a 450 kV X-ray tube is used), the detector scatter (veiling glare) turned out to be the most important source of secondary radiation for a digital imaging system working in the indirect conversion mode. It has been shown that the detector scatter drives the shape of the total image scatter. As a consequence, the latter may be characterized by an important high spatial frequency content questioning the hypothesis, frequently invoked in the scatter correction techniques, of a slowly varying scatter. We propose a beam stop array (BSA) based method for the evaluation/subtraction of the image scatter. The technique has the potential of simultaneously manage all sources of scattering radiation. It can be used in the high spatial frequency scatter case at the condition of opportunely selecting the BSA effective sampling step. It has been shown that the BSA approach can be also successfully combined with a beam hardening correction scheme based on the linearisation method. The work we present is supported by experimental measurements performed with two test objects at two different beam qualities: (i) 200 kV + 2.5 mm of Cu and (ii) 400 kV + 4 mm of Pb and 1 mm of Cd. The detector scatter represents about 36% and 65% of the total white field image for the two investigated beam qualities, respectively.     

基于变压吸附法的大气中氩室温分离方法

放射性惰性气体³⁷Ar是地下核爆炸的特征活化产物,可用于全面禁止核试验条约现场视察,为判断是否进行了可疑核爆炸提供证据。基于变压吸附原理,建立了基于LiX分子筛和4A分子筛两级变压吸附分离、结合制备色谱的空气样品中氩的室温分离纯化方法,氩回收率大于65%,氩纯度满足放射性测量要求,流程操作时间小于2h。     

X射线荧光(XRF)在线检测系统判断限的研究

以信号处理理论和放射性统计学为基础,研究了判断限的选择方法。通过对Ｘ射线荧光谱的研究,合理地选择了标记物特征信号和本底噪间计算方法,在此基础上,通过大量实验,提出并选择了复合型的信噪比判断限。     

EDXRF无损检测青花瓷器的研究

用ＥＤＸＲＦ方法测量青花瓷器中元素含量的研究结果表明：在青花瓷器的烧制过程中，存在色料层元素向釉层的扩散现象，通过对青花瓷器半值厚度的计算，发现瓷胎中有些元素对上述测量也有贡献，实验还发现，同一瓷器，不含青花纹饰的釉层各元素的测量结果与所测部位无关，而含纹饰的釉层有些元素的测量结果随位置而改变。     

辐射成像无损检测系统远程控制和图像实时传输网络的实现

将网络和通信技术引入数字辐射成像无损检测系统，建立一个基于TCP／IP协议的网络结构，采用Client/Server的通信模型，实现射线无损检测系统的网络控制和实时无程图像传输。