内含低噪声可编程增益放大器的24位∑—△模数转换器AD1555／AD1556

美国ADI公司推出的24位∑-△模数转换器AD1555/AD1556内含可编程增益放大器，可用于低频、大动态范围的测量，并可实现模拟输入线性输出，AD1555/AD1556有五种不同的增益设定。将AD1555和AD1556数字滤波器/抽样器结合使用可组成高性能的模数转换器，因而可广泛应用于地震数据探测系统和自动测试装置。     

AD9223模数转换器在FSK信号传输中的应用

介绍了模数转换器AD9223的性能、结构和引脚功能 ,给出了AD9223在FSK信号传输中的应用电路 ,同时给出了该系统中模数转换芯片的选择方法及应用分析     

AD9240在中频直接采样中的应用

文章介绍了AD9240内部结构、工作原理及在中频直接采样中的运用,还讨论了AD9240的接口电路、PCB板图的设计以及在中频直接采样中的测试结果。     

可变增益放大器AD603在雷达系统中的应用

本文介绍了低噪声可变增益放大器AD603在电离层斜向返回探测系统(IOBSS)的应用。通过引入以AD603为核心的放大电路，改善了雷达系统接收回波信号的信噪比，提高了雷达的信号处理能力。     

两种线性隔离放大器的对比研究

介绍了一种由普通运算放大器LF353和普通光耦TLP521组成的线性隔离放大器的新型设计方案.说明了该放大器的电路结构.该放大器和AD公司的AD201AN相比,除了在性能上和集成模拟隔离放大器相近外,还具有电路结构简单、易于实现、造价低廉等优点.     

应用于PWM降压DC-DC变换器的高性能误差放大器

提出了一种应用于PWM降压型DC-DC变换器的高性能误差放大器。该误差放大器采用反馈结构,具有较大的动态范围,并可消除噪声影响,从而显著减小了DC-DC电源的纹波电压。另外,采用该误差放大器还有效地减小了电源启动时间。文中提出的误差放大器电路及PWM控制芯片的其他电路模块采用2.0μmBipolar工艺实现。仿真结果表明,误差放大器的开环和闭环增益分别为61dB和33dB,GBW为200MHz,SR为0.64V/μs。芯片测试结果表明,在输出电压为3.3V,负载电流为0.2A时,输出纹波电压的峰-峰值小于25mV。     

集成运算放大器的特性及其在音频放大器中的应用（三）——AD的AD797

在介绍了运算放大器的特性和对实际电路的影响之后,从这期开始以几个公司的具有代表性的运算放大器为例,介绍这些运算放大器的特点和应用电路。这一期介绍ANALOG DEVICES（简称AD）公司生产的AD797。     

一种Buck变换器中的误差放大器设计

基于系统稳定性的分析和负载瞬态响应的需求,本文设计了一种用于电流模式恒定导通时间(COT)架构DC-DC降压Buck变换器的高性能误差放大器并提出系统补偿方案。该误差放大器在保证频率特性良好的同时,具备高增益、补偿网络简单的优点。文中对所提出的电路结构以及系统补偿方案进行了详细的说明与理论推导,并使用Simplis软件对系统相位裕度进行仿真,最后基于0.18μm BCD(Bipolar CMOS DMOS)工艺,使用Hspice软件对电路进行了仿真验证。仿真结果表明:电源电压为2.7～5.5 V、输出电压为1.8 V时,系统的相位裕度位于62.5°到69.3°之间,负载瞬态恢复时间最大仅为17.3μs。     

运算放大器构成的直流电压隔离变换器

本文采用运算放大器、脉冲变压器、电子开关、通用器件组成低成本、高精度的电压检测隔离变换器。分析了它的工作原理及其应用。     

一种具有纹波消除技术的10 bit SAR ADC

逐次逼近寄存器模数转换器(SAR ADC)在逐次逼近的过程中,电容的切换会使参考电压上出现参考纹波噪声,该噪声会影响比较器的判定,进而输出错误的比较结果。针对该问题,基于CMOS 0.5μm工艺,设计了一种具有纹波消除技术的10 bit SAR ADC。通过增加纹波至比较器输入端的额外路径,将参考纹波满摆幅输入至比较器中;同时设计了消除数模转换器(DAC)模块,对参考纹波进行采样和输入,通过反转纹波噪声的极性,消除参考纹波对ADC输出的影响。该设计将信噪比(SNR)提高到56.75 dB,将有效位数(ENOB)提升到9.14 bit,将积分非线性(INL)从-1～5 LSB降低到-0.2～0.3 LSB,将微分非线性(DNL)从-3～4 LSB降低到-0.5～0.5 LSB。     

D/A和A/D转换器型谱的品种优化分析

本文从D/A与A/D转换器的基本概念和制造技术着手概述,特别对D/A和A/D转换器的应用之主要选择因素,进行了着重说明。随后,提出了D/A和A/D转换器优化品种的原则意见。     

一种应用于A/D转换器的Flash单元的设计

针对A/D转换器中广泛使用的Flash单元,设计了一组由全差分预放大器、动态比较器和D触发器组成的电路。对电路的抗翻转噪声能力进行了分析和仿真,指出,通过改进全差分预放大器的共模反馈电路,有效提高了Flash单元抗翻转噪声的能力。利用SMIC 0.18μm CMOS混合信号工艺,将设计的Flash单元应用到一个Flash A/D转换器中进行了流片。A/D转换器具有100 MHz奈奎斯特采样带宽。流片测试结果表明,采用该Flash单元的A/D转换器的信噪比SNR获得了改善,有效位数ENOB能提高大约0.6比特。     

A/D转换技术的应用与发展

首先分别介绍了当前六大模数转换技术的工作原理、电路结构、性能特点及应用领域,通过从转换速率、转换精度、分辨率、功耗、价格、面积等指标进行分析,将物理结构的设计与实际性能结合比较,总结出各自适合的应用领域.然后,根据对现有模数转换技术特点的分析及实际应用中对模数转换器性能的要求,对当前A/D转换技术向着高性能、低功耗、结构简单方向发展的趋势进行了预测.     

神经MOS晶体管在A/D和D/A转换器中的应用

神经MOS晶体管是一种具有多输入栅加权信号控制和阈值可调控的高功能度的新型器件。以神经MOS晶体管的Pspice宏模型为模拟和验证的工具,讨论了基于这种器件的A/D和D/A转换器的设计思想和方法,证明了他能很大程度地减少晶体管数目,简化电路,对实现高密度集成的ULSI系统的设计和实现有重要意义。     

基于平均功率谱的高精度A/D转换器动态参数测试

讨论了窗函数处理在基于FFT变换的高精度A/D转换器动态参数测试中的不足,提出了基于平均功率谱的高精度A/D转换器动态参数测试方法,并从理论上证明了该方法可以有效降低FFT变换测试方法中由于采用窗函数处理引入的噪声误差。最后,以ADI公司的16位A/D转换器AD9260为例,对其信噪比和总谐波失真等动态参数进行了测试实验验证。     

Settling Analysis of MOS Regulated Current Mirrors Applied to Micropower D/A Converters

This paper provides an insight to the trade-off between settling time and power consumption in regulated current mirrors as building parts in micropower current-switching D/A converters. The regulation-loop frequency characteristic is obtained and difficulties to impose a dominant-pole condition to the resulting 2nd-order system are evaluated. Raising pole frequencies in micropower circuits, while meeting consumption requirements, is basically limited by parasitic capacitances. For such cases, an alternative is to impose a twin-pole condition in which design constraints are somewhat relieved and settling slightly improved. Relationships between pole frequencies, transistor geometry and bias are established and design guidelines for regulated current mirrors founded. By placing loop-transistors in either weak or strong inversion, small (W/L) ratios are allowed and stray capacitances reduced. Simulated waveforms suggest a good agreement with theory. The proposed approach applied to the design of a micropower current-mode D/A converter improves both simulated and experimental settling performance.     

高速A/D转换器的研究进展及发展趋势

介绍了高速高精度A/D转换器技术的发展情况、A/D转换器的关键指标和关键技术考虑;阐述了高速高精度A/D转换器的结构和工艺特点;讨论了高速高精度A/D转换器的发展趋势.     

Simultaneous Static Testing of A/D and D/A Converters Using a Built‐in Structure

Static testing of analog‐to‐digital (A/D) and digital‐to‐analog (D/A) converters becomes more difficult when they are embedded in a system on chip. Built‐in self‐test (BIST) reduces the need for external support for testing. This paper proposes a new static BIST structure for testing both A/D and D/A converters. By sharing test circuitry, the proposed BIST reduces the hardware overhead. Furthermore, test time can also be reduced using the simultaneous test strategy of the proposed BIST. The proposed method can be applied in various A/D and D/A converter resolutions and analog signal swing ranges. Simulation results are presented to validate the proposed method by showing how linearity errors are detected in different situations.     

软件无线电设计的A/D采样分析

模数变换(A／D)是实现软件无线电的关键技术之一。本文首先介绍了软件无线电的概念，然后着重分析了A／D变换器的各项技术指标，并结合实例，详细论述了A／D采样的设计方法。     

一种用于高速A/D转换器的高精度参考电压电阻网络

提高分压电阻网络输出参考电压的精度对设计高速A/D转换器有重要意义.本文基于对参考电压非线性误差的分析提出一种并联式高精度参考电压电阻网络,给出其输出参考电压在最坏情况下的非线性误差分布形式.详细的讨论以及模拟结果表明勿需补偿电路,并联式电阻网络通过减少支路电阻串上的电阻数目能有效地抑制由于负载效应造成的参考电压非线性误差,使得输出参考电压的精度明显提高,同时稳定速度加快,驱动负载能力强,对温度的灵敏度低,适合于多种结构的高速A/D转换器,如:全并行、分步式、折叠式等.