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相似文献
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1.
从求解异质结双极晶体管基区的二维电流连续性方程出发,推导出了基区少数载流子浓度的解析解,由此获得了基区各种复合电流的解析表达式。基于该模型完成了算法研究和软件编制,计算出了器件所能达到的理论电流增益。  相似文献   

2.
硅锗基区异质结双极晶体管的研究进展   总被引:3,自引:0,他引:3  
叙述了硅锗基区异质结双极晶体管的研究发展现状,分析了该晶体管的结构机理,特点及制造技术,并且阐述了该器的发展前景。  相似文献   

3.
推导了在考虑了基区复合电流后双极晶体管厄利电压的理论表达式。用该表达式计算了Si/SiGe异质结双极晶体管的厄利电压,并且与仿真结果进行了比较。比较结果表明,两种情况下计算出的厄利电压值符合良好。  相似文献   

4.
建立了带有不掺杂隔离层的突变异质结双极晶体管(HBT)模型,在热场发射-扩散(TFD)理论的基础上,又考虑了空间电荷区中的复合效应。对AlGaAs/GaAsHBT特性的分析表明,不掺杂隔离层虽可有效地降低导带边的势垒尖峰,提高发射结的注入效率,但也会增大空间电荷区中的复合电流。因此,在实际器件的设计和制作中,应适当选择不掺杂隔离层的厚度,以获得较好的器件特性。还给出了计算突变异质结界面处电子准费米能级不连续的公式。  相似文献   

5.
对应用于高频微波功率放大器的SiGe异质结双极晶体管(HBT)的基区进行了优化.研究发现,器件对基区Ge组分以及掺杂浓度十分敏感.采用重掺杂基区,适当提高Ge组分并形成合适的浓度分布,可以有效地改进SiGe HBT的直流特性,同时能够提高器件的特征频率.晶体管主要性能的提高使SiGe HBT技术在微波射频等高频电子领域得到更加广泛的应用.  相似文献   

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推导了在考虑了基区复合电流后双极晶体管厄利电压的理论表达式。用该表达式计算了 Si/Si Ge异质结双极晶体管的厄利电压 ,并且与仿真结果进行了比较。比较结果表明 ,两种情况下计算出的厄利电压值符合良好  相似文献   

9.
齐鸣  李爱珍 《半导体学报》1996,17(2):119-125
本建立了包括空间电荷区复合电流在内的缓变异质结双极晶体管(HBT)的分析模型,对AlGaAs/GaAsHBT特性的分析表明,缓变发射结中可有效地消除导带边的势垒尖峰,但也会大大增加空间电荷区中的复合,导致小电流情况下电流增益的明显下降,发射结界面附近的不掺杂隔离层会进一步增大空间电荷区内的复合,加剧电流增益的下降,因此在器件的设计和制作过程中,应精确控制组分缓变区和不掺杂隔离层的厚度,以减小空间  相似文献   

10.
报道了具有最高单位电流增益截止频率(fT)的Si异质结双极晶体管(HBT)的制作,器件的fT值达75GHz,集电极-基极偏压1V,本征基区层电阻(Rbi)17kΩ/□,发射极宽0.9um,该器件用SiGe作基底材料,采用多发射极双极工艺制作,其75GHZ的性能指标几乎比Si双极晶体管的速度提高一倍,45nm基区中的Ge是缓变的,这样就产生了约为20kV/cm的漂移电场,因而本征渡越时间仅为1.9ps。  相似文献   

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本文报道一种新开发的与Si平面工艺兼容的准泡发射区基区工艺,以及由此工艺制备的适于大功率微波应用的SiGe异质结双极晶体管(HBT).SiGeHBT的电流增益为50,BVCBO为28V,BVEBO为5V.在900MHz共射C类工作状态下,连续波输出功率5W,集电极转化效率63%,功率增益7.4dB.  相似文献   

13.
采用二维数值模拟方法详细分析了基区复合电流对nSi/pSi1-xGex/nSi应变基区异质结双极晶体管(HBT)共射极电流放大系数β的影响,给出了Si1-xGexHBT的Gummel图、平衡能带图.得出在靠近发射结附近基区的复合电流是引起β下降的主要因素,并给出了减小基区复合电流的Ge分布形式.  相似文献   

14.
八十年代以来,微波半导体技术的迅速发展,应用领域不断扩大,为适应微波、毫米波半导体技术的发展,近年来已出现不少新结构、新器件,如异质结双极晶体管(HBT)、高电子迁移李晶体管(HEMT)、双极反型沟道场效应晶体管(BiCFET)调制掺杂场效应晶体管(MOFET)、谐振隧道晶体管(RTT)、负阻效应晶体管(NBERFET)、毫米波混合隧道雪崩渡越时间(MITATT)二极管、超导器件及量子器件等。本文主要叙述异质结双板晶体管的最新进展及其应用。  相似文献   

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硅锗基区异质结双极型晶体管的研究进展   总被引:1,自引:0,他引:1  
阮刚 《电子学报》1993,21(8):67-73,54
本文综述了SiGe-HBT工艺及性能研究的最新进展,提出了若干重要的研究课题.  相似文献   

17.
随着微波半导体技术的发展,近年来出现不少新结构、新器件。本文介绍国外异质结双极晶体管的发展,包括AlGaAs/GaAs,InP/InGaAs,GeSi等开发现状和性能参数达到的水平。  相似文献   

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