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在MBE生长“DBR型结构性材料”的过程中,由于生长中的多层结构干涉效应,使高温黑体辐射谱呈现振荡现象,利用此现象辅以计算机数据拟合,可以实现MBE生长中层次、组分和厚度的实时监控,对MEBE系统生长垂直腔型结构材料的实时质量监控有重要意义,我们首次在国内采用这项技术,利用红外高温仪对VCSEL器件生长全过程(包括谐振腔)及多种组分DBR的表观衬底热辐射振荡进行监测,采用准黑体模型,结合扫描电镜, 相似文献
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本文采用Lowdin微扰原理改进计算效率的局域密度泛函(LDF)线性Muffin-tin轨道原子球近似(LMTO-ASA)能带从头计算方法,以平均键能Em作参考能级,计算了以闪锌矿结构氯化硼为衬底外延生长金刚石(C/BN)、以C0.5(BN)0.5合金为衬底外延生长金刚石与闪锌矿结构氯化硼(CIBN)、以金刚石为衬底外延生长闪锌矿结构氯化硼(C\BN)和金刚石与氮化硼以平均晶格常数匹配生长(C-BN)等四种不同情况下,宽禁带半导体异质结C/BN的价带偏移△Ev值,结果分别为1.505、1.494、1.38 相似文献
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LTC台CHANNELBUSY故障的分析和处理天津日电电子通信工业有限公司田建忠TDNWLTMLTE-SSUB×TTESTLINKLCMFREC4LC图1LTC测试原理图LTTILTMLTCLTE-M在NEAX61程控交换机的日常测试和维护工作中,用... 相似文献
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消除E10交换机SMM站故障文件超量告警的方法天津市市内电话局申路在ALCATEL1000E10型OCB283交换机中,SMM站常出现“MAXTHERESHOLD-OFA”告警,由于SMM站是OCB283交换机的核心,所以我们对其出现的告警十分重视,... 相似文献
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E10BOCB283交换机中SMM栈的简述北京市电话局纪冬一、概述E10BOCB283交换机是法国ALCA-TEL公司1989年研制成功的新产品,它在控制结构上与原E10BOCB181交换机有很大区别,同时在操作与维护系统的硬/软件方面都有很多变动。... 相似文献
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自对准外延CoSi_2源漏接触CMOS器件技术 总被引:1,自引:0,他引:1
CO/Ti/Si或TiN/Co/Ti/Si多层薄膜结构通过多步退火技术在Si单晶衬底上外延生长CoSi2薄膜,AES、RBS测试显示CoSi2薄膜具有良好均匀性和单晶性.这种硅化物新技术已用于CMOS器件工艺.采用等离子体增强化学汽相淀积(PECVD)技术淀积氮氧化硅薄膜,并用反应离子刻蚀(RIE)技术形成多晶硅栅边墙.固相外延CoSi2薄膜技术和边墙工艺相结合,经过选择腐蚀,可以分别在源漏区和栅区形成单晶CoSi2和多晶CoSi2薄膜,构成新型自对准硅化物(SALICIDE)器件结构.在N阱CMOS工艺 相似文献
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本简要叙述了运用MBE技术成功生长出Zn1-xCdxSe/ZnSe超晶格的一些工艺和渗数,并对不同的样品进行了SIMS和AES的测试,首次测得了这种材料的元素分布,结果显示ZnCdSe/ZnSe超晶格有良好的纵向元素分布。 相似文献
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文章概述了印制线路板产品(PCB)的计算机辅助仿真系统(CAE)的理论计算基础方法──有限元法(FEM),以及如何运用于PCB的建模和仿真,并籍此设计出符合有关电磁兼容(EMC)规则的PCB电子产品。 相似文献
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升温工艺对PTCBaTiO3陶瓷显微结构和电性能的影响 总被引:2,自引:0,他引:2
低于液相呈现温度,用变化升温速率(160-1800℃/小时)的烧结工艺来制备PTCBaTO3陶瓷。测量了PTCBaTiO3试样的室温电阻、R-T曲线I-V曲线及拍摄了试样自然烧结面SEM照片。 相似文献
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研制HgCdTe焦平面器件是当前实现长波红外焦平面器件的主要途径。红外焦平面器件要求大面积、均匀性好和高质量的HgCdTe材料。用LPE、MOCVD和MBE外延生长的HgCdTe薄膜材料可满足焦平面器件对材料的要求。LPE是目前研制HgCdTe光伏列阵主要材料,用双层掺杂生长的p-n异质结得到当前最高的R_0A值。MOCVD和MBE生长的HgCdTe外延膜近期有了较大的进展,除了在硅衬底上MBE生长HgCdTe仍在研究之外,其它已趋向成熟并开始转向工业生产。为了研制高质量的HgCdTe外延膜,高质量的衬底材料与建立薄膜均匀性的检测工艺是十分必要的。 相似文献