人金刚石中包裹体含量的测定

本文结合X射线荧光分析和X射线吸收的方法,测定了人造金刚石中包裹体的含量,同时得出了纯金刚石对Co的Kα射线的质量吸收系数。     

纳米薄膜X射线吸收光谱的鉴定

采用X射线吸收光谱研究了热丝化学气相沉积(CVD)合成的纳米金刚石薄膜和脉冲激光沉积的纳米SiC薄膜.结果表明:纳米金刚石薄膜的碳K边X射线吸收精细结构光谱显示的激发峰相当于微米金刚石薄膜的蓝移,是量子效应的显著特征,证明制备的是纳米金刚石薄膜,与高分辨透射电镜的结果完全吻合;纳米SiC薄膜的硅K边X射线吸收精细结构光谱和扩展X射线吸收精细结构光谱也显示了纳米薄膜短程有序的结构特征,表明获得的是纳米SiC薄膜.     

人造金刚石中包裹体含量的测定

本文结合 Ｘ射线荧光分析和 Ｘ射线吸收的方法,测定了人造金刚石中包裹体的含量,同时得出了纯金刚石对Ｃｏ的 Ｋα射线的质量吸收系数。     

工业X射线探伤机标准与标准化工作

介绍X射线仪器行业归口研究所的行业工作和有关工业X射线探伤机的行业标准，指出X射线仪器行业标准化工作任务和努力方向。     

确定X射线束中心线的方法

对已知狭缝X射线检测存在的问题进行了研究.使用倒立的T型有机玻璃试件,确定了射线窗口经过的X射线束中心线.讨论了试验相关问题,用该方法确定的中心线对已知狭缝照相检测准确度为±0.02 mm.     

X射线实时成像技术在焊缝探伤中的应用

X射线实时成像是一项新兴的无损检测技术,它具有快速、准确、直观、成本低廉等优点,可以代替常规的X射线胶片照相探伤方法。本文概述了X射线实时成像技术的要点和焊缝探伤中的应用情况。     

功率管焊接质量射线检测

介绍采用射线方法检测功率管芯片与基座之间的焊接质量。试验证明，选用合适的透照参数可使X射线照相和X射线实时成像对焊接部位的检测均得到较高的对比灵敏度，但X射线照相法成本低廉，一次可透照多个工件，效率高，为该功率管焊接质量的理想检测方法。     

金刚石薄膜残余应力的X射线透射测量法

用X射线衍射透射法测量了不同沉积工艺CVD自支撑金刚石薄膜的残余应力，并对应力测试结果进行初步分析。与常规法相比，透射法直接测量薄膜表面不同方向的正应变，计算出正应力值，不需要复杂的转换计算，测量过程简捷、准确，克服了常规法的不足，有利于推动薄膜残余应力的研究。     

X射线照相支架的改进

以往使用的X射线照相支架,一般是用角钢、钢管及扁铁制成,重量大且与X射线机完全分离,不便于携带或搬动。针对上述问题,经过多次改进,制作了一种重量轻、便于携带、拆装的X射线照相支架。 1 支架结构 在X射线机端环上固定四根滑管,在滑管中放置四条支腿,支腿长度根据需要确定后由滑管上的顶丝固定(附图)。     

使用射线仪进行钢产品测量

非接触厚度测量方法是根据被测产品吸收射线的量进行测量的方法。 50年代,X射线仪在冷、热轧带钢生产中已普遍应用。早期的X射线仪为了降低造价和复杂程度,使用了非常简单的X射线源:由高压变压器给X射线管加上未整流的     

硅纳米线的X射线吸收谱与X射线激发发光谱研究

采用X射线吸收精细结构谱（XAFS）和X射线激发发光谱（XEOL），在Si的K边和L3.2边研究了硅纳米线的光电特性。在XAFS中虽然没有观察到跃迁边的明显蓝移，但可观察到跃迁边平缓上升和特征峰逐渐变得模糊，这意味着长程有序被破坏并产生了显著的量子尺寸效应，XAFS测量的是各种小尺寸的硅纳米线分布的平均特性。XEOL的结果表明硅纳米线的发光来自于包裹的二氧化硅和镶嵌在氧化物层中的纳米硅晶体颗粒以及硅与二氧化硅之间的界面。     

射线照相检验中X射线强度衰减的数值分析

应用Kulenkampff的射线强度经验公式,对工业射线照相检测中的X射线连续谱强度及衰减特性提出了一种理论近似算法。以钢材为例,应用Newton-Cotes梯形数值计算方法,结合Matlab软件模拟计算,得到了不同能量的X射线的相对强度随材料厚度变化的吸收曲线,以及平均衰减系数、半值层及其变化曲线,并与射线强度衰减理论相符。通过在T=0时与解析计算结果比较,该计算方法偏差3%,能满足射线检测技术的需要。研究结果表明,所采用的近似算法具有普适性和实用性,在射线照相检测过程中可以对各种材料的X射线衰减特性进行有效的理论分析。     

镍改性层增强铜基底沉积金刚石膜的形核(英文)

在铜基底溅射约100nm厚的镍改性层,然后置入纳米金刚石悬浮液中超声震荡加载籽晶,随后在热丝化学气相沉积设备中制备出晶体颗粒接近热力学平衡形态的高质量金刚石膜,其中sp2碳相含量低于5.56%。分别采用激光拉曼光谱、扫描电镜与X射线衍射对金刚石膜的形核与生长进行研究。实验结果表明:在溅射有镍改性层的铜基底上,金刚石的形核密度比在无改性层的铜基底上的形核密度高10倍。镍改性层的增强机制主要来源于两个方面:镍改性层的纳米级粗糙表面增强金刚石籽晶颗粒的吸附;镍改性层的强催化效应加速铜基底上金刚石形核生长所需的石墨过渡层的形成,从而促进金刚石的快速形核。     

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 本文研究了用近平行的入射X射线，以掠入射的方式，利用薄膜下基体某一晶面衍射强度随掠入射角的变化关系来测定薄膜厚的方法。导出了基体某一晶面的衍射强度的对数InIr与掠入射角函数f(r)之间的线性关系，发现该直线的斜率即为薄膜的线吸收系数与其厚度的乘积。对WC Co硬质合金上的金刚石薄膜厚度进行了测定，并对该方法的重复性进行了验证。结果表明，InIr与f(r)之间的具有很好的线性相关性，而且该方法具有较好的精确性。     

具有择优取向性的基材表面的薄膜厚度的X射线衍射测量修正

根据薄膜对X射线的吸收效应,利用X射线衍射方法可测量出多晶基材表面的薄膜厚度。但试验结果显示,基材的择优取向效应对薄膜厚度的测量影响显著。根据理论分析,提出了择优取向修正方法。在对X射线衍射数据进行择优取向修正后,利用最小二乘法对修正后的数据进行拟合。拟合结果显示,该方法可以有效地对基材的择优取向效应进行修正,从而获得较为准确的薄膜厚度值。     

天然石墨特征对合成金刚石性能影响的研究

金刚石合成工业中所用天然石墨应具有极低灰分,同时杂质的种类、含量及状态都是影响金刚石品质的重要因素。本文结合对天然石墨原矿、高纯石墨及由其合成的金刚石进行了光学显微镜、X射线粉末衍射(XRD)、碳硫分析仪、场发射环境扫描电子显微镜(FESEM)和电子能谱(EDX)等测试分析,研究了天然鳞片石墨作为合成金刚石碳源的特点,认为天然鳞片石墨纯度、粒度以及杂质硫元素等对合成金刚石特征和性能有重要影响。     

Asymmetric X-Ray Diffraction

Abstract

Physical phenomena characteristic of asymmetric X-ray diffraction schemes for perfect crystals, including diffraction under conditions of specular reflection, have been considered in detail. The principles underlying asymmetric crystal monochromators, achievements in obtaining narrow collimated X-ray beams, and the latest results on the application of asymmetric schemes in the investigation of thin subsurface layers are stated; along with the fundamentals of asymptotic Bragg diffraction, specific features of the grazing Bragg-Laue scheme and the analysis of amorphous sublayers with the use of the surface Bragg peak. Emphasis is placed on the application of asymmetric diffraction schemes in the method of X-ray standing waves to increase sensitivity (in recording of photoelectrons, fluorescence, and Compton scattering) and to study the characteristic features of the diffraction process in strongly asymmetric geometry.     

金刚石/铜复合材料中金刚石石墨化的研究

通过X射线衍射（XRD）和拉曼光谱对用作电子封装材料的金刚石／铜复合材料中金刚石的石墨化进行了研究，结果表明，利用先进的两面顶设备及工艺制备的金刚石／铜复合材料中金刚石并未石墨化，并对此结果进行了讨论。     

金刚石与Co-Si合金的固相连接

分析了金刚石复合片中金刚石颗粒与粘结剂Ｃｏ－Ｓｉ合金之间的连接行为。通过扫描电镜、电子探针及Ｘ射线衍射分析，结果表明：在一定条件下，金刚石颗粒周围有Ｓｉ元素偏聚；金刚石颗粒与结合剂之间有新生化合物ＳｉＣ存在；烧结时间是影响ＳｉＣ生成的主要因素之一。由于ＳｉＣ的存在，使金刚石工具的使用寿命得到提高。     

激光钎焊金刚石磨粒界面微结构分析

采用Ni基合金钎料,在Ar气保护条件下,对金刚石磨粒进行了激光钎焊试验研究.采用扫描电镜(SEM)和能谱仪(EDS)及X射线衍射仪(XRD)对钎焊金刚石试样进行理化分析,探讨了钎料与金刚石界面处碳化物的形成机理.结果表明,激光钎焊过程中在金刚石表面附近形成的富Cr层与金刚石表面的C元素反应生成碳化物,在钢基体结合界面上Ni-Cr合金钎料和钢基体中的元素相互扩散形成化学冶金结合.