基于光纤传输的膛内测试技术研究

研制了一套新型基于光纤传输的电磁炮膛内电枢运动状态测试系统,采用光纤探头作为信号采集和传输部分,可以避免高电压强电磁干扰。介绍了测试原理,设计了系统,完成了电枢信号的探测和信号处理及多通道输出功能,对系统进行性能测试。     

光纤传输时延温度特性的测量

在讨论了光纤传输时延温度特性及其测量方法的基础上，介绍了利用光端机房设备和仪表进行脉冲进延法测试的系统、测试结果、数据处理和误差分析。实测结果表明，在低温范围内光纤传输时延随温度并非呈线性变化。     

光纤传输线路损耗的测量

光纤传输线路损耗的测量□易秀芳（江苏省通州有线电视台２２６３００）在光纤传输系统中，传输损耗是一个首要问题，是实际工程中光缆线路全程测试的主要内容，是光缆工程质量检验或验收的最重要项目之一。光纤传输线路的损耗测量也为设备调试人员提供了必要的准确数据。...     

光纤传输对接收机(雷达)相位噪声的影响及其在MTI性能测试中的应用

测得光纤传输对雷达本振激励源相位噪声的影响,并应用该传输设备对雷达接收系统的MTI性能进行测试,研究了光纤传输对雷达相位噪声及MTI性能测试的影响,说明提高光纤传输设备及雷达接收系统性能应进行的工作.     

光缆施工在OTDR光纤测试法中的应用探讨

作为以光纤为传输媒介的通信方式,其具有传输距离远、信息容量大、传输质量高等优势,因而在信息传输中的应用越来越广泛。光时域反射仪(Optical Time Domain Reflectometer,OTDR)在光纤测试中是非常重要的设备仪表,在光缆线路的维护、施工中的应用非常普遍。文章对OTDR技术原理进行了阐述,并对OTDR技术的精度保障进行分析,重点对光缆施工中OTDR光纤测试法的应用进行了详细探讨。     

温度对光缆中数字信号漂移特性的影响

在光缆传输系统中，环境温度的变化会使数学信号发生漂移，从而影响传输质量。在长途架空光缆传输系统中，这种影响最为严重。首先对影响光纤中数字信号漂移的因素进行分析，然后给出试验光纤的温度漂移特性的测试结果，并对试验数据进行了处理和分析。最后，对光缆中数字信号的温度漂移特性进行了讨论。     

单波长单光纤时间双向传递的研究

针对温度和光波长对光纤传输时延的影响,研 究了单波长单光纤时间双向传递方法,传输距离 为2km的单波长单光纤时间双向传递的同步精度为27.5ps,抖动峰 峰值为209ps,测试结果显示单波长单 光纤时间双向传递方法能减小温度和波长对光纤传输时延的影响和提高时间传递精度。随温 度和波长变化 的光纤传输时延是影响光纤时间双向传递精度的主要因素,用Matlab定量分析了温度 和波长对材料色 散、折射率及光纤传输时延的影响,并且理论分析了单波长单光纤时间双向传递的同步精度 。     

传输系统中通信光纤设备的维护措施

通信光纤设备技术的发展推进了社会的发展,带来了极大的社会效应。本文对光纤通信设备的构成和现状进行了描述,对通信光纤设备的特点进行了深入分析,并阐述了光纤传输设备维护时需注意的问题,研究了光纤传输设备的维护措施,总结了光纤传输设备的维护方法。     

传输系统中通信光纤设备的维护措施

通信光纤设备技术的发展推进了社会的发展,带来了极大的社会效应。本文对光纤通信设备的构成和现状进行了描述,对通信光纤设备的特点进行了深入分析,并阐述了光纤传输设备维护时需注意的问题,研究了光纤传输设备的维护措施,总结了光纤传输设备的维护方法。     

基于Modbus的嵌入式系统驱动测试平台

在嵌入式系统中,特别是嵌入式工控系统中,基于系统驱动的测试和调试是其产品能正常高效运行的前提,但由于工控产品多工作于高电压、高温度等特殊环境下,因而一般是通过线缆、光纤或是通过无线方式把采集的数据传向控制中心或把数据通过控制中心发向控制器,如何有效、安全、实时地实现控制数据的传输是嵌入式工控系统中需要重点解决的一个问题。而一个好的系统驱动测试平台将能在系统投入运行前提供完善、快捷和全面的测试,为系统运行提供事前保障。     

A novel on-chip high to low voltage power conversion circuit

A novel power supply transform technique for high voltage IC based on the TSMC 0.6μm BCD process is achieved. An adjustable bandgap voltage reference is presented which is different from the traditional power supply transform technique. It can be used as an internal power supply for high voltage IC by using the push-pull output stage to enhance its load capability. High-order temperature compensated circuit is designed to ensure the precision of the reference. Only 0.01 mm2 area is occupied using this novel power supply technique. Compared with traditional technique, 50% of the area is saved, 40% quiescent power loss is decreased, and the temperature coefficient of the reference is only 4.48 ppm/℃. Compared with the traditional LDO (low dropout) regulator, this power conversion architecture does not need external output capacitance and decreases the chip-pin and external components, so the PCB area and design cost are also decreased. The testing results show that this circuit works well.     

一种高电源抑制比带隙基准源

介绍一种基于UMC0.6μmBCD工艺的低温漂高PSRR带隙电路。采用Brokaw带隙基准核结构,针对温度补偿和PSRR问题,通过改进的线性曲率补偿技术,对温度进行补偿;并利用零点技术提高电路的整体PSRR。HSPICE仿真分析表明:电路具有很好的高低频PSRR,在-40℃到125℃的温度范围内引入温度补偿后,温度系数降为3.7×10-6/℃。当电源电压从2.5V变化到5.5V时,带隙基准的输出电压变化约为670μV,最低工作电压仅为2.2V。     

利用射频与高压直接耦合等离子体注入进行不锈钢表面改性

介绍了一种新的等离子体离子注入在不锈钢表面改性上的应用.将高压脉冲和射频脉冲直接耦合到工件上,不需外部等离子体源,利用工件自身加射频产生等离子体,随后施加高压对不锈钢表面进行了注氮处理.XPS分析显示,在基体表面有氮元素存在,说明实现了射频与高压直接耦合的离子注入效果.进一步研究表明,等离子体离子注入后,在不锈铜基体表层形成了Cr2O3以及CrN,FeN等硬质相,因此处理后的试件耐摩擦、磨损和耐腐蚀性能得到了较大提高.同时研究显示,射频脉冲宽度或射频与高压相位的改变对摩擦系数影响不大.     

基于VB与PLC的温度循环测试系统研究与实现

以基于OPC技术和搭载VB编程环境的PC为上位机,以欧姆龙公司的CJ2M控制器为下位机,设计了一套用于测试电子镇流器样品的温度循环测试系统。该系统实现了利用PLC对电压源进行的输出控制,实验结果符合测试曲线,并在VB界面中读取实时电压与温度曲线的目的。     

Accelerated testing for failures of tantalum capacitors

This study focused on the use of accelerated testing to find out why tantalum capacitors fail. Stress effects of humidity, temperature, and ripple voltage were examined in different combinations. Results show that a standard 85/85 test with combined enhanced moisture and temperature does not result in failure of tantalum capacitors in 2500 h. However, with added ripple voltage, failures may occur in a relatively short time. High relative humidity and high temperature both affect water diffusion, but apparently increased ripple voltage in 85/85 testing causes tantalum capacitor characteristics to weaken and capacitors to fail. The paper elaborates on the possible reasons.     

基于光纤光栅传感器高压开关柜温度监测系统设计

本文针对高压开关柜温度监测问题,提出了一种基于光栅原理的温度监测系统。文章首先阐述了高压开关柜温度监测在电力系统中的重要性,其次对国内外目前的监测手段进行简要介绍,再次阐述了光线光栅的测温原理,最后对设计的光纤光栅温度监测系统进行阐述。本文依据光纤光栅传感器的测温原理,对高压开关柜温度监测问题进行了有益探索,对实际应用具有一定的指导意义。     

A new built-in screening methodology to achieve zero defects in the automotive environment

Efficient screening procedures for the control of the defectivity are vital to limit early failures especially in critical automotive applications. Traditional strategies based on burn-in and in-line tests are able to provide the required level of reliability but they are expensive and time consuming. This paper presents a novel built-in reliability testing methodology to screen out gate oxide and crystal related defects in Lateral Diffused MOS transistors. The proposed technique is based on an embedded circuitry that includes logic control, high voltage generation, and leakage current monitoring.     

激光电源充电技术

介绍了几种常见的激光充电电源方案，分析了其电路的工作原理，优缺点及应用场合，并着重分析了一种串联谐振全桥变换充电电源。该充电电源应用软开关技术，具有高效率、高充电精度等特点，非常适用于高压大功率激光电源中。     

高压光纤复合测温电缆的研制

为利用光纤分布式温度监测系统对运行电缆的温度进行实时在线监测,自主开发了高压光纤复合测温电缆。对高压光纤复合测温电缆结构设计、光纤内置等制造过程和性能检测进行了较为详细的阐述。     

基于脉冲式U-I 特性的高功率型LED 热学特性测试

热学特性是影响功率型LED光学和电学特性的主要因素之一,设计了一套基于脉冲式U-I特性的功率型LED热学特性测试系统,可以测试在不同结温下LED工作电流与正向电压的关系,从而获得LED的热学特性参数。该系统通过产生窄脉冲电流来驱动LED,对其峰值时的电压电流进行采样,同时控制和采集LED的热沉温度,从而获得不同温度下LED的U-I特性曲线。与其他U-I测试系统相比,文中采用了窄脉冲(1 s)工作电流,LED器件PN结区处于发热与散热的交替过程,不会造成大的热积累,大大提高了测量精度。实验中,对某功率型LED进行了测试,获得了该器件的电压、电流和结温特性曲线,并利用B样条建立该器件的U-I-T模型,进而实现了对其结温的实时在线检测。