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用直流、冲击或叠加直流偏压的冲击电压来研究三种乙丙橡胶绝缘料的电气强度。为了探讨直流和冲击场强是否受硫化残余物的影响,在硫化后的不同时间里进行了击穿试验。不同电压的直流预应力对冲击场强有很大影响,而与其持续的时间似乎没有影响。施加电压的方式明显地影响击穿数值,用逐级升压的方法所测得的击穿场强是低于高峰值单次冲击电压所得值。这特性对两种不同极性的直流预应力都适用。最后,研究了多次冲击放电对直流电压作用下电缆的长期性能的影响,还研究和讨论了电缆长度、暂态电压和电缆击穿之间的相互关系。 相似文献
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讨论了二元Weibull分布于电老化定律在评价绝缘电老化特性的等价性,同时给出了应用最小二乘法和二元Weibull分布参数进行估计从而获得电压寿命指数N值的方法。并给出了应用实例。 相似文献
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本文叙述了威布尔数理统计的基本方法,用以对挤包绝缘电缆的电压击穿试验进行数据处理;评定各项威布尔参数和电缆寿命指数N值;从一系列比较分散的击穿电压数值中,可以找到一个正确可靠的试验结果。 相似文献
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为了研究温度尤其是高温对变频牵引电机绕组匝间绝缘材料电气绝缘特性的影响,以聚酰亚胺纳米复合薄膜为研究对象,测试了薄膜的介电温度谱,研究了方波脉冲电压下温度θ对薄膜局部放电起始放电电压(partial discharge inception voltage,PDIV)、击穿电压Ub及老化寿命的影响,分析了薄膜在老化期间的空间电荷分布特性。研究结果表明:θ升高,薄膜高分子链热运动加剧,阻碍了分子链极性端基及侧链的取向极化作用,使薄膜的介电常数ε减小;同时,薄膜的介质损耗tanδ也因极化作用的减弱而减小,但因弛豫现象使介质损耗温度谱在110℃处出现1个峰值;θ升高,被陷阱捕获的电子更容易受激发而脱陷,易满足局部放电对初始电子的要求,使PDIV降低;载流子平均自由程增大,载流子能量增强,对薄膜高分子链的破坏作用加剧,导致Ub降低。空间电荷分布特性研究表明:θ升高,载流子能量增大,加速了薄膜高分子链降解并生成小分子及自由基,增大了薄膜的陷阱密度,载流子频繁地入陷与脱陷,进一步加剧了高分子的降解,使薄膜老化寿命明显缩短。研究为优化变频牵引电机绝缘系统的设计奠定了基础。 相似文献
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根据W.Mosch和W.Hanschild提出的方法,用气体放电的基本理论,简要讨论了在工程条件下,以耐电强度作为计算SF6击穿过程基础的方法,并给出范例。 相似文献
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张乐平 《电力系统及其自动化学报》2001,13(2):29-32,43
根据W.Mosch和W.Hanschild提出的方法,以气体放电的基本理论,简要讨论了在工程条件下,以耐电强度作为计算SF6击穿过程基础的方法,并给出了算例。 相似文献
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变压器实际遭受的雷电冲击电压的波前时间及持续时间变化范围很大,传播过程中的折反射还会造成雷电波的波形振荡。雷电侵入变压器绕组后会引起内部谐振,在匝间和饼间形成较高电位梯度,从而导致匝间和饼间的击穿事故。因此设计了油-隔板和匝间绝缘模型,研究了冲击电压波前时间、振荡频率对绝缘模型击穿特性的影响。结果表明:2种绝缘模型击穿电压均随波前时间的降低而增加,波前时间0.25μs陡前沿冲击电压下的U50%比标准雷电冲击下提高了10%~17%;对于匝间绝缘模型,其放电时延受绝缘层厚度和波前时间的影响显著,并且放电时延对波前时间的敏感度随着纸层层数的增加而升高;匝间绝缘模型能够耐受幅值比标准雷电冲击电压幅值更高的振荡雷电冲击电压,模型的U50%击穿电压随振荡频率增大而增大,振荡频率335 kHz时的U50%是标准雷电下的1.25倍;此外,当匝间绝缘模型中绝缘纸总厚度保持恒定时,绝缘纸层数的增加提高了绝缘模型的击穿强度。 相似文献
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绝缘液体的交流击穿电压测试的试验实践(奥地利)R.Musil等原则性考虑绝缘液体的交流击穿电压是以其相应的,即“明显的”介电强度为特征。但准确的介电强度并不可测,这是因为这些测试值只适用于一定的特殊条件。不能认为所有的标准试验都有效,而宁可说成是基本... 相似文献
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1.带电寿命试验 1.1实验方法电极系统采用图1所示的φ12.5mm不锈钢球电极和φ25mm不锈钢平板电极。试样采用61μm厚的聚丙烯薄膜,并用硅脂粘贴在平板电极上,粘贴时尽量排出薄膜和电极间的气泡。将该电极系统浸在室温下的烷基苯中,在球电极上施加 相似文献
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《高电压技术》2016,(3)
LTD次级多层薄膜绝缘子层数达几百、上千层,利用厚几十μm的高本征击穿强度薄膜制作强度更高或者更紧凑的低感绝缘子是这种绝缘的发展方向。在新型绝缘子研制中,希望以较小规模(层数)试样的击穿实验数据预测较大规模绝缘子在一定场强下的击穿概率。为此基于Weibull型半经验分布函数模型,利用一组较小规模多层绝缘试样的击穿实验数据进行拟合得到模型参数,导出分析预估多层薄膜绝缘子击穿概率的公式,进而建立了分析预估较大规模多层绝缘击穿概率的计算方法。多层薄膜绝缘的击穿强度随层数增多而降低,击穿概率随层数增多而增大,但击穿强度降低和击穿概率增大的速率随层数增多而逐步减小。如将1 000层绝缘分为10组,每组100层薄膜,仅需对其中一组薄膜每增加10层进行一次击穿实验(共10次),即可计算得到1 000层绝缘的击穿概率。本方法适用于稍不均匀电场多层薄膜绝缘在一定平均场强下的击穿概率计算。 相似文献