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对纯钼及不同掺杂量的Si、Al、K掺杂钼的组织和性能进行了研究.利用金相显微镜观察了热分析以后的组织形貌,用透射电镜观察了烧结坯的精细结构.将掺杂钼在不同温度退火后测试其硬度,并对比分析了纯钼和掺杂钼的高温拉伸性能.发现经过加热到1600℃热分析以后,掺杂钼的晶粒比纯钼细小,而且掺杂量愈大,晶粒的长径比愈大;烧结态纯钼中没有第二相粒子存在,而掺杂钼的晶粒和晶界上分布着掺杂颗粒.掺杂样加热到一定的温度时硬度值都显著下降,随着掺杂含量的增加,硬度最小值出现的温度随之升高;掺杂钼条的高温抗拉强度和屈服强度都明显高于纯钼,并且随着实验温度的提高,强度的提高幅度增大. 相似文献
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采用传统固相法分别利用不同价态的MoO3和MoO2原料制备了Mo掺杂Mn位的La0.7Sr0.15Ca0.15-MnO3材料,主要利用光电子能谱和X射线吸收谱研究了过渡金属元素的电子结构特征和化学价态的不同。结果表明:用两种价态的Mo原料制备的钙钛矿锰氧化物体系的Mo离子价态表现不同,MoO2制备的材料体系价态偏低。同时,该变化还引起了Mn离子电子结构变化以及氧原子轨道能级与周围配位原子能级杂化强度的不同,这些内在电子结构的不同将成为材料表现出不同物理属性的可能原因。 相似文献
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Si-Al-K掺杂钼加工工艺过程中掺杂元素的变化研究 总被引:1,自引:0,他引:1
以拉丝用MoO2、KOH、硅酸、Al(NO3)39H2O为原料,采用不同的掺杂配比进行相同工艺下的掺杂、还原和烧结实验,剖析和讨论了加工工艺过程中掺杂成分Si、Al、K的变化情况及其原因,同时也分析了氧含量随加工工艺的变化情况及其与掺杂元素含量之间的关系.结果表明,Si、Al、K含量在还原和烧结后都显著降低,最后只残留极少部分,其残留量随着原始掺杂含量的增加而增加;随着掺杂总合量的增加,还原和烧结后的O含量依次增加. 相似文献
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报道了银掺杂的半导体氧化物CuO-BaTiO_3对CO_2的敏感特性。分析了Ag掺杂量对CuO-BaTiO_3灵敏度的影响。Ag掺杂量不仅影响CuO-BaTiO_3对CO_2是的灵敏度和工作温度,还影响材料在空气中的电阻值。通过适当量的Ag掺杂提高了CuO-BaTiO_3的化学活性,增强了对CO_2的吸附和反应,使传感器对CO_2的灵敏度提高。银掺杂的CuO-BaTiO_3传感器对CO_2的检测范围为1.0×10~(-4)到10%,最小检测浓度为1.0×10~(-4)。还对银掺杂后的稳定性进行了分析。 相似文献
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采用透射电镜和层析原子探针(APT)分析了9Cr-ODS钢中纳米氧化物颗粒成分和结构。研究发现,氧化物颗粒成分与其大小有一定的关系,可将其归纳为3类:(1)氧化物5nm,m(Y)∶m(Ti)1,可能是非整比化合物;(2)5~10 nm氧化物尺寸40nm,m(Y)∶m(Ti)≈1,可能是Y2Ti2O7;(3)氧化物40 nm,为TiO2。Cr在氧化物周围偏析形成壳状结构。 相似文献
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采用传统的高温固相反应法制备了La0.8Sr0.2Mn1-xCoxO3(x = 0, 0.1, 0.3)多晶样品。系统研究了Co掺杂量对La0.8Sr0.2MnO3(LSMO)多晶样品的类Griffiths相、磁熵变、临界行为和电输运性质的影响。研究结果表明: 制备的多晶样品均具有菱形对称结构; 三样品在低温磁转变温度(TC2)以上均存在类Griffiths相; La0.8Sr0.2Mn1-xCoxO3(x = 0, 0.1, 0.3)样品外加磁场为7 T的最大磁熵变ΔSmax分别为-2.28、-2.05和-2.75 J/(kg·K), Co元素的掺杂使得ΔSmax先减小后增大; 母相的临界行为与平均场模型拟合得最好, 掺杂后样品的临界行为和3D海森伯模型拟合最好; 母相为半导体材料, Co元素掺杂量达到0.1时在低温磁转变温度(TC2)附近出现金属绝缘体转变; 高温区三样品的导电方式均满足小极化子模型。 相似文献
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分别采用固相烧结法及激光液相烧蚀(LAL)技术,成功制备出Co掺杂CeO_2稀磁氧化物陶瓷块体和纳米颗粒。XRD和SEM研究发现所制备的材料具有良好的结晶性和形貌。Co掺杂CeO_2稀磁氧化物陶瓷块体和纳米颗粒均为多晶立方结构,与纯立方相的CeO_2结构相同,说明Co掺杂未形成其他结构和杂相。磁性测量表明固相烧结法和激光烧蚀液相法制备的Co掺杂CeO_2样品均具有较高的室温铁磁性,且远高于文献中报道的结果。将陶瓷块材经激光烧蚀成纳米颗粒后,纳米颗粒的铁磁性与陶瓷块材保持一致。这说明激光烧蚀法制备的纳米材料可以很好地保持母材的特性,是一种很好的纳米颗粒制备方法。根据XRD和SEM研究结果,笔者认为Co掺杂CeO_2陶瓷块材及纳米颗粒的室温铁磁性是内禀性质;磁性产生的机理源于氧空位诱导的铁磁性耦合。 相似文献
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用固相烧结法制备Nd0.67Sr0.33MnOy(y=2.85)多晶样品。样品输运性质表现出自旋相关电致电阻特征。对含量低于化学计量y=3.0样品,当温度高于某一特征温度时,电阻变化符合线性欧姆定律;但低于这一特征温度时,电阻大小与负载电流或电压有关,I-V曲线偏离线性规律;在绝缘体.导体相转变点附近,样品电阻随负载电流或电压增大而迅速减小,表现出巨大电致电阻效应。这种自旋相关的电致电阻行为与氧含量和界面有很大关系。 相似文献