钨—银触头材料添加钴的烧结作用

钨—银触头合金的使用寿命由于钴的添加而得到改进。本文是研究 W—5%Co(重量)合金用银浸透和不用银浸透的显微结构和烧结作用。在钨—钴系统中,金属间化合物 Co_7W_6的形成是在钨钴接触点上。在银浸透的试样中,钴溶解于银中,通过液相作输送媒介使钴与钨微粒的纯净表面反应而成 Co_7W_6。以一种模型试验清楚地证明其结构,这种模型试验是以一小块钴板放在钨表面上并使液态银包围于四周:在热处理之后,钴覆盖了纯净的锫表面并以一种 Co_7W_6的覆盖层延伸,远远超过始初的钨钴接触面积。木文亦报导了热处理期间的尺寸变化并与理论推导进行比较。     

银氧化锡触头材料

三十年来世界各国在低压开关设备,如电机保护器、大容量限流开关、保护开关中都是采用银氧化镉(AgCdO)作触头材料。这是因为这种触头材料具有耐弧、闭合大电流时抗熔焊性好、接触电阻低且稳定等良好的综合性能。根据开关设备的结构设计及其功率大小主要采用内氧化或粉末冶金制造的含CdO量为10～15%的AgCdO材料。由于研究和开发工作的不断开展,今天已出现了工艺成熟并且实际应用可靠的变种材料,选用它们可使开关的特性稍有提高。     

钨和氧化钨对银镍触头材料性能的影响

本文对分别掺杂W和WO3两种不同添加剂的银镍触头材料(85%含银量)进行电性能、力学物理性能及微观组织对比分析。在添加剂的成分、颗粒尺寸及分布相同时,两种材料的微观组织、抗拉强度及断后伸长率几乎相同,在显微硬度和接触电阻上略有差别,而在电弧侵蚀和材料转移上有明显区别。相对于WO3而言,W的添加降低了Ag Ni(15)触头材料的较大抗熔焊力出现概率。对于因电弧侵蚀导致的材料损失,添加1.5%的W要比1.5%的WO3低。在电弧作用下掺杂WO3的触头材料表面有较大镍颗粒的团聚,这可能是由于WO3的添加影响了其材料的转移。     

银钨触头的腐蚀和防止措施

应用在塑壳断路器中的银钨触头材料在湿热环境中的致命缺点－表面生成绝缘物质，影响了断路器的正常使用。可以通过添加第三种元素的方法得以改进，使之获得新机。     

采用优选法提高银钨触头焊接质量

1973年以前,我厂自动开关的银钨触头焊接质量一直未过关,焊接合格率低,严重地影响了产品质量,是我厂的一个技术难关。以后学习了兄弟单位的经验,在焊接黄铜—银钨触头时采用了氟硼酸钾10％、三氧化二硼70%、四硼酸钠19.7%、磷酸氢二钠0.3%的配方。这时焊接中焊剂的流动性大了,但仍有气孔、易氧化等弊病,焊接质量问题仍未解决。在推广优选法时,焊接班     

铆钉用银氧化锌触头材料

采用一种新的制造工艺,研究开发出了铆钉用银氧化锌触头材料,并对其机械物理性能、金相组织、加工性能、电性能等进行了比较分析。结果表明,该工艺生产的银氧化锌触头材料性能优越,与国外同类产品性能相当。     

铆钉用银氧化锌触头材料

1 引言自2006年6月1日起,欧盟的RoHS 2002/95/EC和WEEE 2002/96/EC二项指令开始执行,欧盟市场的电子电气产品将严格限制使用含铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴二苯醚这六类物质,这将意味着欧盟市场对银氧化镉系     

稀土金属对银触头材料的影响

纯银添加微量的稀土金属制造的银合金不仅保存了银的优点,即导电好,散热快, 易加工,而且合金的强度、硬度,抗硫化性能均有明显地提高。不同的稀土金属,添加的不同的数量对银触头材料的影响也不相同。     

银氧化镉系触头材料的研制

一、前言在全国人民深入学习毛主席关于无产阶级专政理论的重要指示,决心把国民经济搞上去的大好形势下,我们接受了研制十吨工频感应炉中压式水冷大电流接触器弧触头的任务。造成供电系统不正常而未能出国。     

交流条件下银氧化锌触头材料应用研究

采用合金粉末预氧化法制备了氧化锌含量（8%～12%）的银氧化锌触头材料,并对其机械物理性能、金相组织、电性能等进行了比较分析。结果表明,随着氧化锌含量的增加,线材的电阻率逐渐增大,密度逐渐减小,其硬度和抗拉强度也有增大的趋势。在20 A以内小电流条件下进行电寿命验证,结果表明,随着氧化锌含量的增加,电寿命呈现下降的趋势,在交流条件下,AgZnO(8)具有较好的综合电性能。     

共沉积银镍10触头材料及其应用

银镍10触头材料是银和镍的混合物,用粉末冶金方法制成的一种新型触头材料,经装机试验证明,在B系列和CJ20小容量接触器上采用这种触头材料显示了良好的抗熔焊性能和耐电磨损性能,满足了引进产品及国内电器改造换代的需要。一、小容量接触器对触头材料的要求: 电触头材料是低压电器产品的心脏,其     

银合金触头材料在低压电器产品中的应用

归纳了接触器、开关、断路器等低压电器产品中几种常用的合金触头,并介绍了它们的性能、特点。对这些电器产品所用的不同触头材料银镍合金、银石墨合金、银钨合金、银氧化镉合金、银氧化锡合金等的差别进行了分析,依据多年实践工作经验,总结了对不同触头材料的应用与选择。     

高钨含量铜钨触头材料裂纹机理探讨

本文基于力学及热学观点，从CuW触头生产工艺出发结合电弧对触头的侵蚀作用，分析了CuW触头材料袭纹形成机理及在后续燃弧过程中的扩展路径及相关行为，认为影响裂纹形成及扩展的主要因素为：（1）钨粉粒度及空间架构，（2）Cu/W之间的界面，（3）表面润湿性。     

银金属氧化物触头材料制造的新论点

本文介绍国外近期在银金属氧化物触头材料制造方面的一个新论点。该论点认为：银金属罐头人物触头材料在实际开关中的运行性能不是决定于氧化物的种类，而是决定于材料的制造工艺和添加物，即决定于电弧作用后触头表层材料的微观结构。     

银氧化锡触头材料的电弧重燃特性

探讨了用内氧化方法制造的银氧化锡触头材料的电弧重燃特性。运用物理、化学检测手段,对材料组成及结构进行了多方面的分析;并对相应状态下的触头,测定其在接触器分断过程中的电弧重燃时间,归纳出影响内氧化银氧化锡触头电弧重燃特性的主要因素。通过试验确认,当控制好这些因素时,内氧化银氧化锡有良好的电弧重燃特性。     

测定铜钨触头材料中氮含量

一、前言用作真空接触器的铜钨触头材料在使用过程中，会释放出材料中的气体元素。这样会导致真空度的破坏而造成接触器的损坏。目前尽管已有人对用于大电流的真空触头材料含气量的要求进行了理论估算，但实际对电触头材料的容许含气量（类型与数量恻至今尚未确定，由于原材料、工艺条件等原因想把电触头材料中气体含量降到接近于理论估算值目前是不可能的。一般总希望真空电触头材料含气量越低越好。目前生产的铜钨电触头材料其含氮量较高。为了分析材料中的含氮量和寻找氮含量的来源，需要建立一个快速、准确测定铜钨电触头材料中含氮量的…