OTDR和光源功率计测试光纤接头损耗

在实际光缆施工熔接中,通常采用OTDR测试光纤接头损耗,但OTDR单向损耗包含了被接续两根光纤的背向散射特性差异,并不代表光纤真实的熔接损耗,因此采用单向损耗作为熔接损耗的判断标准,通常会造成误解和不必要的返工。而光源功率计的测试原理相对简单,只需从一个方向进行测试。本文基于某移动干线在开盘检测过程中采用OTDR测试出现的熔接损耗"大正大负"现象,特设计实验,分别采用OTDR和光源光功率计测试了熔接点损耗和光缆链路损耗,验证OTDR双向平均值的结果和光源光功率计测试结果趋于一致,从而证明OTDR测试熔接损耗和链路损耗的正确方法是双向测试取平均值,单向熔接损耗不影响实际光纤的传输性能。     

非零色散位移光纤与光纤带的熔接技术

阐明了光纤的几何特性，特别是在熔接之后的模场直径，是影响光纤接头损耗的主要因素。分析了熔接过程对光纤模场直径的影响，对熔接非零色散位移光纤时所用的熔接条件进行了优化。在单纤、2－芯、4－芯和8－芯光纤带上进行了实验，证实了用优化的熔接程序进行熔接的接头损耗有明显的降低。     

普通光纤与小芯径实芯光子晶体光纤的塌孔熔接技术

光子晶体光纤(PCF)和普通光纤的熔接损耗主要来源于两光纤模场直径(MFD)的失配。提出了一种小芯径光子晶体光纤和大模场直径普通光纤低损耗熔接的方法。利用熔融拉锥机加热光子晶体光纤来精确控制光子晶体光纤的空气孔塌缩,以增加光子晶体光纤的模场直径,从而降低其与大模场直径普通光纤的熔接损耗。实现了模场直径为3.94μm的光子晶体光纤和模场直径为10.4μm普通光纤的低损耗熔接,最低损耗小于0.2 dB。     

非零色散位移光纤与光纤带的熔接技术

阐明了光纤的的几何特性,特别是在熔接之后的模场直径,是影响光纤接头损耗的主要因素.分析了熔接过程对光纤模场直径的影响,对熔接非零色散位移光纤时所用的熔接条件进行了优化.在单纤、2-芯、4-芯和 8-芯光纤带上进行了实验,证实了用优化的熔接程序进行熔接的接头损耗有明显的降低.     

影响光纤熔接损耗的因素及解决方法

针对造成光纤熔接损耗的各种本征和非本征因素,进行了详细的分析和总结.说明了各个损耗因素的取值范围;并以模场直径为例,分析了光纤模场直径不同时引起的连接损耗的变化.即举例介绍了光纤熔接损耗的计算方法;最后提出了降低光纤熔接损耗的解决方法,为进一步研究先纤的熔接损耗提供了理论依据.     

单模光纤的熔接损耗与测量

论述了光纤熔接损耗产生的原因及如何降低光纤的熔接损耗 ;如何使用 OTDR测量光纤熔接损耗和怎样对测试曲线进行分析     

使用双向后向散射技术模拟单模光纤模场直径测试

基于双向后向散射技术,光时域反射仪能拟合出单模光纤模场直径的数值。本文通过改变测试条件,以探究不同参考纤、不同接续损耗对后向散射法模拟单模光纤模场直径的影响。     

关于OTDR在通信工程中的应用

本文详细的介绍了OTDR在通信工程里面的具体使用情况,详细的分析了OTDR在连续时以及光缆工程出现问题时的应用.当然也结合了OTDR测试图像研究了非熔接损耗产生的原因,给OTDR的使用人员带来一些实际的参考.     

光纤接续施工中减小光纤接头熔接损耗的方法

光纤接头熔接损耗是光纤熔接后光线传到接头处产生的损耗。在光纤熔接中要减小光纤线路损耗首先要降低光纤接头熔接损耗 ;从理论上分析了影响熔接损耗的一些主要因素 ,如光纤的模场直径不一致等 ,根据理论分析和实践提出了减小熔接损耗的方法就是消除这些影响因素 ;介绍了测量熔接损耗所采用的远端环回双向测量法。     

弯曲损耗不敏感单模光纤1310nm处模场直径测试方法比对分析

本文通过实验的方法分析研究了不同高阶模滤除条件对ITU-T G.657.A2、A3和ITU-T G.657.B3类光纤模场直径测量结果的影响。实验表明,采用22m试样光纤的测试条件或采用将2m标准的G.652光纤熔接在2mG.657试样光纤上,并在标准的G.652光纤上绕两个40mm半径圈的测试条件均可以准确测试G.657.A类包括A3类和G.657.B类光纤在1310nm处的模场直径。采用其他不同的弯曲半径或通过绕更多圈的滤除高阶模的方法并不总能够有效滤除G.657.A类包括A3类和G.657.B类2m试样光纤中的高阶模。特别是弯曲性能好且λc≥1310nm的G.657光纤,1310nm处模场直径测试的结果会受高阶模影响,并导致实测值比正确值偏小。为了避免高阶模的影响,推荐采用22m试样光纤测试条件或采用将2mG.652光纤熔接在2mG.657试样光纤上,并在G.652光纤上绕两个40mm半径圈的测试条件测试G.657光纤1310nm处模场直径。     

单模光纤连接损耗研究

根据测量和计算,分析了单模光纤模场直径(MFD)对连接损耗的影响,讨论了用光时域反射仪(OTDR)测量单模光纤连接损耗的结果。     

G.657光纤熔接和熔接损耗测试

在G.657.A2光纤推广和使用过程中,熔接和熔接损耗的测试出现了比较突出的问题或认识误区,本文分别针对"黑线"和"晕环"现象、熔接参数调整、OTDR测试熔接损耗"大正大负"等方面的问题进行了解释和汇总。     

在最小二乘法模式下幻峰对OTDR测试光纤接头损耗的影响

描述了幻峰及其对OTDR测试光纤线路的影响,重点从理论上分析了OTDR在“最小二乘法”模式下的工 作原理,并对OTDR在“最小二乘法”模式和“两点法”模式下测试光纤接头损耗进行了比较。     

1.47μm LD泵浦掺铒光纤放大器的实验研究

本文报道了采用国产器件进行的1.47μm激光二极管(LD)泵浦的掺铒光纤放大器的实验结果。采用模场匹配技术使标准单模光纤(MFD=9.125μm)与掺铒光纤(MFD=3.88μm)之间的熔接损耗降至0.2dB。研究了放大器的增益特性,获得了24dB的小信号增益。     

Air-guiding photonic bandgap fibers: spectral properties, macrobending loss, and practical handling

For development of hollow-core transmission fibers, the realizable fibers lengths, bandwidth, characterization, and compatibility with standard technology are important issues. We report record-length air-guiding fiber, spectral properties, splicing, and optical time domain reflectometer (OTDR) measurements. Furthermore, spectral macrobending loss measurements for two different designs of air-core photonic bandgap fibers are presented. While bending loss is observed, it does not limit operation for all practical bending diameters (>5 mm).     

光时域反射仪在有线广播电视网络中的应用

介绍光时域反射仪的工作原理、测试故障点的分析，重点介绍接头损耗的计算和分析方法，提出在使用光时域反射仪时要注意的几个问题。     

Splicing losses between dissimilar optical waveguides

A simple computational formalism has been derived for the analysis of splicing and return losses between different optical waveguides. It has been found that the splicing loss can be approximated by the overlap integral method as long as total reflectance is negligible. The reciprocity of splicing loss between two single-mode waveguide is theoretically confirmed while return loss is found nonreciprocal. The return loss can be tolerably approximated by simple Fresnel formula except near the resonance. When close to the resonance, the deviation from Fresnel approximation is found to be strongly dependent on the structure of the waveguide and the refractive index difference between the core and clad     

Characteristics of thermally expanded core fiber

Thermally expanded core (TEC) fiber is expected to reduce fiber-to-fiber and fiber-to-laser diode connection loss. This paper describes the characteristics of TEC fiber theoretically and experimentally. We reveal theoretically that when fabricating TEC fiber the mode field diameter (MFD) is enlarged more effectively by increasing the heating temperature rather than the heating time. In the 1300-1600°C temperature range with heating times between 0 and 60 min, it is necessary to control the temperature accurately so that no deviation from the target temperature is more than ±30°C. This is in order to ensure that any connection loss caused by MFD mismatch is less than 0.1 dB. We show experimentally that the propagation loss of TEC fiber is dependent on the heating region and wavelength by using a micro burner with a propane/oxygen flame. Based on the relationship between the loss characteristics and the expanded MFD, we suggest a method for nondestructively measuring the MFD in TEC fibers     

一种改进的小波去噪方法在OTDR中的应用

光时域反射仪(OTDR)测试中,系统链路噪声严重影响测试准确度,尤其是对于0.05~0.2 dB熔接损耗的准确检测,需要提高测试曲线的信噪比。根据OTDR波形特点,在小波阈值去噪的基础上提出一种改进的小波去噪方法,改进阈值利用对数函数的非线性并引入噪声方差,更利于滤除噪声;改进阈值判断函数留下原始数据细节并滤除噪声,且不改变反射事件和非反射事件的波形属性。实际测试表明:测试曲线相对信噪比提升了10 dB以上,去噪后配以曲线平滑滤波和恒虚警(CFAR)检测,准确检测出熔接事件。     

基于OTDR技术的高压输电导线断股和损伤检测

为了保证高压输电线路的正常运行,及时准确地 对输电导线的断股、损伤进行检测,提出了一种应用光 时域反射仪(OTDR)技术对输电导线断股、损伤进行分布式光纤传感检测的方法。基于OTDR技 术搭建了利用钢管模拟输电导线的模拟损伤试验系统,进行了高压输电导线断股、损伤 实物试验。高 压输电导线断股、损伤模拟试验及实物试验的结果表明,应用OTDR技术可以有效地识别出高 压输电导线的断股、损伤,并能够对损伤部位进行精确地定位。