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波束宽度是衡量参量阵声呐性能的重要技术指标之一,在设计时应该对其正确掌握,以保证整机性能.文章以圆形活塞换能器形成的参量阵声场为例,利用维斯特维尔特(Westervelt)理论和Khokhlov-Zabolotskaya-Kuznetsov(KZK)方程分别计算了参量阵声场波束宽度,通过试验验证了KZK数值计算用于分析波束宽度的准确性及对远近场的适应性,并指出利用Westervelt理论计算参量阵声源波束宽度的不足。然后通过仿真,分别分析了频率、吸收系数、阵长与参量阵波束宽度间的关系,并从物理意义上解释了阵长对参量阵声场波束宽度的影响。 相似文献
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本文给出超声半波长圆锥形聚能器的全部设计参量的数学表达式。详细分析了这类聚能器的性能特征,并利用Apple─Ⅱ计算机以及日本制SR6602绘图仪给出设计程序,输出结果将以图展现。 相似文献
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针对机电液系统运行过程中对性能可靠性分析及其评价方法的迫切需求,分析了机电液系统多能域参量在负载工况和动力源联合作用下的耦合机理,在建立机、电、液各子系统内部耦合效应作用链的基础上,提出机电液系统动能刚度分析方法,揭示了多源变参量作用下系统动能刚度的变化规律。以典型机电液系统——变转速泵控马达系统为研究对象,建立了其数学模型,分析了系统多能域参量对其运行状态的影响机制,阐明了动能刚度的物理意义以及对机电液系统运行性能评价的重要意义;通过机电液系统多源信号的变化率特征计算运行过程中的动能刚度角,并以此衡量动能刚度大小。在此基础上,研究动能刚度的变化规律。理论分析与实验验证均表明:动能刚度是机电液系统内部多参量的耦合效应,随多能量域参量变化;根据激励源不同,动能刚度分为正向刚度与逆向刚度,可以分别作为系统抵抗动力源变化和负载工况扰动性能的评价指标参数;在线检测并控制系统动能刚度的"刚-柔"匹配过程可以有效保障机电液系统运行性能的可靠性。 相似文献
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基于C 楞瓦楞纸板动态本构模型,建立了C 楞瓦楞纸板包装系统动力学模型。借助三维冲击谱、破损边界曲面的概念,利用Rnuge-Kutta 算法,研究了C 楞瓦楞纸板缓冲包装系统在矩形波冲击下,不同阻尼、线性参量、正弦参量、正切参量对C 楞瓦楞纸板包装系统易损件冲击谱和破损边界的影响。计算结果表明:C 楞瓦楞纸板缓冲性能受阻尼系数、线性参量、正弦参量及正切参量的制约,且对C 楞瓦楞纸板缓冲包装系统的冲击谱和破损边界有显著影响。 相似文献
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文章通过分析超声清洗技术的原理、特点及其所具有的环保优势,并将超声清洗技术与其它清洗技术进行对比,阐述了超声波清洗在替代ODS清洗工艺技术中的独特作用;通过分析影响超声清洗效果的主要因素,如超声的声强、频率和声场分布,清洗液的粘滞系数、表面张力和流动性,清洗介质的理化性质与清洗能力等,提出了确定超声空化强度和选择清洗介质的基本原则;介绍了超声清洗方式的分类与选择,以及用超声清洗技术替代ODS清洗技术时应该注意的一些问题,指出大功率超声参量与清洗介质物理化学性能参量之间的相互作用对清洗效果有着重要的影响。 相似文献
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基于虚拟仪器技术的移动电站电参量动态测试仪 总被引:2,自引:0,他引:2
介绍了基于虚拟仪器技术的移动电站电参量动态测试仪的组成,并对移动电站电参量测试的原理进行了详细分析,提出了解决方案,实现了电压、电流有效值以及频率、功率因数的快速、高精度测量,采用虚拟仪器开发平台来代替传统仪器组成移动电站电参量动态测试仪,不仅具有简单、实用的特点.而且可以满足移动电站测试中对电压有效值、频率等瞬态量的动态测量要求. 相似文献
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在考虑爆轰波与孔壁相互作用及孔壁的可压缩性等主要因素情况下,根据爆轰理论和流体动力学原理,建立了计算偶合装药点起爆时孔壁动态初始参量的物理模型,给出了计算公式。计算了中等威力炸药(如2#岩石炸药、乳化炸药和水胶炸药)在混凝土中爆炸时孔壁动态初始参量(如初始冲击波压力、速度等值),得到了自起爆点开始沿炮孔长度方向各参量的变化规律、并得出了一些有意义的结论。 相似文献
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本分析了微处理器进行交流均匀采样计算工频电参量引起的误差来源,并给出一种使用单片机80C196KC实现高精度测量多路交流电参量的方法。 相似文献
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用丝束电极研究防锈油的防护性能 总被引:5,自引:1,他引:4
用丝束电极研究了防锈油的电阻分与其防护性能的关系。结果表明:(1)油膜电阻分布不均匀;(2)低阻区电极数几率小的防锈性能好,用低阻区电极数几率评价防锈油的防护结果,结果与显色试验基本一致,低阻区的电极数几率是评价油膜防护性能和一个重要的电化学参量。 相似文献
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本文对二次应力存在时的修正J积分参量进行了较全面的介绍和总结,用有限元法对各修正J积分的守恒性及其相互关系进行了比较和讨论,结果表明J′积分是适用于二次应力存在的具有明确物理意义的最普遍有效断裂参量,并建立了相应的J积分断裂准则 相似文献
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分振幅斯托克斯参量的椭偏测厚方法 总被引:2,自引:0,他引:2
为了实现对纳米级薄膜的快速测量,运用了基于分振幅斯托克斯参量测量的椭偏测厚的方法,对该方法中的原理.计算和参量测量方法进行研究,并构建了实验系统.首先,设计了一个光路在同一平面上的分振幅斯托克斯参量测量装置,用偏振片和1/4波片组合产生已知的偏振态来定标该装置,用4个性能一致的光电探测器实现快速测量光束的斯托克斯参量.然后用实验系统测量纳米级薄膜样品的入射和反射偏振光的斯托克斯参量,求得椭偏参量ψ和Δ,再求得薄膜样品的厚度d和折射率n.讨论了斯托克斯参量测量的误差问题,最后与常用的消光法椭偏仪作了对比测量实验.测量结果与椭偏消光法比较,d和n的相关系数均大于85%,说明两仪器有很好的一致性.实验研究表明,该方法通过测量入射光和反射光的偏振态,能快速测量纳米级薄膜的参数.系统构建容易,调节方便,定标简单. 相似文献