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随着供电负荷的不断增长,电气设备发生热故障导致的事故不断发生,这时,红外检测技术早发现、早处理的功能不仅减少了电气设备热故障的发生,还使得电气设备更稳定地运行,并且延长了设备的使用寿命。本文探究红外检测技术在预测和处理电气设备热故障起到的作用,提出电气设备热故障的类型和解决办法。 相似文献
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基于视频图像的电力设备缺陷检测技术是实现电力智慧运维的关键技术之一,可解决电力设备故障自动诊断、主动预警和在线运维中存在的外部缺陷智能识别问题,减少人力资源浪费,提高电力系统巡检智能运维的频率与效率,从而弥补传统输变电设备巡检运维方式的不足。该文详细综述了当前典型的基于视频图像的输变电设备缺陷检测算法及图像处理技术,分析了传统图像处理方法及深度学习方法在电力设备缺陷检测领域应用的优缺点,总结了当前算法应用及开发平台的现状,指出了基于视频图像的输变电设备缺陷检测技术存在的问题,并展望了未来发展方向。 相似文献
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随着我国社会经济的不断发展和科技水平的不断进步,电网涉及的范围愈加广泛和密集。智能设备和电子设备产量的不断增多,使得人们对电子产品的使用频率越来越高,对电力的需求也逐渐增加。因此,保证电力系统供电的稳定和可靠,是发电厂最主要的工作内容。对于火力发电厂,电力继电保护故障是影响电力稳定供应的重要因素。文章从火力发电厂电力继电保护故障的检测和维修方法两方面进行分析和论述。 相似文献
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我国红外诊断技术的现状与展望 总被引:15,自引:4,他引:11
评述了红外诊断技术在我国电力电子,石油化工等工业设备故障诊断,热设备和建筑物热损耗诊断,材料及结构件加工缺陷无损检验和医疗诊断等领域的应用情况和发展水平,并对这一技术的进一步发展提出了一些看法。 相似文献
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周洋 《电子元器件与信息技术》2022,(11):231-234+239
对于电力计量故障检测而言,以前一直都是人工负责,但人工操作不仅工作效率不高,检测准确性也难以得到保障。为了解决人工操作存在的各种缺陷,等到大数据时代到来后,该项工作就应用了大数据技术,这样既可以实时监测电力计量装置运行情况,还可以增强电力计量工作效率,检测准确率也能获得发展,而且可以控制故障出现概率,同时可以提升检测智能化。基于此,本文对电力计量装置故障智能化检测技术进行了研究,希望可以给相关人士以参考。 相似文献
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带电检测电缆终端以及变压器等电气设备时,可以将设备内部缺陷致使的局部放电缺陷有效并及时的查找出来,以免设备内部局部放电缺陷引发更大的运行事故与故障.本文主要针对某区域某变电站(220kV)中电缆终端设备带电检测局部放电现象的实例进行分析,并探讨超声波定位结果、超高频局放检测以及高频局放检测,通过气象色谱方法来分析设备可疑部位SF6气体的气体分解产物,以便将断路器内部缺陷与故障及时推测出来,最终解体检查该断路器,发现断路器内部存在有多处的放电缺陷,该实例表明电缆采用高频局部放电检测方法是有效并可行的. 相似文献
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Tamara Pippert 《电子设计技术》2007,14(1):94-94
球栅列阵封装的日益发展和流行给制造商和设备供应商不断带来了新的挑战.由于隐藏焊点数量高,通过视觉检测或者电气检测无法检测缺陷,因此需要使用其它检测技术. 相似文献
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本文通过对电力继电保护故障的特点进行分析,对常见电力继电保护故障进行挖掘,找出了多种继电保护故障的检测及维修办法,并如何减少电力继电保护故障的发生提出了一些看法. 相似文献
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电气设备是故障多发装置。利用红外测温仪或红外热像仪能够检测出设备发热异常部位并确定其表面温度,再结合红外诊断标准便可对异常设备的故障严重程度进行判别,从而实现对电气设备的故障诊断。针对电气设备控制箱电气元件的发热缺陷,利用ST80+红外测温仪与FLIR E320红外热像仪进行了温度监测,并通过运用表面温度法和相对温差法进行故障严重程度诊断,对两种设备监测诊断的差异进行了分析。结果表明,利用红外热像仪能较准确地监测诊断出电气元件的过热缺陷,利用红外测温仪能检测出多数控制箱电气元件过热缺陷,但对部分缺陷的严重程度等级判别低于热像仪的判别结果。 相似文献
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在带电状态下对设备过热故障进行有效检测是非常重要的。红外线测温技术是一种诊断电气设备和线路热故障的有效先进技术。阐述了带电设备发热和异常原因和红外线测温仪器的基本工作原理。给出了运用红外线测温技术的注意事项。 相似文献
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随着亚10 nm集成电路芯片逐步进入消费电子、互联硬件、电子医疗设备等领域,由半导体制造设备所引入的晶圆缺陷对集成电路在良率与价格方面的影响将不断显现,由此带来的对典型缺陷进行高速识别、定位与分类等制造过程控制环节,将变得越来越具有挑战性。传统的晶圆缺陷检测方法包括明场、暗场及电子束成像方法,尽管能够覆盖绝大多数缺陷检测场景,但难以在检测精度、检测灵敏度和检测速度上取得较好的平衡。纳米光子学、计算成像、定量相位成像、光学涡旋、多电子束扫描、热场成像以及深度学习等新兴技术的出现,在提升缺陷灵敏度、分辨率以及对比度等方面已初步展现出一定的潜力,这为晶圆缺陷检测提供了新的可能性。因此,本综述将从缺陷的可检测性、缺陷检测系统与原理样机、先进图像后处理算法三个方面总结晶圆缺陷检测领域的最新进展,以期对初入该领域的研究人员和跨学科工作者提供一定助益。 相似文献