近场扫描仪电场强度校准方法探讨

电磁场测量系统由近场探头和频谱分析仪组成。近场探头拾取电磁场信号,预放及适配后传输给频谱分析仪,计算机对频谱分析仪测得场强和位移数据处理后显示电磁场分布图。本文仅讨论电场探头,频率范围为(0.01~6)GHz,电场强度为(20~1000)V/m,允差限为±3.0dB。由于移动定位系统指标可使用标准刻度板或标准集成电路板校准.     

薄层色谱扫描仪检定方法的研究

根据薄层色谱扫描仪计量溯源空白的现状,探寻一套简单适用的检定方法,并详细介绍检定过程,给相关使用单位和计量检定部门提供一定的技术指导.     

放射性薄层扫描仪检测用参考源研制与性能测试

采用半衰期较长、能量与PET-CT常用核素18F接近的137Cs核素,设计制作用于放射性薄层扫描仪检测的参考源,其中纯度检测参考源的活度量级为105 Bq,最小分辨距离检测参考源活度量级为104 Bq.实验表明:该参考源适用于检测放射性薄层扫描仪.检测结果显示,对于活度所占比例相差较大的样品,放射性薄层扫描仪的测量准确...     

定氮仪校准方法探讨

本文介绍了定氮仪的作用、工作原理及结构,对其操作步骤及性能要求做了规定,探讨了校准项目和校准方法,为定氮仪的计量校准提供了方法和依据。     

定氮仪校准方法探讨

本文介绍了定氮仪的作用、工作原理及结构,对其操作步骤及性能要求做了规定,探讨了校准项目和校准方法,为定氮仪的计量校准提供了方法和依据。     

熔接规校准方法探讨

本文对熔接规测试原理进行了分析,并详细介绍了校准过程各参数和所需要的标准器。     

薄层色谱扫描仪波长示值误差校准方法

正薄层色谱扫描仪的校准,现阶段没有国家检定规程或校准规范,只有地方检定规程,如河北省出台的地方检定规程JJG(冀)059-2004《薄层色谱扫描仪检定规程》。此外生产厂家也提供针对自身仪器波长的内部校准方法。一、波长示值误差校准方法现状分析JJG(冀)059-2004对仪器波长示值误差校准提供     

在线测汞仪校准方法探讨

通过对在线测汞仪结构分析,对仪器示值误差、测量重复性、零点漂移、量程漂移等技术指标提出了校准方法。依据此校准方法可以评价在线测汞仪仪器性能。     

工业微机控制软件校准方法探讨

我公司于1999年12月通过了质量体系认证审核。为了符合质量认证要求,公司对黄化工序微机控制软件制定了严格的校准方法,经过实际运行,效果良好。既符合ISO9000质量认证要求,又提高了黄化微机计量准确度与控制准确度,满足了工业生产的需要。一、根据工业微机控制或测量的参数,一般有以下校准项目:1.温度转换显示单元。2.压力转换显示单元。3.其它转换显示单元。以直流电压、电流和电阻作为模拟电信号输入的,亦可参照执行。二、对温度、压力转换显示单元基本误差的校准1.在工业微机自控系统中,温度的计量多数以铂电阻为一次元件;压力的计量…     

一种在片薄膜铂电阻温度传感器的校准方法

在片薄膜铂电阻温度传感器以铂作为感温薄膜,采用半导体工艺制造,可以有效地监测晶圆片上的半导体器件温度。为了校准该类型温度传感器,根据其工作原理和结构特点,参考JJG 229-2010对校准装置的要求,提出了一种利用高低温探针台、八位半数字多用表以及直流探针组建校准装置的方法;通过组建校准装置,测量温度传感器在不同温度下的电阻值,得到电阻-温度特性的分度表;并对在片薄膜铂电阻温度传感器在25℃和125℃2个温度点进行校准。校准数据及校准结果验证表明,该方法切实可行,可有效解决无连接引线的在片铂薄膜电阻温度传感器的校准问题。该校准技术也可为其他类型感温元件的在片温度传感器校准提供参考依据。     

温室气体监测用四氟化碳标准气体气相色谱分析方法及定值方法的研究

叙述了温室气体监测用四氟化碳(CF4)标准气体气相色谱的实验方法和条件,给出了气相色谱分析方法的精密度和实验结果。该方法重现性好,分析结果准确可靠。     

平面色谱图的摄制

本文介绍了平面色谱中薄层色谱和纸色谱的色谱图摄制的原理、摄影器材和试验仪器,并阐述了使用不同种类照相机拍摄可见光和紫外荧光色谱图的技术,以及色谱图的冲印、打印、扫描和计算机检视与检索技术。     

薄膜太阳电池缓冲层硫化镉的制备

采用操作简单的化学水浴法(CBD)在普通载玻片上制备了太阳能电池用缓冲层硫化镉薄膜。通过改变反应温度、溶液p H值和退火温度等实验条件,探讨了硫化镉薄膜的最佳制备工艺条件,并利用X射线衍射仪、紫外-可见-分光光度计和电化学工作站对生成的薄膜样品进行了表征。结果表明,制备均匀性好、致密、覆盖度好的硫化镉薄膜的最佳实验条件如下:反应温度为70℃,溶液p H值为10,且后续在350℃温度下进行热处理1 h。此条件下得到的硫化隔薄膜的可见光透过率较高,具有明显的光电导现象;通过计算,最优实验条件下获得薄膜的禁带宽度为2.3 5 e V,与理论值2.42 e V很接近。     

Diffuse Reflectance Spectroscopy; Applications,Standards, and Calibration (With Special Reference to Chromatography)

The multitude of areas in which diffuse reflectance spectroscopy can be applied has been described in several books and reviews and ranges from color measurements of textiles, pharmaceuticals, building materials, paper and pulp materials etc., to adsorption studies and other basic investigations in physical, inorganic and organic chemistry.The major area of application is still the measurement of color which has become indispensible in the quality control of colored products, dyes and pigments. Color matching practices and techniques with sophisticated instrumentation which can be fully computerized as well as the use of simpler filter instruments for quality control are mentioned.Transferability of reflectance data i.e., color coordinates, depends on the quality of standards particularly when absolute measurements are desired. The difficulty of finding suitable “white standards” with good reflection properties at low UV and with a good long term stability is discussed. Similar arguments hold for sphere coating materials. For the measurement of fluorescing surfaces suitable standards are lacking which renders transfer of such data almost impossible.The usefulness of diffuse reflectance techniques to study adsorption phenomena on small particle adsorbents is demonstrated with a malachite green-o-carboxylic acid lactone system studied by Kortüm. This or similar systems could be adopted to the measurement of relative surface areas on certain chromatographic adsorbents yielding more realistic values than the BET-method.The most recent area of application has been in the field of chromatography for the in situ evaluation of chromatographic zones in flat-bed chromatography, electrophoresis and isoelectric focusing.In chromatography, standardization is less problematic since usually relative measurements are sufficient. On the other hand one has to find suitable calibration procedures. The use of the Kubelka-Munk function is often questionable since we are usually not dealing with layers of infinite thickness and below 300 nm the conventional adsorbents such as silica gel, alumina or cellulose are strongly absorbing. Experiences with a new function combining the laws of Kubelka-Munk and Lambert-Beer are therefore presented.The problem is also to find calibration techniques which account for chromatographic parameters. Until recently it was believed that a quantitative evaluation of chromatograms required a number of reference zones to be developed on the same chromatogram. In our experience this is no longer true. A novel calibration technique which utilizes the concept of transferable calibration factors is discussed. With this approach a quantitative evaluation of a chromatogram with only one reference spot is possible. Here again scanning and data acquisition can be fully automated. The application of proper calibration procedures to differential reflectance techniques and the measurement of multi-component systems is briefly mentioned.Finally it is demonstrated that it is possible to carry out in situ quantitative measurements on low UV absorbing compounds (down to 190 nm) separated on silica gel surfaces, provided suitable techniques and instrumentation are used.     

AFDX仿真器10M工作模式校准方法研究

为了解决航空全双工交换式以太网(AFDX)仿真器在10M传输速率模式下的校准问题,针对10Mbit/s波形特征,提出了波形参数、端接特性校准项目及校准方法,对开展AFDX仿真器的周期校准具有指导意义。     

汞灯辅助MOCVD SnO2薄层晶体的结构与透明导电性研究

采用x—射线衍射(XRD)、高能电子衍射(RHEED)、扫描电子显微镜(SEM)和紫外可见吸收谱(UV)等技术研究了在汞灯(ML)辅助下进行有机金属化学气相沉积(MOCVD)所得本征及掺杂SnO_2薄层晶体的结构和透明导电性。实验指出,采用汞灯辅助有机金属化学气相沉积(ML-MOCVD)SnO_2薄层晶体比无汞灯辅助的有机金属化学气相沉积(MOCVD)膜层生长速度快,结晶粒度大且其透明导电性能更好。本文对ML-MOCVD SnO_2薄层晶体的结晶粒度与生长温度的关系、掺杂对结晶取向的影响以及可见光透过率、导电性能等进行了较详细的研究。结果指出,ML-MOCVD是获得透明导电优质薄层SnO_2晶体材料的最佳途径。     

ARINC825总线校准方法研究

为解决航空ARINC825总线设备在高速传输模式下的校准问题,针对总线发送与接收特性提出了校准项目及方法,通过常用标准器将总线设备的各项参数溯源至国家基准,达到确保总线端口参数量值统一的目的,并且为ARINC825总线设备的校准提供方法依据。     

锁相放大器的校准方法

介绍了锁相放大器的一种校准方法.讨论了锁相放大器的相敏特性、满刻度灵敏度和本机噪声、动态储备、动态范围以及时间常数参数的校准实现方法,结合校准系统对典型参数的测量不确定度进行了评定.     

表面活性剂丁二酸二异辛酯磺酸钠含量测定方法研究

本文根据色谱法原理,用薄层色谱与柱色谱相结合,定量分离出表面活性剂丁二酸二异辛酯磺酸钠,然后加碱皂化求出其含量。该法对本表面活性剂的生产控制和应用研究是很有实际意义的。