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相似文献
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1.
新世纪光刻技术及光刻设备的发展趋势   总被引:13,自引:0,他引:13  
本文主要阐述了光刻技术的发展极限及193nm,157nm光学光刻技术和电子束投影光刻(SCALPEL)、X-射线光刻(XRL)离子投影光刻(IPL)等技术的发展趋势。并详细介绍了国际著名品牌的光刻机以及即将推出的新一代光刻机。对国内光刻设备的发展现状作了简要概述。  相似文献   

2.
7年前,贝尔实验室的物理学家发明了原子光刻技术,即使用中性原子代替光在表面刻蚀图形,目前已在世界范围内进行研究。尽管在工业上得到应用还需一段时间,但使科学家们感兴趣的是该技术提供了一个可以将现有依赖于光的光刻方法制造的芯片面积缩小10倍的方法。  相似文献   

3.
21世纪微电子光刻技术   总被引:1,自引:0,他引:1  
姚汉民  刘业异 《半导体技术》2001,26(10):47-51,73
介绍了248nm,193nm,157nm准分子激光投影光刻的发展过程和下一代光刻技术(NGL)的实用化前景。  相似文献   

4.
0.1μm线宽主流光刻设备—193nm(ArF)准分子激光光刻   总被引:2,自引:0,他引:2  
阐述了可实现 0 1μm线宽器件加工的几种候选光刻技术 ,对 193nm(ArF)准分子激光光刻技术作了较为详细的论述 ,指出其在 0 1μm技术段的重要作用 ,并提出了研制 193nm(ArF)光刻设备的一些设想。  相似文献   

5.
极紫外光刻光源   总被引:2,自引:0,他引:2  
邱孟通  P.C hoi 《半导体技术》2006,31(6):406-408,417
分析了极紫外光刻技术作为下一代光刻技术的首选技术目前飞速发展阶段的状况,表明欧、美、日、俄等国家和地区在该领域集中了大量的人力、物力的目标是将光刻精度提高到50nm.指出了极紫外光源是极紫外光刻的核心设备,目前的主要研究方向是提高能量转换效率和输出功率,提高系统各部分的寿命,降低成本等.  相似文献   

6.
简要回顾了光学光刻技术的发展历程,从IC技术节点微细化要求对光刻技术的挑战方面讨论了光学光刻技术的发展趋势及进入32nm技术节点的可能性。  相似文献   

7.
光刻技术在微电子设备的应用及发展   总被引:7,自引:0,他引:7  
介绍了光刻技术在微电子领域的应用,具体分析多种短波长光刻技术的最新进展,并对在0.1μm之后用于替代光学光刻的下一代光刻技术的发展趋势作了展望.  相似文献   

8.
1.引言由于在过去的几年里人们在极紫外光刻技术发展方面做出了巨大努力,使用极紫外光刻制作0.1μm分辨率的器件的可行性已令人信服地得到证实。人们对今后八年时间内即2004年前制作出0.1μm线宽的指标充满信心。这种线宽要求能够制作出分辨率为0.1μm的图案,并且具有高产量的样机系统。  相似文献   

9.
普通的光刻技术是在硅片的一面利用光刻胶的保护作用,对SiO_2进行选择性化学腐蚀,从而在SiO_2层上得到与光刻掩模版相应的图形.双面光刻技术则是在硅片的上下两面同时刻蚀对准的图形,我厂在将单面光刻机改装成双面光刻机上已做出样片,并能投入小批量的  相似文献   

10.
简述了光学光刻技术在双重图形曝光、高折射率透镜材料及浸没介质、32nm光刻现状及22nm浸没式光刻技术的进展,指出了光学光刻技术的发展趋势及进入22nm技术节点的前景。  相似文献   

11.
对于013μm以下几何作图,离子投影光刻是一种适用的技术。该技术没有光学衍射局限性和电子光刻接近效应,并能使几何图形缩减,进行动态畸变校正。欧州的研究计划正在寻求解决IPL方面的技术难题。  相似文献   

12.
13.
分析了IC业的众多特点,例如从90nm向65nm、45nm、32nm、22nm等拐点演进的困难,以及ESL、DFM拐点,制造是设计的拐点,FPGA与ASIC之间的拐点等热门问题.  相似文献   

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1 瑞士推出一种新颖的高分辨率光刻技术  瑞士苏黎世IBM实验室的研究人员已研制出一种十分简单的光学光刻技术 ,它可以印制比所用光波长 1 / 2还要小的特征尺寸。无需复杂而又昂贵的聚焦光学系统。含有图形的“光图章”直接置于晶片上 ,不同于传统的接触式光刻技术要采用玻璃上铬掩模 ;IBM实验室开发的新方法采用橡胶式掩模 ,与晶片均匀地接触。当光透过这种掩模时 ,将图像传入衬底 ,并在凹进区域被封锁或反射。通过起推进作用的聚焦效应和“光图章”与抗蚀剂间的紧密接触来减小光散射 ,使其与折射率匹配。工作人员采用 2 48nmK…  相似文献   

17.
从特征尺寸的缩小看光刻技术的发展   总被引:1,自引:0,他引:1  
从特征尺寸不断缩小变化的角度阐述了近代光刻技术发展的历程。指出90nm节点的主流光刻技术是193nmArF光刻;193nm浸入式光刻技术作为65nm和45nm节点的首选光刻技术,如果配合二次曝光技术,还可以扩展到32nm节点的应用,但成本会增加;如果特征尺寸缩小到22nm和16nm节点,EUV光刻、无掩模光刻以及纳米压印光刻等将成为未来发展的重要研究方向。在对各种光刻技术的原理、特点以及优缺点等分析对比的基础上,对未来主流光刻技术的发展做了一定的展望。  相似文献   

18.
电子束光刻技术具有极高的分辨率,其直写式曝光系统甚至可达到几纳米的加工能力。本重点对不同的抗蚀剂、电子束/光学系统的混合光刻及邻近效应修正等技术进行了研究。  相似文献   

19.
影响全息光刻图形质量的因素   总被引:1,自引:0,他引:1  
使用矩阵转换方法,对全息光刻中全息掩模衍射效率进行了数值模拟计算,讨论了记录介质显影前后特性的改变和再现时全息掩模复位精度对光刻图形质量的影响,并找出了影响图形质量的主要因素.在此基础上设计了实验系统,最后得到了分辨率基本上只受初始光掩模分辨率限制的光刻图形.  相似文献   

20.
1引言一年半以前,国际SEMATECH财团将光学光刻的接班技术选择缩小到4种:极紫外(EUV)、离子投影光刻(IPL)、限角散射投影电子束光刻(SCALPEL)和x射线光刻技术。已证实,各种技术均具有70nm以下特征尺寸的作图能力。然而,根据下代光刻...  相似文献   

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